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標(biāo)簽 > 自動(dòng)測(cè)試
自動(dòng)測(cè)試,是使用具有一定自動(dòng)化能力的測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行的測(cè)量和試驗(yàn)。現(xiàn)代自動(dòng)測(cè)試是指利用電子計(jì)算機(jī)控制測(cè)量過(guò)程并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理直至給出結(jié)果。
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軟件測(cè)試方法一般分為兩種:白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試。其中,白盒測(cè)試又稱為結(jié)構(gòu)測(cè)試、邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試或基于程序本身的測(cè)試,著重于程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及算法,通常不關(guān)心功能...
2013-01-14 標(biāo)簽:測(cè)試自動(dòng)測(cè)試黑盒測(cè)試 1.5萬(wàn) 0
為保證測(cè)試一致性以及測(cè)試硬件的重復(fù)利用,器件結(jié)構(gòu)(testkey)都是有統(tǒng)一的PAD數(shù)以及PAD間距。測(cè)試pattern放置在PAD間。具體的標(biāo)準(zhǔn)需要向...
2022-08-09 標(biāo)簽:探針自動(dòng)測(cè)試測(cè)試機(jī) 1.3萬(wàn) 0
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備加流測(cè)壓及加壓測(cè)流的設(shè)計(jì)
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備是用于測(cè)試分立器件、集成電路、混合信號(hào)電路直流參數(shù)、交流參數(shù)和功能的測(cè)試設(shè)備。主要通過(guò)測(cè)試系統(tǒng)軟件控制測(cè)試設(shè)備各單元對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行測(cè)試,以判...
2011-04-23 標(biāo)簽:自動(dòng)測(cè)試加流測(cè)壓加壓測(cè)流 8123 1
盤(pán)點(diǎn)國(guó)內(nèi)ATE測(cè)試設(shè)備產(chǎn)業(yè)的領(lǐng)軍品牌
我國(guó)從90年開(kāi)始,在航空航天、軌道交通等領(lǐng)域,大力發(fā)展ATE設(shè)備,目前在國(guó)內(nèi),已形成完整的產(chǎn)業(yè)鏈,涌現(xiàn)了大量的龍頭企業(yè)。本文將為您介紹幾家在ATE測(cè)試設(shè)...
2024-07-11 標(biāo)簽:連接器自動(dòng)測(cè)試ATE測(cè)試 4840 0
分享ATE-Connect 測(cè)試技術(shù)對(duì)加快芯片調(diào)試的作用分析
盡管業(yè)界廣泛采用IJTAG(IEEE 1687)測(cè)試架構(gòu)進(jìn)行芯片級(jí)測(cè)試,但很多公司在芯片級(jí)測(cè)試向量轉(zhuǎn)換,以及自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE) 調(diào)試測(cè)試保留了非常...
2019-10-11 標(biāo)簽:人工智能自動(dòng)測(cè)試 4416 0
基于LabVIEW的單片機(jī)溫度自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
1 引 言 LabVIEW是美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instru-ment)開(kāi)發(fā)的一種虛擬儀器平臺(tái),他是一種用圖標(biāo)代碼來(lái)代替文本式編程語(yǔ)言創(chuàng)...
2012-08-03 標(biāo)簽:單片機(jī)Labview自動(dòng)測(cè)試 3511 2
電子測(cè)量?jī)x器的發(fā)展趨勢(shì):儀器性能更加優(yōu)異
進(jìn)入21世紀(jì)以來(lái),科學(xué)技術(shù)的發(fā)展已難以用日新月異來(lái)描述。新工藝、新材料、新的制造技術(shù)催生了新的一代電子元器件,同時(shí)也促使電子測(cè)量技術(shù)和電子測(cè)量?jī)x器產(chǎn)生...
2012-09-29 標(biāo)簽:測(cè)量?jī)x器自動(dòng)測(cè)試電子測(cè)量 2391 0
多總線融合式通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
本文基于PC104計(jì)算機(jī),提出了一種通用測(cè)試系統(tǒng)組建方式。該系統(tǒng)由控制器、測(cè)控總線、測(cè)控模件、測(cè)控儀器等組成,總線包括GPIB、VXI、MXI、 PXI...
2011-04-02 標(biāo)簽:總線自動(dòng)測(cè)試 2295 0
關(guān)于電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)你了解多少
電自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適用于:AC-DC/DC-AC(同時(shí)DC輸出)/DC-DC電源產(chǎn)品綜合性能測(cè)試。系統(tǒng)采用靈活的硬件框架結(jié)構(gòu),可根據(jù)客戶產(chǎn)品測(cè)試要求增加硬件...
2020-04-07 標(biāo)簽:電源測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試 2268 0
末制導(dǎo)雷達(dá)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
本通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)完成4種不同體制末制導(dǎo)雷達(dá)自動(dòng)測(cè)試任務(wù),具有體積小、結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)化、測(cè)試準(zhǔn)確度高、速度快,提高了雷達(dá)系統(tǒng)的維修性和保障性,增加戰(zhàn)備完好率和...
2011-03-07 標(biāo)簽:雷達(dá)自動(dòng)測(cè)試末制導(dǎo) 2080 0
IT8500G+電子負(fù)載自動(dòng)測(cè)試功能,降本增效的好幫手
在產(chǎn)品的研發(fā)過(guò)程和出廠發(fā)貨前,產(chǎn)品的測(cè)試是一個(gè)十分重要的環(huán)節(jié),測(cè)試的效率高低將影響研發(fā)進(jìn)度和交貨周期。所以提高產(chǎn)品測(cè)試效率的重要性不言而喻。
ATE-8200LED驅(qū)動(dòng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
1、專門(mén)使用于LED驅(qū)動(dòng)電源的綜合性能測(cè)試; 2、可支持同時(shí)一次測(cè)多顆待測(cè)物,可支持左右自動(dòng)轉(zhuǎn)換,大幅提升生產(chǎn)線產(chǎn)能; 3、針對(duì)LED驅(qū)動(dòng)電源特性提供最...
2020-04-14 標(biāo)簽:驅(qū)動(dòng)電源LED照明電源自動(dòng)測(cè)試 1863 0
測(cè)試效率是探針臺(tái)除定位精度外的一個(gè)重要 指標(biāo)。探針臺(tái)用戶希望在保證精度、穩(wěn)定性的前提 下,最大限度地提高探針臺(tái)的測(cè)試效率,來(lái)縮短生 產(chǎn)周期,降低成本。本...
2022-06-06 標(biāo)簽:探針自動(dòng)測(cè)試 1807 0
基于USB通信技術(shù)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)ATS(Automatic Test System)集成測(cè)試所需的全部激勵(lì)與測(cè)量設(shè)備,計(jì)算機(jī)高效完成各種模式的激勵(lì)及響應(yīng)信號(hào)的采集、存儲(chǔ)與分...
2011-10-25 標(biāo)簽:自動(dòng)測(cè)試USB通信 1687 0
華穗科技T/R組件自動(dòng)測(cè)試設(shè)備滿足多個(gè)型號(hào)T/R產(chǎn)品的測(cè)試需求
? 當(dāng)前T/R組件性能測(cè)試工作的主要測(cè)試流程及數(shù)據(jù)記錄已經(jīng)逐步實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化,但是產(chǎn)品更換、型號(hào)錄入以及接口插拔等輔助準(zhǔn)備工作仍由人工完成,且1人只能同時(shí)...
2023-09-08 標(biāo)簽:接口自動(dòng)化自動(dòng)測(cè)試 1616 0
泰克推出針對(duì)SFP+標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)測(cè)試和調(diào)試解決方案
泰克公司日前宣布,推出用于SFF-8431、SFP+ PHY和SFP+直連電纜規(guī)范“10GSFP+CU”測(cè)量的首款完善的自動(dòng)測(cè)試和調(diào)試解決方案,可顯著減...
2011-09-06 標(biāo)簽:泰克自動(dòng)測(cè)試 1593 0
反潛自導(dǎo)魚(yú)雷聲制導(dǎo)頭的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
本文主要設(shè)計(jì)了用于某型反潛自導(dǎo)魚(yú)雷聲制導(dǎo)頭的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。首先對(duì)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展現(xiàn)狀、組成以及被測(cè)試聲制導(dǎo)頭的組成和工作原理作了介紹。然后對(duì)測(cè)試方法和
2010-12-23 標(biāo)簽:聲制導(dǎo)頭自動(dòng)測(cè)試 1585 0
VTM 支持高開(kāi)關(guān)頻率,因而支持極高的功率密度,是非常小巧的輕量級(jí)組件。這是用來(lái)減輕測(cè)試頭重量的主要組件。VTM 極高的效率不僅降低了測(cè)試頭上所生成的熱...
2022-05-06 標(biāo)簽:芯片IC自動(dòng)測(cè)試 1540 0
Bettersize2000E激光粒度儀是一種采用單光束雙鏡頭技術(shù)的智能型激光粒度儀,其中測(cè)試范圍達(dá)0.04-2000um,所有操作全部在電腦控制下自動(dòng)...
2020-04-16 標(biāo)簽:自動(dòng)測(cè)試激光粒度儀分析軟件 1520 0
射頻無(wú)源器件性能測(cè)試項(xiàng)目有哪些?
射頻無(wú)源器件是無(wú)線通訊設(shè)備的基礎(chǔ)零部件之一,在無(wú)線通訊領(lǐng)域發(fā)揮著重要的作用,即在發(fā)射信號(hào)的過(guò)程中將二進(jìn)制數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換成高頻率的無(wú)線電磁波信號(hào);在接收信號(hào)...
2021-11-21 標(biāo)簽:射頻無(wú)源器件自動(dòng)測(cè)試 1386 0
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