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NI SMU助力AI算法企業(yè)成為半導(dǎo)體測試新勢力
近日,基于美國國家儀器 (National Instruments,以下簡稱“NI”) 的PXI源測量單元 (SMU),專注利用人工智能驅(qū)動半導(dǎo)體測試測...
【當(dāng)代材料電學(xué)測試課堂】系列之一: 納米測試(上)
納米材料的表征包括成分分析,顆粒分析,結(jié)構(gòu)分析,性能分析,分析方法以電鏡分析為主,特別是掃描隧道電鏡(SMT),在導(dǎo)體和半導(dǎo)體納米材料分析上具有優(yōu)勢。
【技術(shù)大咖測試筆記系列】之九:新型SMU克服低電流容性設(shè)置的棘手測試挑戰(zhàn)
與其他靈敏的SMU相比,新推出的Keithley 4201-SMU中等功率SMU和4211-SMU高功率SMU (選配4200-PA前置放大器)大幅度提...
【當(dāng)代材料電學(xué)測試】系列之一:納米測試(下)
采用高內(nèi)阻的靜電計6517+數(shù)據(jù)采集儀DMM6500+納米發(fā)電采集軟件來進行微小納米發(fā)電電流數(shù)據(jù)采集。
如何用半導(dǎo)體參數(shù)分析儀進行斜坡法準(zhǔn)靜態(tài)C-V測量?
電容電壓(C-V)測量通常采用交流測量技術(shù)。而一些電容測量需要直流測量技術(shù),被稱為準(zhǔn)靜態(tài)C-V(或QSCV)測量,因為它們是在非常低的測試頻率下進行的,...
數(shù)字源表也稱為源測量單元(SMU),集數(shù)字萬用表、電壓源、電流源、電子負(fù)載以及脈沖發(fā)生器、波形發(fā)生器等功能于一體,同時可精確限流保護器件不受損壞。在功率...
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