中圖儀器CEM3000系列納米級成像高分辨掃描電鏡高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調節(jié)。超高分辨率優(yōu)于4nm(SE)，優(yōu)于8nm(BSE)@20kV，超大景深毫米級別景深，具有高空間分辨率。

CEM3000系列納米級成像高分辨掃描電鏡操作系統(tǒng)簡便，使用過程簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在短短幾十秒內就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

產品功能

1.高分辨率，滿足用戶觀測需求；

2.快速抽放氣，縮短等待時間；

3.高易用性

可快速成像，一鍵成片；

4.多種成像參數

滿足專業(yè)用戶的調節(jié)需求；

5.高抗振防磁性能

強抗干擾能力；

6.可選配低真空模式，保證用戶能夠根據需要設定電鏡樣品倉內真空度，進而對不同類型的樣品進行觀測。

7.大樣品倉

SEM3000A在保證較小外形尺寸同時，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品；

8.多探測器

可實現四分窗同時掃描成像。

性能特色

1、緊湊外型

該系列臺式掃描電鏡整機經過深入優(yōu)化，在結構方面達到了優(yōu)尺寸利用率，確保其出色的性能不再受環(huán)境尺寸的制約，無論是日常的工作桌面、還是狹小空間，CEM3000系列臺式掃描電鏡總能陪伴用戶出現在有需要的地方。

2、自動調節(jié)

用戶可借助自動調節(jié)功能，無需過多人工調節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

3、高分辨率

CEM3000系列電鏡具有出色的電子光學系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率，保證了高放大倍數下的清晰成像，能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。

4、高抗振防磁性能

該系列臺式電鏡采用特殊設計的隔振措施，能夠減小環(huán)境中振動對電鏡的干擾，并且全系列電鏡具有強抗電磁干擾性能，消除場地因素對電鏡的影響。

其中CEM3000B更是采用本公司設計的高性能復合抗振系統(tǒng)來消除外界振動對電鏡的影響，即使是在高放大倍數下成像，用戶也不用擔心環(huán)境振動對電鏡產生的干擾。

5、選配低真空系統(tǒng)

根據用戶需求，可選配低真空系統(tǒng)。該系統(tǒng)讓用戶可以任意設定電鏡工作時的倉內真空度(倉內真空度低可達100Pa)，以滿足不同類型樣品的觀測需求。

6、操縱手柄

操作手柄上集成了多個方向位移控制，自動調整及自動對焦、自動消像散等功能，可快速完成觀測位置調整及自動成像。

7、豐富的定制功能

根據特定行業(yè)的需求，定制了自動化的顆粒度統(tǒng)計、孔隙率測量等選配功能。

可根據用戶需求提供全自動軟件定制服務。

8、高精度樣品臺

該系列臺式電鏡采用全新設計的樣品臺，各自動軸均保證了動作精度和高重復性。

9、高襯度成像系統(tǒng)

采集系統(tǒng)具有高信噪比，使用戶在快速掃描時也能獲取到充足的信號。即使針對微弱信號，CEM3000系列臺式電鏡搭載的處理算法亦可將信號從背底中進行高效剝離，確保成像質量。

應用領域

CEM3000系列納米級成像高分辨掃描電鏡外型緊湊，空間適用性強，整機采用大量的抗干擾設計，避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應用范圍。同時，該系列臺式電鏡具有非常豐富的自動調節(jié)功能，能夠對不同類型的樣品進行觀測，具有高空間分辨率。

用戶可在CEM3000掃描電鏡上搭配不同的探頭，同時接收多種信號，對樣品進行分析。

機型選擇

CEM3000A（大樣品倉型）：70mm×70mm樣品倉，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專為振動環(huán)境設計，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩(wěn)定。

部分技術指標

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