FCC-TEM-JM5/FCC-TEM-JM7C
產品介紹(深圳華瑞高)
符合標準：
IEC 61967-2
SAE 1752-3
IEC 62132-8
VSWR波形圖：
FCC/horigol的TEM小室主要用于以下幾種測試[^0^]：輻射發射測試?
原理：TEM小室能夠模擬電磁環境，將被測設備（EUT）放置在小室內，通過測量其在不同頻率下的電磁輻射水平，評估設備的電磁干擾（EMI）情況[^2^]。
? 應用場景：適用于小尺寸PCB或集成電路芯片的EMI-RE輻射發射測試，可幫助確定產品在實際使用中是否會對其它設備產生電磁干擾[^3^]。
輻射抗擾度測試? 原理：通過在TEM小室內產生特定強度和頻率范圍的電磁場，模擬設備在實際使用中可能遇到的電磁干擾環境，測試被測設備在該環境下的工作性能，評估其抗電磁干擾的能力[^4^]。
? 應用場景：可用于測試集成電路、小型電子設備等的EMS-RS輻射抗擾度，例如，FCC-TEM-JM5只需要小于3.7mW的輸入功率就能達到10V/m的電場，37W就能達到1000V/m的電場[^5^]。
EMI故障排除? 原理：利用TEM小室的屏蔽環境和精確的測量能力，對被測設備進行詳細的電磁干擾分析，找出設備中可能存在的電磁干擾源和薄弱環節[^6^]。
? 應用場景：在產品研發和調試階段，通過TEM小室測試，可以快速定位和解決電磁兼容性問題，優化產品設計[^7^]。其他應用TEM小室還可用于評估PCB板級的電磁屏蔽效能[^8^]。
