DDR=Double Data Rate雙倍速率同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器。嚴(yán)格的說DDR應(yīng)該叫DDR SDRAM，人們習(xí)慣稱為DDR，其中，SDRAM 是Synchronous Dynamic Random Access Memory的縮寫，即同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器。本文首先介紹了DDR工作原理及結(jié)構(gòu)圖，其次闡述了DDR DQS信號(hào)的處理，具體的跟隨小編一起來了解一下。

DDR工作原理及結(jié)構(gòu)圖

DDR的基本原理

有很多文章都在探討DDR的原理，但似乎也不得要領(lǐng)，甚至還帶出一些錯(cuò)誤的觀點(diǎn)。首先我們看看一張DDR正規(guī)的時(shí)序圖。

從中可以發(fā)現(xiàn)它多了兩個(gè)信號(hào)： CLK#與DQS，CLK#與正常CLK時(shí)鐘相位相反，形成差分時(shí)鐘信號(hào)。而數(shù)據(jù)的傳輸在CLK與CLK#的交叉點(diǎn)進(jìn)行，可見在CLK的上升與下降沿（此時(shí)正好是CLK#的上升沿）都有數(shù)據(jù)被觸發(fā)，從而實(shí)現(xiàn)DDR。在此，我們可以說通過差分信號(hào)達(dá)到了DDR的目的，甚至講CLK#幫助了第二個(gè)數(shù)據(jù)的觸發(fā)，但這只是對表面現(xiàn)象的簡單描述，從嚴(yán)格的定義上講并不能這么說。之所以能實(shí)現(xiàn)DDR，還要從其內(nèi)部的改進(jìn)說起。

DDR內(nèi)存芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖

這是一顆128Mbit的內(nèi)存芯片，從圖中可以看出來，白色區(qū)域內(nèi)與SDRAM的結(jié)構(gòu)基本相同，但請注意灰色區(qū)域，這是與SDRAM的不同之處。首先就是內(nèi)部的L-Bank規(guī)格。SDRAM中L-Bank 存儲(chǔ)單元的容量與芯片位寬相同，但在DDR SDRAM中并不是這樣，存儲(chǔ)單元的容量是芯片位寬的一倍，所以在此不能再套用講解SDRAM時(shí) “芯片位寬=存儲(chǔ)單元容量” 的公式了。也因此，真正的行、列地址數(shù)量也與同規(guī)格SDRAM不一樣了。

以本芯片為例，在讀取時(shí)，L-Bank在內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)的觸發(fā)下一次傳送8bit的數(shù)據(jù)給讀取鎖存器，再分成兩路4bit數(shù)據(jù)傳給復(fù)用器，由后者將它們合并為一路4bit數(shù)據(jù)流，然后由發(fā)送器在DQS的控制下在外部時(shí)鐘上升與下降沿分兩次傳輸4bit的數(shù)據(jù)給北橋。這樣，如果時(shí)鐘頻率為100MHz，那么在I/O端口處，由于是上下沿觸發(fā)，那么就是傳輸頻率就是200MHz。

現(xiàn)在大家基本明白DDR SDRAM的工作原理了吧，這種內(nèi)部存儲(chǔ)單元容量（也可以稱為芯片內(nèi)部總線位寬）=2×芯片位寬（也可稱為芯片I/O總線位寬）的設(shè)計(jì)，就是所謂的兩位預(yù)取（2-bit Prefetch），有的公司則貼切的稱之為2-n Prefetch（n代表芯片位寬）。

DDR DQS信號(hào)的處理

一、DDR 1&2&3總線概覽

DDR全名為Double Data Rate SDRAM ，簡稱為DDR。現(xiàn)在DDR技術(shù)已經(jīng)發(fā)展到了DDR 3，理論上速度可以支持到1600MT/s。DDR總線走線數(shù)量多，速度快，操作復(fù)雜，探測困難，給測試和分析帶來了巨大的挑戰(zhàn)。

DDR本質(zhì)上不需要提高時(shí)鐘頻率就能加倍提高SDRAM的速度，它允許在時(shí)鐘的上升沿和下降沿讀出數(shù)據(jù)，因而其速度是標(biāo)準(zhǔn)SDRAM的兩倍。至于地址與控制信號(hào)則與傳統(tǒng)SDRAM相同，仍在時(shí)鐘上升沿進(jìn)行數(shù)據(jù)判斷。

目前，許多計(jì)算機(jī)使用時(shí)鐘頻率為533MHz的DDR2內(nèi)存，更先進(jìn)的DDR2內(nèi)存正在日益普及，它的時(shí)鐘頻率在400 MHz-800 MHz之間，新的DDR3內(nèi)存的時(shí)鐘頻率則可以工作在800MHz-16OOMHz之間。DDR3內(nèi)存芯片還有另外一個(gè)長處：更低的能耗，它的運(yùn)行電壓是1.5伏，低于DDR2內(nèi)存芯片的1.8伏和DDR1內(nèi)存芯片的2.5伏。在使用電池的設(shè)備中能夠延長電池續(xù)航時(shí)間，因?yàn)槟芎牡停a(chǎn)生的熱量也就少，從而對冷卻的要求也就低一些。

DDR 2&3幾個(gè)新增特性的含義是：ODT（ On Die Termination），DDR1 匹配放在主板上，DDR2&3把匹配直接設(shè)計(jì)到DRAM芯片內(nèi)部，用來改善信號(hào)品質(zhì)。OCD（Off Chip Driver）是加強(qiáng)上下拉驅(qū)動(dòng)的控制功能，通過減小DQS與/DQS（DQS是數(shù)據(jù)Strobe，源同步時(shí)鐘，數(shù)據(jù)的1和0由DQS作為時(shí)鐘來判斷） Skew（時(shí)滯）來增加信號(hào)的時(shí)序容限（Timing Margin）。Posted CAS是提高總線利用率的一種方法。AL（Additive Latency）技術(shù)是相對于外部CAS，內(nèi)部CAS執(zhí)行一定的延時(shí)。

圖1是DDR總線的體系結(jié)構(gòu)。其中DQS是源同步時(shí)鐘，在接收端使用DQS來讀出相應(yīng)的數(shù)據(jù)DQ，上升沿和下降沿都有效。DDR1總線，DQS是單端信號(hào)，而DDR2&3， DQS則是差分信號(hào)。DQS和DQ都是三態(tài)信號(hào)，在PCB走線上雙向傳輸，讀操作時(shí)，DQS信號(hào)的邊沿在時(shí)序上與DQ的信號(hào)邊沿處對齊，而寫操作時(shí)，DQS信號(hào)的邊沿在時(shí)序上與DQ信號(hào)的中心處對齊，參考圖2，這就給測試驗(yàn)證帶來了巨大的挑戰(zhàn)：把“讀”信號(hào)與“寫”信號(hào)分開是非常困難的！

圖2中，Addr/Cmd Bus意思是地址/命令總線，都是時(shí)鐘的上升沿有效，其中命令由：/CS（片選），/RAS， /CAS，/WE（寫使能）決定，比如：“讀”命令為：LHLH，“寫”命令為：LHLL等。操作命令很多，主要是NOP（空超作），Active（激活），Write，Read，Precharge （Bank關(guān)閉），Auto Refresh或Self Refresh（自動(dòng)刷新或自刷新）等（細(xì)節(jié)請參考：Jedec規(guī)范JESD79）。Data Bus是數(shù)據(jù)總線，由DQS的上升沿和下降沿判斷數(shù)據(jù)DQ的0與1。

二、DDR 1&2&3總線的信號(hào)完整性測試

DDR總線PCB走線多，速度快，操作時(shí)序復(fù)雜，很容易出現(xiàn)失效問題，為此我們經(jīng)常用示波器進(jìn)行DDR總線的信號(hào)完整性測試和分析，通常的測試內(nèi)容包括：

1，命令信號(hào)的波形和時(shí)序參數(shù)：需要測試/RAS，/CAS，/WE，/CS的信號(hào)品質(zhì)，如Vmax（最大電壓值），Vmin（最小電壓值），Slew Rate（斜率），Ringback（回溝）等；還需要測試相對于時(shí)鐘邊沿的Setup Time（建立時(shí)間）和Hold Time（保持時(shí)間）。測試相對于時(shí)鐘邊沿的建立時(shí)間和保持時(shí)間時(shí)，需要注意參考電平的位置和最差情況波形的捕獲。如圖3的/CS建立時(shí)間和保持時(shí)間的測試就沒有測試出最差的建立時(shí)間和保持時(shí)間值，為此，我們需要用眼圖累積的方式設(shè)法找到最差情況下的建立時(shí)間和保持時(shí)間。

2，地址信號(hào)的波形和時(shí)序參數(shù)：測試內(nèi)容和測試方質(zhì)和相對于時(shí)鐘邊沿的建立時(shí)間和保持時(shí)間的測試。

3，時(shí)鐘信號(hào)的波形和抖動(dòng)參數(shù)：測試建議用差分探頭。波形參數(shù)包括overshoot（過沖），undershoot（下沖），Slew Rate（斜率）或Rise Time（上升時(shí)間）和Fall Time（下降時(shí)間），高低時(shí)間和Duty Cycle（占空比失真）等。時(shí)鐘抖動(dòng)一般只是測試Cycle-Cycle Jitter（周期到周期抖動(dòng)），但是當(dāng)速率超過533MT/s的DDR2&3時(shí)，則測試內(nèi)容相當(dāng)多，不可忽略，下表1是DDR2 667的規(guī)范參數(shù)。這些抖動(dòng)參數(shù)的測試需要用專用軟件實(shí)現(xiàn)。

4，速據(jù)信號(hào)的波形和時(shí)序參數(shù)：DQS（源同步時(shí)鐘）和DQ（數(shù)據(jù)）波形參數(shù)與命令地址測試類似，測試起來比較簡單，但是探測卻比較復(fù)雜和困難。DDR1，DQS是單端信號(hào)，可以用單端探頭測試，DDR2&3 DQS則是差分信號(hào)，建議用差分探頭測試，減小探測難度。DQS和DQ的時(shí)序關(guān)系，即相對的在不同操作條件下的建立時(shí)間和保持時(shí)間關(guān)系則非常復(fù)雜，分析比較困難，圖4是實(shí)際捕獲的DDR2 533 DQS和DQ的波形。從圖中可以看出DQS和DQ的三態(tài)（Tri-state）特征，讀數(shù)據(jù)（Read Burst）和寫數(shù)據(jù)（Write Burst）的DQS和DQ的相對時(shí)序特征。在我們測試時(shí)，只是捕獲了這樣的波形，然后測試出在“讀”“寫”操作時(shí)的建立時(shí)間和保持時(shí)間參數(shù)是不夠的，因?yàn)閿?shù)據(jù)碼型是變化的，猝發(fā)長度也是變化的，只測了幾個(gè)時(shí)序參數(shù)很難覆蓋各種情況，更難測出最差情況。很多工程師花了一周去測試DDR，仍然測不出問題的關(guān)鍵點(diǎn)就在此處。因此我們應(yīng)該用眼圖的方式去測試DDR的讀寫時(shí)序，確保反映整體時(shí)序情況和捕獲最差情況下的波形，最好能夠套用串行數(shù)據(jù)的分析方法，調(diào)用模板幫助判斷。

三、DR 1&2&3 “讀”“寫”眼圖測試

基于DDR“讀”“寫”信號(hào)相位不同的特征，本人設(shè)計(jì)了一個(gè)軟件進(jìn)行“讀”“寫”眼圖的測試分析，軟件使用VEE Pro 7.5設(shè)計(jì)界面，使用VEE Pro內(nèi)嵌的Matlab腳本分析數(shù)據(jù)，基于規(guī)范的AC參數(shù)設(shè)計(jì)模板，幫助工程師進(jìn)行DDR信號(hào)完整性測試分析的最復(fù)雜部分即“讀” “寫”數(shù)據(jù)眼圖的測試分析。

圖5是軟件界面和分析結(jié)果的一個(gè)示例，上面兩福圖形是用戶界面。左邊的是離線分析軟件，用示波器同時(shí)采集DQS和DQ信號(hào)，并且存為*.CSV文件。采集時(shí)，采樣率設(shè)置為20GSa/s，存儲(chǔ)深度設(shè)置為200k以上，確保捕獲足夠的數(shù)據(jù)，同時(shí)被測系統(tǒng)運(yùn)行大型的軟件或MemoryTest.exe工具（此內(nèi)存測試軟件能夠進(jìn)行內(nèi)存總線的加壓測試，一般做系統(tǒng)設(shè)計(jì)的或內(nèi)存設(shè)計(jì)的都有），以讓總線上有足夠多的數(shù)據(jù)，來增加捕獲各種碼型和最差情況的可能性。離線軟件調(diào)用采集的波形，自動(dòng)去掉三態(tài)數(shù)據(jù)，把“讀”數(shù)據(jù)放在一起，把“寫”數(shù)據(jù)放在一起，基于DQS的有效邊沿（去掉預(yù)調(diào)整和后調(diào)整后的上升邊沿和下降邊沿），累積在一起形成眼圖，調(diào)用模板判斷信號(hào)的優(yōu)劣和是否滿足規(guī)范要求。

圖5右上圖是基于Agilent的DSO80000和54850系列示波器的在線實(shí)時(shí)分析軟件界面。需要把軟件安裝在示波器內(nèi)部，或安裝在外部電腦上用LAN或GPIB到USB適配器（82357A）連接到示波器。示波器的通道1探測DQS，通道3探測DQ，被測系統(tǒng)上運(yùn)行大型的軟件或MemoryTest.exe工具。在在線軟件上輸入想重復(fù)捕獲波形的次數(shù)，然后按“starting”進(jìn)行實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的捕獲和實(shí)時(shí)眼圖的分析，軟件會(huì)控制示波器捕獲波形，然后分析數(shù)據(jù)，形成眼圖，調(diào)用模板判斷信號(hào)是否滿足規(guī)范要求，然后重復(fù)下一次捕獲和分析，同時(shí)把新捕獲的波形累積到前面捕獲的波形上面。在線軟件執(zhí)行的算法與離線軟件類似，只是可以自動(dòng)控制示波器，進(jìn)行波形的多次捕獲和分析，并同時(shí)把實(shí)時(shí)捕獲的波形的分析結(jié)果連同以前的結(jié)果一同顯示出來。

圖5下面的兩個(gè)波形是實(shí)際的分析結(jié)果示例，分析的是DDR2 667，測試點(diǎn)是在DIMM內(nèi)存條上。對我們比較有意義的是左邊的“寫”眼圖，它反映的是信號(hào)從北橋發(fā)出，通過主板較長距離傳輸?shù)竭_(dá)DRAM接收芯片的波形，這是我們做系統(tǒng)設(shè)計(jì)和測試時(shí)需要得到的眼圖。右圖則是直接從DRAM芯片發(fā)出的信號(hào)的波形，因?yàn)闇y試點(diǎn)是在DIMM上，所以對我們只有參考價(jià)值：當(dāng)在北橋測試出時(shí)序問題時(shí)，通過此波形的觀察確定是主板設(shè)計(jì)的問題，還是DIMM或DRAM芯片本身的問題。如果測試點(diǎn)在北橋，則我們需要關(guān)注“讀”眼圖，而此時(shí)“寫”眼圖一般只有參考價(jià)值。

這個(gè)DDR“讀”“寫”眼圖分析軟件的算法是什么呢？其實(shí)很簡單，如圖6所示，如果直接用DQS觸發(fā)DQ，則會(huì)形成比較亂的眼圖，但是中間又包括需要的信息，如圖中的紅色圓圈周圍的是“寫”眼圖信息，途中的黃色圓圈周圍則是“讀”眼圖信息。而眼圖之所以亂，是因?yàn)橥瑫r(shí)包括“三態(tài)”信號(hào)和“讀”“寫”信號(hào)，而“讀” 和“寫”信號(hào)的時(shí)序是矛盾的。使用 軟件進(jìn)行分離的處理比較容易：首先，扔掉三態(tài)信號(hào)，保留有用信息，軟件設(shè)計(jì)時(shí)，檢測DQS有效邊沿，離DQS有效邊沿較遠(yuǎn)的信號(hào)就是三態(tài)信號(hào)，扔掉它；然后，根據(jù)建立時(shí)間和保持時(shí)間的關(guān)系把“讀”信號(hào)和“寫”信號(hào)分成兩個(gè)數(shù)據(jù)庫；最后，把“讀”信號(hào)數(shù)據(jù)庫按DQS有效邊沿放在一起形成眼圖，把“寫”信號(hào)數(shù)據(jù)庫按DQS有效邊沿放在一起形成眼圖，分別調(diào)用模板產(chǎn)生測試結(jié)果。

四、DDR 1&2&3 模板定義

DDR規(guī)范沒有定義模板，這給用眼圖方式分析信號(hào)時(shí)判斷信號(hào)是否滿足規(guī)范要求帶來挑戰(zhàn)。為了更容易判斷是否滿足規(guī)范的要求，像分析一般串行信號(hào)一樣分析“讀”“寫”眼圖，本人根據(jù)Jedec規(guī)范設(shè)計(jì)了“讀”“寫”模板。下面以定義“寫”眼圖模板為例，介紹一下模板的設(shè)計(jì)方法。

圖7是Jedec規(guī)范上的時(shí)序和波形參數(shù)，tDS是相對于DQS有效邊沿的建立時(shí)間，tDH是相對于DQS有效邊沿的保持時(shí)間，tDS相對于DQ的AC參數(shù)，tDH則相對于DQ的DC參數(shù)，不過為了測試方面的方便性，我們都可以用AC參數(shù)來定義tDS和tDH。tDS和tDH參數(shù)的測試是DDR的核心測試參數(shù)。

在Jedec規(guī)范上，我們可以查到各種速率的tDS和tDH 的規(guī)范值，比如DDR2 533，tDS 是100ps，tDH 是225ps。我們也可以查到各種速率的AC參數(shù)值，比如DDR2 533：其中，VIH（ac）min是VIH（ac）規(guī)范的最小值，VIL（ac）max是VIL（ac）規(guī)范的最大值，Vref是參考電壓，對DDR1來說是1.25V，DDR2來說是0.9V，DDR3來說是0.75V。

基于tDS和tDH 和VIH（ac）min和VIL（ac）max參數(shù)，我們可以得出DDR2 533“寫”眼圖的模板如圖8示。中間的紅色區(qū)域就是模板，Setup time是tDS建立時(shí)間，Hold time是tDH 保持時(shí)間，VIH（AC）是VIH（ac）min值，VIL（AC）是VIL（ac）max值。中間的黃色線是DQS的有效邊沿即有效的上升沿或下降沿。

嚴(yán)格按規(guī)范的話，中間的模板應(yīng)該定義為橫著的梯形，因?yàn)楸３謺r(shí)間是相對于DC參數(shù)，不過用長方形可以定義一個(gè)更嚴(yán)格的參數(shù)要求。

五、小結(jié)

DDR是需要進(jìn)行信號(hào)完整性測試的總線中最復(fù)雜的總線，不僅走線多、探測困難，而且時(shí) 序復(fù)雜，各種操作交織在一起。本文基于多年的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，提供了一些測試的參考方法，尤其對 “讀”“寫”眼圖的測試方法和模板的定義提出一種創(chuàng)新的觀點(diǎn)，并設(shè)計(jì)軟件實(shí)現(xiàn)了這種方法，希望對主板，DIMM，DRAM設(shè)計(jì)者和測試者有參考價(jià)值。