--- 產品參數 ---
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--- 產品詳情 ---
中圖儀器CEM3000系列納米尺度觀測掃描電子顯微鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。在工業領域展現出廣泛的應用價值,標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統,能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實現微觀的形貌和元素分析等。

CEM3000系列納米尺度觀測掃描電子顯微鏡憑借其簡便的操作系統,讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。樣品一鍵裝入,自動導航和一鍵出圖能力(自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度)幫助用戶在短短幾十秒內就可獲取高清圖像,大大提升了使用效率。
產品功能
1.高分辨率,滿足用戶觀測需求;
2.快速抽放氣,縮短等待時間;
3.高易用性
可快速成像,一鍵成片;
4.多種成像參數
滿足專業用戶的調節需求;
5.高抗振防磁性能
強抗干擾能力;
6.可選配低真空模式,保證用戶能夠根據需要設定電鏡樣品倉內真空度,進而對不同類型的樣品進行觀測。
7.大樣品倉
SEM3000A在保證較小外形尺寸同時,具有比肩立式電鏡的大倉室,從而容納更大尺寸樣品;
8.多探測器
CEM3000系列納米尺度觀測掃描電子顯微鏡可實現四分窗同時掃描成像。
性能特色
1.高易用性快速成像、一鍵成片,無需過多人工調節。
2.超高分辨率優于4nm(SE),優于8nm(BSE)@20kV。
3.超大景深毫米級別景深,具有高空間分辨率。
4.多探測器可實現四分窗同時掃描成像。
5.抗振性能優異。
機型選擇
CEM3000A(大樣品倉型):70mm×70mm樣品倉,兼容大尺寸或多樣品批量分析。
CEM3000B(抗振型):專為振動環境設計,抽氣更快(低真空僅40秒),成像更穩定。

應用場景
材料科學:納米材料(如60nm銀線)、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀結構分析。
新能源:太陽能電池板缺陷檢測、涂層性能評估。
生物醫療:微流控芯片表面形貌觀測、藥物載體研究。
工業質檢:錫球顆粒焊接質量、精密器件表面粗糙度檢測。

部分技術指標
型號 | CEM3000A(大樣品倉型) | |
電子槍 | 燈絲 | 鎢燈絲 |
分辨率 | 優于4nm(SE),優于8nm(BSE) @20kV | |
加速電壓 | 1 ~ 20kV | |
放大倍數 | 電子圖:40 ~ 200,000×(可選配大圖拼接) | |
探測器 | 二次電子 | 標配 |
背散射電子 | 標配(四象限高分辨探頭) | |
能譜儀 | 選配 | |
自動化軟件 | 標配:自動合軸、自動聚焦、自動消像散、一鍵圖像增強 | |
選配:顆粒度統計、孔隙率測量、纖維測量、三維粗糙度重建 | ||
真空系統 | 真空度 | 高真空:優于9×10-3Pa 低真空:5 ~ 100 Pa(選配) |
抽真空時間 | 低真空模式 < 1.5min 高真空模式 < 3min | |
樣品臺 | 自動軸 | X,Y,T |
手動軸 | R,Z | |
行程范圍 | X: 50mm | |
Y: 50mm | ||
R: 0°~360°(手動旋轉、電子束旋轉) | ||
T: -22.5°~ +22.5° | ||
Z: 45mm | ||
樣品尺寸 | 70mm×70mm(水平) 45mm(高度) | |
倉內相機 | 導航相機 | 標配高分辨彩色相機 |
側視相機 | 標配高分辨紅外相機 | |
操作系統 圖片尺寸 | Windows10 (64bit) | |
640×480 | ||
1280×960 | ||
2560×1920 | ||
5120×3840 | ||
10240×7680 |
懇請注意:因市場發展和產品開發的需要,本產品資料中有關內容可能會根據實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。
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