--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 臺階高測量 準確度0.3%,重復(fù)性0.08% 1σ
- 粗糙度RMS重復(fù)性 0.005nm
- 水平調(diào)整 ±5°手動
- XY平臺 尺寸320×200mm,行程140×110mm,電動、手動同
- Z軸行程 100mm,電動
--- 產(chǎn)品詳情 ---
中圖儀器SuperViewW1白光干涉儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米的工件粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,是一款用于精密器件及材料表面的亞納米級測量的檢測儀器。只需要操作者裝好被測工件,在軟件里設(shè)好視場參數(shù),把物鏡調(diào)節(jié)到被測工件表面,選擇自動聚焦后,儀器就會主動找干涉條紋開始掃描測量。然后自動生成工件表面3D圖像,一鍵輸出反映工件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),完成工件表面形貌一鍵測量。

產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品型號:SuperView W1系列
產(chǎn)品名稱:光學3D表面輪廓儀
影像系統(tǒng):1024×1024
光學ZOOM:0.5×,(0.75×,1×可選)
干涉物鏡:10×,(2.5×,5×,20×,50×,100×可選)
XY平臺:尺寸320×200mm,行程140×110mm,電動、手動同時具備,均為光柵閉環(huán)反饋
Z軸行程:100mm,電動
Z向掃描范圍:10mm
Z向分辨率:0.1nm
可測樣品反射率:0.05%-100%
水平調(diào)整:±5°手動
粗糙度RMS重復(fù)性:0.005nm
臺階高測量:準確度0.3%,重復(fù)性0.08% 1σ
主要特點:非接觸式無損檢測,一鍵分析、測量速度快、效率高
白光干涉儀在數(shù)秒內(nèi),即可獲得平面和曲面表面上測量所有常見的粗糙度參數(shù)。也可以選擇拼接功能軟件升級來組合多個影像以提供大面積測量。從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
白光干涉儀應(yīng)用
場景一:超光滑的弧形表面

上圖是一款旋轉(zhuǎn)拋物面零件,用于微小位移和角度檢測,其表面具有超光滑、高反、凹面弧形特征,針對其凹面弧形的檢測需求,現(xiàn)有的顯微測量儀器中,原子力顯微鏡和共聚焦顯微鏡,均分別因有損測量或分辨率不夠的原因而排除,只有以白光干涉為原理的光學3D表面輪廓儀,能同時滿足無損、超高分辨率、耐高反等條件。
針對完成樣品超光滑凹面弧形掃描所需同時滿足的高精度、大掃描范圍的需求,中圖儀器國產(chǎn)白光干涉儀廠商的復(fù)合型EPSI重建算法,解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點。在自動拼接模塊下,只需要確定起點和終點,即可自動掃描, 重建其超光滑的表面區(qū)域,不見一絲重疊縫隙。
場景二:粗糙的特征表面

上圖是涂覆在電極棒的催化劑表面全景圖,整體尺寸在7mm左右,中心的催化劑區(qū)域呈低反射率特點,而圓環(huán)外呈高反射率特點,整體的輪廓尺寸和微觀的輪廓起伏反映了涂覆的質(zhì)量。
根據(jù)客戶精度要求,可將重建算法切換為高速掃描的FVSI重建算法,并可依據(jù)表面粗糙程度,選擇不同步距進行速度調(diào)節(jié)。
中圖儀器白光干涉儀廠商是一家高新技術(shù)企業(yè),成立以來堅持以技術(shù)創(chuàng)新為發(fā)展基礎(chǔ),一直致力于精密測量、計量檢測等儀器設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。
經(jīng)過十多年在幾何量測量領(lǐng)域的潛心研究,設(shè)計制造了Super View系列白光干涉儀、GT系列激光跟蹤儀、SJ6000系列激光干涉儀、SJ5100系列高精度測長機、SJ5700系列輪廓測量儀、SJ5200系列螺紋綜合測量機、SJ2000系列指示表自動檢定儀等眾多測量、計量設(shè)備。具備了從納米級的微觀形貌檢測到百米級的大尺寸高精度測量,為用戶提供精密測量解決方案的能力。
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