一、輻射發射（RE）

輻射發射（RE）

輻射發射（Radiated Emission，簡稱RE）測試是一種用于評估電子設備通過空間輻射方式向外界發射電磁干擾的測試方法。該測試旨在確保設備在正常運行時不會對其他電子設備或無線通信系統造成有害干擾，符合電磁兼容性（EMC）法規要求。

測試頻率：30MHz~6GHz（部分高頻設備擴展至更高頻率）

目前優恩半導體實驗室可檢測如下測試標準：

CISPR 11、CISPR 22、CISPR 15、CISPR 14-1、CISPR 25

GB 4824、GB 9254、GB/T 17743、GB/T 4343.1、GêB/T 18655

二、傳導發射（CE）

傳導發射（CE）

傳導發射（Conducted Emission，簡稱CE）測試是一種用于評估電子設備通過電源線或信號線向電網或其他設備傳導高頻干擾的測試方法。這種測試旨在確保設備在正常工作時不會對公共電網或其他連接設備造成電磁干擾，符合電磁兼容性（EMC）法規要求。

測試頻率：150kHz~30MHz

目前優恩半導體實驗室可檢測如下測試標準：

CISPR 11、CISPR 22、CISPR 15、CISPR 14-1、CISPR 25

GB 4824、GB 9254、GB/T 17743、GB/T 4343.1、GB/T 18655

三、靜電放電抗擾度（ESD）

靜電放電抗擾度（ESD）

ESD（Electrostatic Discharge）靜電抗擾度測試是用于評估設備在靜電放電干擾下的抗干擾能力的測試方法。這種測試通常用于評估電子設備在靜電放電環境下的可靠性和穩定性，以確保其在面對靜電放電時能夠正常工作。

測試能力：接觸放電、空氣放電±30kV

目前我們優恩可滿足如下測試標準：

GB/T 17626.2

IEC61000-4-2

ISO 10605

四、電快速瞬變脈沖群抗擾度（EFT/B）

電快速瞬變脈沖群抗擾度（EFT/B）

電快速瞬變脈沖群抗擾度（Immunity to Electrical Fast Transient/Bursts，簡稱EFT/B）測試是一種用于評估設備在電快速瞬變脈沖群干擾下的抗干擾能力的測試方法。這種測試主要模擬設備在運行過程中可能遇到的開關動作、繼電器觸點彈跳等引起的瞬態干擾，以確保設備在復雜電磁環境中能夠穩定工作。

測試能力：±4KV

目前優恩半導體實驗室可檢測如下測試標準：

GB/T 17626.4

IEC 61000-4-4

五、汽車電子EMC測試

汽車電子EMC測試

在汽車電子領域，電磁兼容性（EMC）測試是非常重要的，因為汽車內部裝有許多電子設備，而且汽車在使用過程中會受到各種電磁干擾。汽車電子電磁兼容性（EMC）測試主要包含由傳導和耦合引起的電騷擾和電氣電子設備電氣負荷。

由傳導和耦合引起的電騷擾測試能力：脈沖干擾1、2a、2b、3a、3b、5a、5b

電氣電子設備電氣負荷測試能力：過電壓、疊加交流電壓、反向電壓、啟動特性、供電電壓瞬態變化

以下是我們優恩可滿足的測試標準：

ISO 16750-2

GB/T 28064.2

ISO 7637-2

GB/T 21437.2

六、絕緣耐壓測試

絕緣耐壓測試

絕緣耐壓測試是用于評估電氣設備或組件在高電壓條件下絕緣性能的測試方法。這種測試通過施加高于設備額定電壓的測試電壓，驗證其絕緣材料能否承受短期過壓而不發生擊穿或漏電，以確保設備在正常工作或異常情況下的安全性和可靠性。

測試能力：

交流 ：0.05kV~5.0kV、直流 ：0.05kV~6.0kV、絕緣電阻 ：0.1MΩ~50GΩ

目前優恩半導體實驗室可檢測如下測試標準：

GB/T 4943

IEC 60950

七、浪涌（沖擊）抗擾度（Surge）

浪涌（沖擊）抗擾度（Surge）

雷擊浪涌測試是一種用于評估設備在雷擊或電涌等電氣干擾情況下的抗干擾能力的測試方法。這種測試通常用于評估電子設備的可靠性和穩定性，以確保其在面對突發的雷擊或電涌時能夠正常工作。

測試能力：

電流波：8/20μs ：150kA、10/350μs：30kA、10/1000μs：300A

電壓波：1.2/50μs：10kV、10/700μs：10kV

目前優恩半導體實驗室可檢測如下測試標準：

GB/T 17626.5

IEC61000-4-5

八、器件檢測

器件檢測

絕緣耐壓測試是用于評估電氣設備或組件在高電壓條件下絕緣性能的測試方法。這種測試通過施加高于設備額定電壓的測試電壓，驗證其絕緣材料能否承受短期過壓而不發生擊穿或漏電，以確保設備在正常工作或異常情況下的安全性和可靠性。

1.TVS電性參數檢測

2.放電管電性參數檢測

3.壓敏電阻電性參數檢測

4.MOS靜態參數檢測

5.二極管電性參數檢測試

審核編輯 黃宇