--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 粗糙度RMS重復(fù)性 0.005nm
- 臺(tái)階高測(cè)量 準(zhǔn)確度0.3%,重復(fù)性0.08% 1σ
- XY平臺(tái) 尺寸320×200mm,行程140×110mm,電動(dòng)、手動(dòng)同
- Z軸行程 100mm,電動(dòng)
--- 產(chǎn)品詳情 ---
光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x采用的非接觸式測(cè)量方法具有測(cè)量精度高、分析功能強(qiáng)大、測(cè)量參數(shù)齊全以及使用方便等優(yōu)點(diǎn),加上其獨(dú)特的光源模式,保證了它能夠適用于從光滑到粗糙等各種精密器件的表面質(zhì)量檢測(cè)。
中圖儀器的SuperViewW系列光學(xué)輪廓度測(cè)量?jī)x能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,以非接觸式測(cè)量樣品表面形貌,主要用于表面形貌紋理,微觀結(jié)構(gòu)分析,廣泛應(yīng)用于材料,光學(xué),半導(dǎo)體,精密機(jī)械等等領(lǐng)域。

產(chǎn)品特點(diǎn)
1.雙通道氣浮隔振系統(tǒng)大幅減小了環(huán)境振動(dòng)的影響,還可以降低高精度量測(cè)時(shí)的噪聲,提高超光滑表面的測(cè)試精度。
2.一體化操作的測(cè)量分析軟件自動(dòng)對(duì)焦樣品表面,自動(dòng)智能配置測(cè)試參數(shù),使原來(lái)麻煩的“找條紋”,“選擇測(cè)試參數(shù)”過(guò)程,在一分鐘之內(nèi),自動(dòng)完成。
3.雙重防撞保護(hù)功能,除初級(jí)的軟件ZSTOP設(shè)置Z向位移下限位進(jìn)行防撞保護(hù)外,另在Z軸上設(shè)計(jì)有機(jī)械電子傳感器,當(dāng)鏡頭觸碰到樣品表面時(shí),儀器自動(dòng)進(jìn)入緊急停止?fàn)顟B(tài),能保護(hù)樣品和設(shè)備的安全。


SuperViewW系列光學(xué)輪廓度測(cè)量?jī)x分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,可為樣品表面測(cè)量提供快速,便捷的非接觸式3D表面形貌測(cè)量解決方案。應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,操作簡(jiǎn)便,可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)。可以用于測(cè)試各類表面。比如透明的玻璃表面,加上增透膜,其反射率小于1%;也可以用于測(cè)試直至100%反射率的各類高反表面。
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào):SuperView W1系列
產(chǎn)品名稱:光學(xué)3D表面輪廓儀
影像系統(tǒng):1024×1024
光學(xué)ZOOM:0.5×,(0.75×,1×可選)
干涉物鏡:10×,(2.5×,5×,20×,50×,100×可選)
XY平臺(tái):尺寸320×200mm,行程140×110mm,電動(dòng)、手動(dòng)同時(shí)具備,均為光柵閉環(huán)反饋
Z軸行程:100mm,電動(dòng)
Z向掃描范圍:10mm
Z向分辨率:0.1nm
可測(cè)樣品反射率:0.05%-100%
水平調(diào)整:±5°手動(dòng)
粗糙度RMS重復(fù)性:0.005nm
臺(tái)階高測(cè)量:準(zhǔn)確度0.3%,重復(fù)性0.08% 1σ
主要特點(diǎn):非接觸式無(wú)損檢測(cè),一鍵分析、測(cè)量速度快、效率高
生產(chǎn)企業(yè):深圳市中圖儀器股份有限公司
注釋:更多詳細(xì)產(chǎn)品信息,請(qǐng)聯(lián)系我們獲取
SuperViewW系列光學(xué)輪廓度測(cè)量?jī)x集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點(diǎn)的擴(kuò)展型相移算法EPSI,單一模式即可適用于從平面到弧面、超光滑到粗糙等各種表面類型,其獨(dú)特的3D重建算法,自動(dòng)濾除樣品表面噪點(diǎn),在硬件系統(tǒng)的配合測(cè)量精度可達(dá)亞納米級(jí)別,讓3D測(cè)量變得簡(jiǎn)單。
深圳市中圖儀器股份有限公司是高新技術(shù)企業(yè),致力于精密測(cè)量、計(jì)量檢測(cè)等儀器設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。
自成立以來(lái)一直以“致力于精密測(cè)量、計(jì)量檢測(cè)等儀器設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售”為使命,在幾何量測(cè)量領(lǐng)域的潛心研究十幾年,如今在微納米運(yùn)動(dòng)設(shè)計(jì)制造、微納米顯微測(cè)量三維重建、顯微測(cè)量3D形貌分析、大尺寸三維空間測(cè)量、精密傳感測(cè)頭、光柵導(dǎo)軌測(cè)控等眾多技術(shù)領(lǐng)域形成了設(shè)計(jì)、制造優(yōu)勢(shì),具備了從納米到百米為用戶提供精密測(cè)量解決方案的能力。
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