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標(biāo)簽 > 熱測(cè)試
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在半導(dǎo)體器件的實(shí)際部署中,它們會(huì)因功率耗散及周圍環(huán)境溫度而發(fā)熱,過(guò)高的溫度會(huì)削弱甚至損害器件性能。因此,熱測(cè)試對(duì)于驗(yàn)證半導(dǎo)體組件的性能及評(píng)估其可靠性至關(guān)...
T3Ster瞬態(tài)熱測(cè)試方法與內(nèi)容揭秘
5月28號(hào),貝思科爾舉辦了《芯片封裝熱測(cè)試:T3Ster瞬態(tài)熱測(cè)試方法與內(nèi)容揭秘》線上直播活動(dòng)。在本次直播活動(dòng)中,貝思科爾的劉烈生作為主講嘉賓,向大家介...
雙面散熱汽車IGBT器件熱測(cè)試評(píng)估方式創(chuàng)新
封裝結(jié)構(gòu)的創(chuàng)新使得雙面散熱(double-sided cooling, DSC)功率模塊比傳統(tǒng)單面散熱(single-sided cooling, SS...
MUN3CAD01-SB的所有熱試驗(yàn)條件均滿足JEDECEIJ/JESD51標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。因此,測(cè)試板尺寸為30mmx30mmx1.6mm,有4層2oz。模...
MegaPhase?Vac微波測(cè)試電纜是專業(yè)為顧客設(shè)計(jì)構(gòu)思的測(cè)試空間和機(jī)載系統(tǒng)和組件。Megaphase?VAC熱測(cè)試電纜是提高射頻合理有效負(fù)載測(cè)試的理...
JEDEC發(fā)布第一個(gè)LED國(guó)際熱測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
全球領(lǐng)先的微電子產(chǎn)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)JEDEC固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì),今天宣布推出一個(gè)新系列高亮度/功率LED組件級(jí)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。由LED產(chǎn)業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者參與的該系列標(biāo)準(zhǔn)在JED...
常問(wèn)設(shè)計(jì)師“設(shè)計(jì)的板子做熱測(cè)試了沒(méi)有”,答曰“不用測(cè),我摸了一遍,這板子上沒(méi)有感覺(jué)燙的器件”。如此理解,大錯(cuò)矣。
2012-03-16 標(biāo)簽:散熱設(shè)計(jì)熱測(cè)試 2337 0
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