動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-02-20 12:01

  詳解電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)

  

  可靠性試驗(yàn)是一種通過模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力因素，來評(píng)估電子產(chǎn)品在出廠到使用壽命結(jié)束期間質(zhì)量情況的科學(xué)方法。它能夠在短時(shí)間內(nèi)正確評(píng)估產(chǎn)品的可靠性，主要目的是激發(fā)潛在失效模式，從而為產(chǎn)品的改進(jìn)提供依據(jù)，并最終確定產(chǎn)品是否滿足預(yù)先制定的可靠性要求。可靠性試驗(yàn)的分類如下：按環(huán)境條件劃分模擬試驗(yàn)：通過人工模擬自然環(huán)境中的各種條件，如溫度、

  可靠性試驗(yàn) 模擬產(chǎn)品 電子產(chǎn)品

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• 發(fā)布了文章 2025-02-19 13:20

  歐盟 RoHS 與 REACH 法規(guī)解讀

  

  RoHS指令：電子電氣產(chǎn)品的綠色標(biāo)尺RoHS指令，全稱為《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》，是歐盟為規(guī)范電子電氣產(chǎn)品而設(shè)立的重要環(huán)保法規(guī)。自2006年7月1日起，歐盟市場(chǎng)上的新電子電氣設(shè)備被明確禁止使用鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE）等六種有害物質(zhì)。這些物質(zhì)在電子設(shè)備的生產(chǎn)過程中曾被廣泛使用，例如鉛用于鍍鉻、鉻酸

  REACH RoHS 電子電器

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• 發(fā)布了文章 2025-02-18 14:19

  光電子元件的可靠性測(cè)試關(guān)鍵項(xiàng)目

  

  光電子器件，作為現(xiàn)代科技中光電轉(zhuǎn)換效應(yīng)的結(jié)晶，扮演著越來越重要的角色。它們不僅能夠?qū)崿F(xiàn)光信號(hào)的產(chǎn)生和調(diào)制，還能進(jìn)行信號(hào)的探測(cè)、連接、能量的分配與調(diào)整、信號(hào)的放大以及光電之間的轉(zhuǎn)換。這些功能強(qiáng)大的器件可以分為兩大主要類別：光纖通信器件和光電照明器件。光纖通信器件光纖通信器件進(jìn)一步細(xì)分為有源器件，如激光器和光收發(fā)模塊，以及無源器件，如光纖耦合器、光纖光開關(guān)和光分

  光電子 可靠性測(cè)試 測(cè)試 電子元件

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• 發(fā)布了文章 2025-02-18 14:17

  詳細(xì)聚焦離子束（FIB）技術(shù)

  

  聚焦離子束（FocusedIonBeam，F(xiàn)IB）技術(shù)，堪稱微觀世界的納米“雕刻師”，憑借其高度集中的離子束，在納米尺度上施展著加工、分析與成像的精湛技藝。FIB技術(shù)以鎵離子源為核心，通過精確調(diào)控離子束與樣品表面的相互作用，實(shí)現(xiàn)納米級(jí)的精細(xì)操作，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、微電子、納米制造等多個(gè)前沿領(lǐng)域。FIB系統(tǒng)的基本構(gòu)成1.離子源液態(tài)金屬離子源是FIB系統(tǒng)的核心

  fib 離子束 離子源

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• 發(fā)布了文章 2025-02-17 17:24

  汽車車燈檢測(cè)與可靠性驗(yàn)證

  

  汽車車燈檢測(cè)的重要性汽車車燈是車輛安全系統(tǒng)中不可或缺的關(guān)鍵組件，其性能與可靠性對(duì)行車安全有著至關(guān)重要的影響。車燈不僅要為駕駛者提供良好的照明，還要在各種復(fù)雜的環(huán)境條件下正常工作，以確保車輛的行駛安全。因此，對(duì)汽車車燈進(jìn)行嚴(yán)格的檢測(cè)和可靠性驗(yàn)證是保障車燈質(zhì)量的必要環(huán)節(jié)。汽車車燈檢測(cè)的范圍1.前部車燈前部車燈是車輛照明系統(tǒng)的重要組成部分，包括前霧燈、前照燈、前轉(zhuǎn)

  AEC 檢測(cè) 汽車車燈

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• 發(fā)布了文章 2025-02-17 17:19

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)：芯片調(diào)試的利器

  

  FIB技術(shù)在芯片調(diào)試中的關(guān)鍵應(yīng)用1.電路修改與修復(fù)在芯片設(shè)計(jì)和制造過程中，由于種種原因可能會(huì)出現(xiàn)設(shè)計(jì)錯(cuò)誤或制造缺陷。FIB技術(shù)能夠?qū)π酒娐愤M(jìn)行精細(xì)的修改和修復(fù)。通過切斷錯(cuò)誤的金屬連接線，并重新建立正確的連接，F(xiàn)IB可以快速糾正信號(hào)線連接錯(cuò)誤等問題。對(duì)于早期的樣品或工程樣機(jī)，F(xiàn)IB技術(shù)無需重新制造芯片，即可進(jìn)行快速的電路修改和驗(yàn)證，大大縮短了芯片的調(diào)試周期，

  fib 離子束 芯片

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• 發(fā)布了文章 2025-02-14 12:49

  聚焦離子束顯微鏡（FIB）：原理揭秘與應(yīng)用實(shí)例

  

  工作原理聚焦離子束顯微鏡的原理是通過將離子束聚焦到納米尺度，并探測(cè)離子與樣品之間的相互作用來實(shí)現(xiàn)成像。離子束可以是氬離子、鎵離子等，在加速電壓的作用下，形成高能離子束。通過使用電場(chǎng)透鏡系統(tǒng)，離子束可以被聚焦到非常小的尺寸，從而實(shí)現(xiàn)很高的空間分辨率。FIB（聚焦離子束）是將液態(tài)金屬（大多數(shù)FIB都用Ga，也有設(shè)備具有He和Ne離子源）離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過離子

  fib 顯微鏡 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-02-14 12:48

  中性鹽霧試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)

  

  鹽霧試驗(yàn)作為一種重要的腐蝕試驗(yàn)方法，廣泛應(yīng)用于評(píng)估材料、涂層及產(chǎn)品的耐鹽霧腐蝕性能。GB/T10125-2012《人造氣氛腐蝕試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)》、GB/T2423.17-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka：鹽霧》以及ASTMB117-2011《操作鹽霧測(cè)試機(jī)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)方法》是目前國(guó)內(nèi)外應(yīng)用最為廣泛的鹽霧試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。這三大標(biāo)準(zhǔn)雖在具體細(xì)節(jié)上存在

  測(cè)試機(jī) 試驗(yàn)

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• 發(fā)布了文章 2025-02-13 17:09

  什么是聚焦離子束（FIB）？

  

  什么是聚焦離子束？聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡(jiǎn)稱FIB）技術(shù)作為一種前沿的納米級(jí)加工與分析手段，近年來在眾多領(lǐng)域嶄露頭角。它巧妙地融合了離子束技術(shù)與掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)的優(yōu)勢(shì)，憑借其獨(dú)特的原理、廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景以及顯著的優(yōu)勢(shì)，成為現(xiàn)代科學(xué)研究與工業(yè)生產(chǎn)中不可或缺的重要工具。基本原理聚焦離子束顯微鏡系統(tǒng)的核心在于其精妙的離子束產(chǎn)生與調(diào)控機(jī)

  fib 電子顯微鏡 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-02-13 17:07

  絕緣電阻測(cè)試和絕緣耐壓測(cè)試有什么不同

  

  如何在使用電氣設(shè)備的時(shí)保證其安全運(yùn)行呢？絕緣電阻測(cè)試和耐壓測(cè)試作為評(píng)估電氣設(shè)備絕緣性能的兩種核心手段，其重要性不言而喻。它們雖同為絕緣檢測(cè)方法，但在原理、目的、應(yīng)用場(chǎng)景等方面各有側(cè)重。接下來讓我們一起來了解一下。測(cè)試原理與應(yīng)用場(chǎng)景1.絕緣電阻測(cè)試絕緣電阻測(cè)試是檢驗(yàn)絕緣材料或電工設(shè)備絕緣結(jié)構(gòu)介電強(qiáng)度的重要試驗(yàn)方法。其核心在于通過測(cè)量設(shè)備或電路中的絕緣電阻值來評(píng)

  電阻測(cè)試 絕緣 耐壓測(cè)試

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