在產品開發階段,研發工程師可能會使用信號發生器來替代系統的本地振蕩器(LO)和時鐘子系統。這些措施能有效提升研發效率、降低驗證成本,并確保系統設計的可靠性。
圖 1 展示了一個簡單的接收機示例:當本振和時鐘組件的電路原型尚未完成設計時,可使用 AP500xA 系列信號發生器作為本振和時鐘的替代源。第一臺信號發生器連接至混頻器,充當本振替代源;混頻器的輸出信號隨后通過帶通濾波器,以過濾出目標信號;目標信號經放大后,由模數轉換器(ADC)采樣,再送入現場可編程門陣列(FPGA)進行后續信號處理。
在此場景中,ADC 和 FPGA 的時鐘(由 AP500xA 替代)被配置為不同頻率,通過連接兩者的內部參考振蕩器實現頻率鎖定;若有需要,也可將本振信號發生器與這兩個時鐘源進行頻率鎖定,確保各模塊時鐘的相位一致性。
圖1:AP500x系列射頻信號源用作本振及時鐘替代
使用信號發生器替代振蕩器和時鐘組件的優勢之一,是能通過具有優異信號純度(低相位噪聲和低雜散信號)的信號源驗證系統運行狀態。相位噪聲用于衡量射頻源的頻率穩定性,通常包括長期穩定性(常用百萬分比 PPM 表示)和由信號源內部隨機波動導致的短期穩定性;雜散信號則是不期望的非諧波相關頻率分量。由于雜散和相位噪聲會影響接收機性能,因此選擇如 AP500xA 這類高純度信號發生器,可在系統組件開發階段進行性能對比。圖 2中的表格顯示,AP500xA 在 1 GHz 頻率、20 kHz 偏移條件下的相位噪聲低至 - 130 dBc/Hz。
圖2:AP500x系列射頻信號源的前后面板及參數指標
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原文標題:利用高精度模擬信號源,實現本振/時鐘替代
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