離子束

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離子束技術(shù)

聚焦離子束（FIB）在材料科學(xué)和微納加工領(lǐng)域內(nèi)的重要性日益顯現(xiàn)，離子束的傳輸過(guò)程由多個(gè)關(guān)鍵組件構(gòu)成，包含離子源、透鏡和光闌等，而其性能的提升則依賴于光學(xué)...

2025-06-17 標(biāo)簽：材料科學(xué)離子束信號(hào)探測(cè) 126 0

聚焦離子束顯微鏡（FIB）的應(yīng)用

技術(shù)原理聚焦離子束顯微鏡（FocusedIonBeam,FIB）的核心在于其獨(dú)特的鎵（Ga）離子源。鎵金屬因其較低的熔點(diǎn)（29.76°C）和在該溫度下極...

2025-06-12 標(biāo)簽：顯微鏡 fib 離子束 81 0

聚焦離子束（FIB）技術(shù)：半導(dǎo)體量產(chǎn)中的高精度利器

技術(shù)原理與背景聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的納米加工和分析工具。其基本原理是在電場(chǎng)和磁場(chǎng)作用下，將離子束聚焦到亞微米甚至納米量級(jí)，通過(guò)偏轉(zhuǎn)和加速系...

2025-06-09 標(biāo)簽：半導(dǎo)體 fib 離子束 50 0

芯片樣品備制前處理技術(shù)分析

在芯片設(shè)計(jì)完成后，樣品功能性測(cè)試、可靠性測(cè)試以及失效分析除錯(cuò)等環(huán)節(jié)開展之前，樣品備制前處理是不可或缺的關(guān)鍵步驟。其中，芯片切片方式用于斷面/橫截面觀察，...

2025-06-05 標(biāo)簽：芯片設(shè)計(jì)SEM 離子束 104 0

一文了解聚焦離子束（FIB）技術(shù)及聯(lián)用技術(shù)

聚焦離子束（FIB）技術(shù)憑借其獨(dú)特的原理和強(qiáng)大的功能，成為微納加工與分析領(lǐng)域不可或缺的重要工具。FIB如何工作聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的微納加...

2025-05-29 標(biāo)簽：fib 離子束微納加工 140 0

透射電子顯微鏡（TEM）與聚焦離子束技術(shù)（FIB）在材料分析中的應(yīng)用

什么是透射電子顯微鏡（TEM）透射電子顯微鏡（TEM）是一種功能強(qiáng)大的分析工具，可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過(guò)三種不同的分析技術(shù)獲得固態(tài)樣品的...

2025-05-09 標(biāo)簽：材料 TEM 離子束 223 0

聚焦離子束技術(shù)：原理、應(yīng)用與展望

聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonBeam，簡(jiǎn)稱FIB）作為一種前沿的微觀加工與分析技術(shù)，近年來(lái)在眾多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。金鑒實(shí)驗(yàn)室憑借其專業(yè)的檢測(cè)技...

2025-05-08 標(biāo)簽：檢測(cè)fib 離子束 148 0

聚焦離子束技術(shù)在透射電子顯微鏡樣品制備中的應(yīng)用

聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡(jiǎn)稱FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的微觀加工與分析手段，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)以及半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域...

2025-05-06 標(biāo)簽：fib 電子顯微鏡離子束 123 0

聚焦離子束技術(shù)：納米加工與分析的利器

聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonBeam,FIB）作為一種前沿的納米加工與分析手段，憑借其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)在多個(gè)領(lǐng)域展現(xiàn)出強(qiáng)大的應(yīng)用潛力。本文將從技術(shù)原理...

2025-04-28 標(biāo)簽：聚焦 fib 離子束 176 0

聚焦離子束（FIB）技術(shù)的應(yīng)用原理

聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種極為精細(xì)的樣品制備與加工手段，它能夠?qū)饘佟⒑辖稹⑻沾傻榷喾N材料進(jìn)行加工，制備出尺寸極小的薄片。這些薄片的寬度通常在10~...

2025-04-23 標(biāo)簽：fib TEM 離子束 351 0

離子束帖子

FIB芯片電路修改是什么意思？

標(biāo)簽：fib 芯片電路離子束 844 0

雙束電漿離子束 (Plasma FIB)

標(biāo)簽：蝕刻離子束 7707 0

離子束資料下載

一文看懂電子束與離子束加工工藝立即下載

類別：電子資料 2021-03-17 標(biāo)簽：電源技術(shù)電子束離子束 2378 0

離子束資訊

蔡司掃描電鏡Crossbeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡

在人工智能（AI）技術(shù)日新月異的時(shí)代，其強(qiáng)大的發(fā)展勢(shì)能對(duì)PCB板（印制電路板）的質(zhì)量提出了更高的要求。作為AI服務(wù)器硬件架構(gòu)的關(guān)鍵組成部分，PCB板的性...

2025-05-24 標(biāo)簽：電鏡圖像電子顯微鏡離子束 101 0

廣電計(jì)量出版FIB領(lǐng)域?qū)Ｖx能半導(dǎo)體質(zhì)量精準(zhǔn)提升

近日，廣電計(jì)量在聚焦離子束（FIB）領(lǐng)域編寫的專業(yè)著作《聚焦離子束：失效分析》正式出版，填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)聚焦離子束領(lǐng)域?qū)嵺`性專業(yè)書籍的空白，為該領(lǐng)域的技術(shù)發(fā)展...

2025-02-28 標(biāo)簽：半導(dǎo)體離子束廣電計(jì)量 540 0

上海伯東IBE離子束刻蝕機(jī)介紹

IBE (Ion Beam Etching) 離子束刻蝕, 通常使用 Ar 氣體作為蝕刻氣體, 將與電子的沖擊產(chǎn)生的離子在 200~ 1000ev 的范...

2024-12-26 標(biāo)簽：離子束刻蝕機(jī) 808 0

聚焦離子束(FIB)加工硅材料的損傷機(jī)理及控制

???? 聚焦離子束（FIB）在材料表征方面有著廣泛的應(yīng)用，包括透射電鏡（TEM）樣品的制備。在這方面，F(xiàn)IB比傳統(tǒng)的氬離子束研磨具有許多優(yōu)勢(shì)。例如，電...

2024-12-19 標(biāo)簽：fib 離子束刻蝕 1079 0

聚焦離子束分析技術(shù)-在汽車級(jí)芯片的失效分析

質(zhì)量保證在汽車行業(yè)的重要性在汽車制造領(lǐng)域，質(zhì)量是企業(yè)的生命線，因此汽車制造商和他們的電子配件供應(yīng)商都必須對(duì)其產(chǎn)品的質(zhì)量提供嚴(yán)格的保證。這些保證通常包括時(shí)...

2024-12-13 標(biāo)簽：汽車制造汽車芯片離子束 974 0

上海伯東IBE離子束刻蝕機(jī)優(yōu)勢(shì)

上海伯東 IBE 離子束刻蝕機(jī)可用于反應(yīng)離子刻蝕 RIE 不能很好刻蝕的材料。是一種干法物理納米級(jí)別的刻蝕，刻蝕均勻性 ≤±5%（部分材料 ±3%）。...

2024-11-27 標(biāo)簽：離子束刻蝕機(jī) 508 0

離子束刻蝕機(jī)物理量傳感器 MEMS 刻蝕應(yīng)用

口離子束刻蝕機(jī) IBE 可以很好的解決傳感器 MEMS 的刻蝕難題, 射頻角度可以任意調(diào)整, 蝕刻可以根據(jù)需要做垂直, 斜面等等加工形狀, 刻蝕那些很...

2024-09-12 標(biāo)簽：傳感器 mems 離子束 676 0

離子束拋光在微電子封裝失效分析領(lǐng)域的應(yīng)用

共讀好書王剛馮麗婷李潮黎恩良鄭林挺胡宏偉劉家儒夏姍姍武慧薇（工業(yè)和信息化部電子第五研究所）摘要：首先，以具體微電子封裝失效機(jī)理和失...

2024-07-04 標(biāo)簽：失效分析離子束微電子封裝 668 0

離子注入機(jī)的簡(jiǎn)易原理圖

本文介紹了離子注入機(jī)的相關(guān)原理。離子注入機(jī)的原理是什么？

2024-04-18 標(biāo)簽：離子束 3440 0

聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)材料分析

一、FIB設(shè)備型號(hào)：Zeiss Auriga Compact 聚焦離子束顯微鏡 (FIB-SEM) 聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成...

2021-11-06 標(biāo)簽：SEM fib 離子束 3432 0

離子束數(shù)據(jù)手冊(cè)

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　Vcc和Vdd是器件的電源端。Vcc是雙極器件的正，Vdd多半是單極器件的正。下標(biāo)可以理解為NPN晶體管的集電極C，和PMOS or NMOS場(chǎng)效應(yīng)管的漏極D。同樣你可在電路圖中看見Vee和Vss，含義一樣。因?yàn)橹髁餍酒Y(jié)構(gòu)是硅NPN所以Vcc通常是正。如果用PNP結(jié)構(gòu)Vcc就為負(fù)了。建議選用芯片時(shí)一定要看清電氣參數(shù)
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AIoT（人工智能物聯(lián)網(wǎng)）=AI（人工智能）+IoT（物聯(lián)網(wǎng)）。 AIoT融合AI技術(shù)和IoT技術(shù)，通過(guò)物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)生、收集海量的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于云端、邊緣端，再通過(guò)大數(shù)據(jù)分析，以及更高形式的人工智能，實(shí)現(xiàn)萬(wàn)物數(shù)據(jù)化、萬(wàn)物智聯(lián)化，物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)與人工智能追求的是一個(gè)智能化生態(tài)體系，除了技術(shù)上需要不斷革新，技術(shù)的落地與應(yīng)用更是現(xiàn)階段物聯(lián)網(wǎng)與人工智能領(lǐng)域亟待突破的核心問(wèn)題。
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74LS00是一個(gè)內(nèi)部擁有四個(gè)獨(dú)立的二輸入與非門電路，它滿足與非門的邏輯功能，可以實(shí)現(xiàn)與非門的邏輯功能。共有54/7400、54/74H00、54/74S00、54/74LS00。54XXX
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功率放大器（英文名稱：power amplifier），簡(jiǎn)稱“功放”，是指在給定失真率條件下，能產(chǎn)生最大功率輸出以驅(qū)動(dòng)某一負(fù)載（例如揚(yáng)聲器）的放大器。

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