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標(biāo)簽 > 顯微鏡
在17世紀(jì),人們發(fā)現(xiàn)把兩塊凸透鏡組合起來,能明顯的提高放大能力,這種裝置就是顯微鏡的前身。第一架真正的顯微鏡,是用一片凸透鏡和一片凹透鏡重疊起來組合而成,又稱為復(fù)式顯微鏡
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一探索微觀世界的利器掃描電子顯微鏡(SEM)在人類科技發(fā)展領(lǐng)域中扮演了至關(guān)重要的角色。它不僅極大地提高了我們對物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的認(rèn)識,而且在多個領(lǐng)域內(nèi)發(fā)揮了...
三角形柵線印刷技術(shù):從遮光到增效,美能3D顯微鏡助力柵線的精密檢測
正面柵線遮光對太陽電池光學(xué)損失遮光效應(yīng):正面柵線是太陽電池表面的金屬電極,用于收集光生電流。然而,這些金屬柵線會遮擋部分入射光,導(dǎo)致電池的有效光照面積減...
FIB技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域及工作原理解析
集成化微納加工平臺雙束聚焦離子束-掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)系統(tǒng)代表了微納加工技術(shù)的前沿,它巧妙地融合了單束FIB和SEM的優(yōu)勢,為用戶提供了一個...
如何利用磁場相機(jī)實現(xiàn)先進(jìn)的磁性微結(jié)構(gòu)分析?
工業(yè)設(shè)備的持續(xù)微型化過程引發(fā)了對高級磁性微結(jié)構(gòu)表征技術(shù)的需求,這些技術(shù)需結(jié)合高分辨率、短測量時間和定量磁場數(shù)據(jù)。尤其是在磁性設(shè)備制造過程中進(jìn)行在線質(zhì)量控...
雙束FIB-SEM系統(tǒng)在材料科學(xué)中的應(yīng)用
導(dǎo)語聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)是一種先進(jìn)的微納加工和成像技術(shù),它在材料科學(xué)研究中扮演著不可或缺的角色。FIB-SEM系統(tǒng)能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行...
鎖相放大器OE1022應(yīng)用在掃描隧道顯微鏡在超導(dǎo)薄膜中的測量
圖1. 兩線圈互感器示意圖電感測量 (a)傳輸型 (b)反射型 黃色和藍(lán)色箭頭分別表示樣品處于正常和超導(dǎo)狀態(tài)時驅(qū)動線圈發(fā)出的磁力線 2017 年,上海交...
世界最小LED可將手機(jī)攝像頭轉(zhuǎn)換為高分辨率顯微鏡
本研究中展示的未經(jīng)訓(xùn)練的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)允許研究人員使用新型光源,而無需事先了解光源光譜或光束輪廓,例如上面描述的新穎和最小的已知硅LED,通過完全商業(yè)化,未經(jīng)...
2023-05-10 標(biāo)簽:led神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)發(fā)光二極管 625 0
電子工業(yè)顯微鏡分析技術(shù),在新材料與新工藝的探索中扮演著至關(guān)重要的角色。以下是關(guān)于電子工業(yè)顯微鏡在新材料與新工藝分析中的必備性的詳細(xì)闡述:一、電子工業(yè)顯微...
光束中的量子相關(guān),光子在其中表現(xiàn)出一定的合作,可以超越這些限制。雖然通過一階干涉在相位估計中獲得的量子優(yōu)勢已經(jīng)得到了很好的理解,但干涉方案不適合多參數(shù)寬...
針對這類樣本的成像技術(shù)中,無標(biāo)記顯微成像技術(shù)能夠?qū)⑼该鳂颖九c周邊環(huán)境的折射率對比度轉(zhuǎn)換為成像圖案的強(qiáng)度對比度,很好地彌補(bǔ)了熒光或染色技術(shù)需要外源性標(biāo)記物...
2024-04-18 標(biāo)簽:成像技術(shù)顯微鏡成像系統(tǒng) 596 0
【應(yīng)用案例】Moku:Pro簡化雙色受激拉曼散射顯微鏡實驗
在華盛頓大學(xué), 研究人員致力于雙色受激拉曼散射(SRS)顯微鏡技術(shù)研究開發(fā)化學(xué)成像工具,用于早期癌癥檢測和了解神經(jīng)退行性疾病進(jìn)展。實驗裝置通常包括多個復(fù)...
隨著新能源技術(shù)的快速發(fā)展,電池作為核心組件,其安全性與性能優(yōu)化一直是行業(yè)關(guān)注的焦點。電芯極片是電池構(gòu)造的基石,其制造過程中的每一個細(xì)節(jié)都直接關(guān)系到電池的...
EBSD技術(shù)概覽電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)是一種先進(jìn)的材料表征工具,它基于電子與材料表面晶體原子相互作用時產(chǎn)生的背散射現(xiàn)象。電子背散射的優(yōu)勢電子背散...
氬離子拋光在電鏡樣品制備中的優(yōu)勢:超越FIB的大面積處理能力
氬離子拋光技術(shù)概述氬離子拋光技術(shù)是一種先進(jìn)的樣品制備方法,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)和微觀分析領(lǐng)域。該技術(shù)通過使用惰性氣體氬的離子束對樣品表面進(jìn)行精確的切割和拋...
本文采用傳統(tǒng)固相反應(yīng)工藝,在不同燒結(jié)溫度下制備了一系列CaCuTiO?(CCTO)陶瓷樣品,并對其微觀結(jié)構(gòu)以及介電和復(fù)阻抗性質(zhì)進(jìn)行了系統(tǒng)研究。研究結(jié)果表...
FIB-SEM技術(shù)全解析:原理與應(yīng)用指南
聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)雙束系統(tǒng)是一種集成了聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)功能的高科技分析儀器。它通過結(jié)合氣體沉積裝置...
切片分析切片分析就是通過取樣、鑲嵌、切片、拋磨、腐蝕、觀察等一系列手段和步驟獲得 PCB 橫截面結(jié)構(gòu)的過程。
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