用途：為半導體、光學鏡片、材料、3C消費類電子、醫療、刀具等行業提供納米級別粗糙度、臺階高度、微觀形貌、三維形貌比對、高度、平面尺寸等要素測量。
特點：最高0.03nm精度，業內最快速度，可客制化測量工具和在線測量。
--- 產品參數 ---
- 像素 500萬
- 掃描原理 白光干涉
- 掃描范圍 100um
- 被測物反射率 0.02%~100%
- 顯示分辨率 0.001nm
- RMS重復性 0.002nm
--- 產品詳情 ---
為你推薦
-
優可測激光位移傳感器2024-10-31 13:52
產品型號：SL-5000 采樣頻率：160KHz -
優可測超景深數碼顯微鏡2024-09-29 14:08
產品型號：AH-3000 產地：中國 攝像軟件：CMOS XY平臺尺寸：220mm*180mm 放大倍率：500X 幀率：30FPS -
優可測一鍵式投影測量儀-尺寸測量2023-11-15 11:33
產品型號：FM-9030 是否進口：否 測量精度：±1.5μm 拍攝元件：2000w像素 黑白CMOS -
優可測一鍵式圖像尺寸測量儀-閃測儀2023-11-15 11:29
產品型號：FM-9020 是否進口：否 測量精度：±1.5μm 拍攝元件：2000萬像素 黑白CMOS -
優可測一鍵式影像測量儀-閃測儀2023-11-15 11:26
產品型號：FM-9005 是否進口：否 測量精度：±1.5μm 拍攝元件：2000萬像素 黑白CMOS -
優可測衍射三維形貌儀2023-08-16 13:57
產品型號：NM-300 折射率重復性：0.0005 XYZ移動方式：電動 對焦方式：自動 -
一站式晶圓檢測解決方案2023-08-15 17:55
產品型號：WM300X 粗糙度RMS重復性：0.003nm 臺階重復性：0.06% 臺階準確度：0.3% -
一站式晶圓三維檢測2023-08-15 17:54
產品型號：WM300R 粗糙度RMS重復性：0.005nm 臺階重復性：0.09% 臺階準確度：0.5% -
優可測半透明膜厚儀2023-08-15 17:45
產品型號：AF-X010 分辨率：0.1nm -
優可測透明薄膜厚度測量儀2023-08-15 17:43
產品型號：AF-T100 分辨率：0.1nm
-
以精密測量探索人類未來，優可測邀您共赴六月行業盛會2025-05-29 17:34
-
引進白光干涉儀管控微流控芯片形貌，性能大幅提升2025-05-29 17:34
-
優可測白光干涉儀AM系列：量化管控納米級粗糙度，位移傳感器關鍵零件壽命提升50%2025-05-21 13:00
-
玻璃基板精密檢測，優可測方案提升良率至90%2025-05-12 17:48
-
從納米到毫米！一篇看懂膜厚儀選型技巧2025-05-09 12:07
-
優可測白光干涉儀助力提升光模塊信息質量2025-04-30 09:22
-
納米級形貌快速測量，優可測白光干涉儀助力摩擦磨損學科發展2025-04-21 12:02
-
優可測白光干涉儀和薄膜厚度測量儀：如何把控ITO薄膜的“黃金參數”2025-04-16 12:03
-
探索高精度測量世界，優可測誠邀您共赴四月行業盛會2025-03-27 11:04
四月芳菲，萬物競發。優可測將亮相多場行業盛會，誠邀您蒞臨指導，共探精密制造的無限可能。262瀏覽量 -
一鍵對焦+一鍵調平，測量效率提升7倍 | 優可測全新旗艦白光干涉儀發布2025-03-27 11:03
-
上傳時間：2024-03-05 14:08
0次下載