目前廣泛用于集成電路封裝測(cè)試的設(shè)備是由計(jì)算機(jī)軟件控制,通過(guò)接口總線與硬件設(shè)備通信,能夠代替測(cè)試人員的大部分勞動(dòng),也稱為自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)(ATE)。
2014-12-08 15:08:03
2322 
數(shù)字集成電路的測(cè)試主要包括直流參數(shù)測(cè)試 (DC Test)、交流參數(shù)測(cè)試(AC Test)、功能測(cè)試(Function Test)、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)測(cè)試等。典型的數(shù)字集成電路測(cè)試順序如圖所示。
2023-05-26 10:08:33
2214 
2022年中國(guó)大陸集成電路設(shè)計(jì)人才需求報(bào)告下載地址2022年中國(guó)大陸集成電路設(shè)計(jì)人才需求報(bào)告-電子電路圖,電子技術(shù)資料網(wǎng)站 (elecfans.com)集成電路產(chǎn)業(yè)是支撐國(guó)家經(jīng)濟(jì)社會(huì)發(fā)展和保障
2022-08-17 16:18:05
555集成電路,需要的朋友可以看一下
2019-12-21 17:19:33
555集成電路800例應(yīng)用點(diǎn)擊下載
2018-07-26 21:34:19
555集成電路實(shí)用大全555集成電路實(shí)用大全介紹國(guó)內(nèi)外最通用的555時(shí)間集成電路(包括雙極型和MOS型,單雙時(shí)間電路)在38個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域的500多個(gè)應(yīng)用實(shí)例,諸如安全、節(jié)電、充電、電話、傳真、遙控
2009-03-29 11:47:49
本帖最后由 ***s666 于 2013-10-5 21:41 編輯
555集成電路應(yīng)用800例
2013-10-05 21:01:07
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 09:57 編輯
555集成電路應(yīng)用800例
2012-04-07 16:49:12
本帖最后由 gk320830 于 2015-3-8 19:49 編輯
555集成電路應(yīng)用800例
2012-04-07 13:56:41
555集成電路應(yīng)用800例
2012-04-07 17:03:58
` 本帖最后由 azsxdcfv1871514 于 2013-1-6 14:56 編輯
555集成電路應(yīng)用800例(新編版)`
2012-08-01 21:57:32
7805集成電路圖
2008-10-13 12:28:46
本文對(duì)L80C186-10的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及各部件功能塊測(cè)試做了詳細(xì)介紹。
2021-05-07 06:55:34
L定義了與初始流明相比的流明百分比。意思是用工作了一段時(shí)間的燈具光通量和燈具初始光通量進(jìn)行比值操作。L70表示光通量衰減到了初始光通量的70%,L80表示衰減到原來(lái)的80%,L90表示衰減到了原來(lái)
2020-07-02 09:58:44
L定義了與初始流明相比的流明百分比。意思是用工作了一段時(shí)間的燈具光通量和燈具初始光通量進(jìn)行比值操作。L70表示光通量衰減到了初始光通量的70%,L80表示衰減到原來(lái)的80%,L90表示衰減到了原來(lái)
2020-07-02 11:05:40
千赫可編程交叉?zhèn)鲗?dǎo)保護(hù)時(shí)間過(guò)壓、欠壓、短路電路和熱保護(hù)實(shí)時(shí)診斷2.說(shuō)明具有ISO 9141總線接口的汽車用功率MOS橋式驅(qū)動(dòng)器控制電路。如果外部施加的電壓或電流超過(guò)這些限值,則可能會(huì)損壞設(shè)備!集成電路
2020-09-08 17:49:04
`在無(wú)線電設(shè)備中,集成電路的應(yīng)用愈來(lái)愈廣泛,對(duì)集成電路應(yīng)用電路的識(shí)圖是電路分析中的一個(gè)重點(diǎn),也是難點(diǎn)之一。1集成電路應(yīng)用電路圖功能集成電路應(yīng)用電路圖具有下列一些功能:①它表達(dá)了集成電路各引腳外電路
2018-06-08 14:27:35
集成塊N80C186能否用N80C196替換
2010-04-02 15:09:23
集成塊N80C186能否用N80C196替換。
2010-04-02 15:23:28
隨著集成電路的逐漸開(kāi)發(fā),集成電路測(cè)試儀從最開(kāi)始的小規(guī)模集成電路逐漸發(fā)展到中規(guī)模、大規(guī)模甚至超大規(guī)模集成電路。集成電路測(cè)試儀分為三大類別:模擬與混合信號(hào)電路測(cè)試儀、數(shù)字集成電路測(cè)試儀、驗(yàn)證系統(tǒng)、在線測(cè)試系統(tǒng)、存儲(chǔ)器測(cè)試儀等。目前,智能、簡(jiǎn)單快捷、低成本的集成電路測(cè)試儀是市場(chǎng)上的熱門。
2019-08-21 07:25:36
集成電路測(cè)試和驗(yàn)證的區(qū)別是什么?
2021-09-27 06:19:12
功能: ①它表達(dá)了集成電路各引腳外電路結(jié)構(gòu)、元器件參數(shù)等,從而表示了某一集成電路的完整工作情況。 ②有些集成電路應(yīng)用電路中,畫(huà)出了集成電路的內(nèi)電路方框圖,這時(shí)對(duì)分析集成電路應(yīng)用電路是相當(dāng)方便
2018-07-13 09:27:07
` 集成電路按生產(chǎn)過(guò)程分類可歸納為前道測(cè)試和后到測(cè)試;集成電路測(cè)試技術(shù)員必須了解并熟悉測(cè)試對(duì)象—硅晶圓。測(cè)試技術(shù)員應(yīng)該了解硅片的幾何尺寸形狀、加工工藝流程、主要質(zhì)量指標(biāo)和基本檢測(cè)方法;集成電路晶圓測(cè)試基礎(chǔ)教程ppt[hide][/hide]`
2011-12-02 10:20:54
`請(qǐng)問(wèn)集成電路板上的線是什么?`
2019-10-31 16:59:25
短路。電壓測(cè)量或用示波器探頭測(cè)試波形時(shí),袁筆或探頭滑動(dòng)會(huì)造成集成電路引腳間短路,最好在與引腳直接連通的外圍印刷電路上進(jìn)行測(cè)量。任何瞬間的短路都容易損壞集成電路,在測(cè)試扁平型封裝的CMOS集成電路時(shí)更要
2012-09-05 20:21:39
生產(chǎn)商也要考慮自己產(chǎn)品電磁兼容方面的問(wèn)題。 集成電路電磁兼容的標(biāo)準(zhǔn)化 由于集成電路的電磁兼容是一個(gè)相對(duì)較新的學(xué)科,盡管對(duì)于電子設(shè)備及子系統(tǒng)已經(jīng)有了較詳細(xì)的電磁兼容標(biāo)準(zhǔn),但對(duì)于集成電路來(lái)說(shuō)其測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)卻相對(duì)
2014-11-17 09:49:17
正規(guī)的集成電路設(shè)計(jì)公司在進(jìn)行片上系統(tǒng)(SoC)設(shè)計(jì)時(shí)都有明確的崗位分工,甚至?xí)圆块T的形式來(lái)區(qū)分各部分的職責(zé),而且很多時(shí)候集成電路設(shè)計(jì)公司還會(huì)提供整體解決方案,包括芯片、軟件和硬件,生產(chǎn)商直接按這個(gè)
2018-08-20 09:40:14
(VLSI)設(shè)計(jì),直至當(dāng)代數(shù)百萬(wàn)至數(shù)億門邏輯電路的專用集 成電路(ASIC)或片上系統(tǒng)(System on Chip,簡(jiǎn)稱 SoC)設(shè)計(jì)。集成電路設(shè)計(jì)也逐漸演變成集成 系統(tǒng)設(shè)計(jì)。IC 規(guī)模的增大,速度的提高
2018-05-04 10:20:43
AEC-Q100-004集成電路閂鎖效應(yīng)測(cè)試AEC-Q100-005 可寫(xiě)可擦除的永久性記憶的耐久性,數(shù)據(jù)保持及工作壽命的測(cè)試AEC-Q100-006 熱電效應(yīng)引起的寄生閘極漏電流測(cè)試AEC-Q100-007
2019-12-13 11:14:07
EL燈驅(qū)動(dòng)器,它采用Supertex HV857集成電路提供六個(gè)EL驅(qū)動(dòng)電路。它們已針對(duì)各種應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化,可以按原樣使用,也可以作為設(shè)計(jì)特定應(yīng)用電路的起點(diǎn)
2019-07-26 08:38:58
`KZT eMCP186l轉(zhuǎn)USB接口 eMCP162下壓燒錄座 測(cè)試座 測(cè)試方法 1.選擇和IC匹配的限位框,把IC按方向平放入SOCKET內(nèi) 2.把USB線插到電腦上USB接口,打開(kāi)座子
2020-09-04 16:59:13
的70%,L80表示衰減到原來(lái)的80%,L90表示衰減到了原來(lái)的90%。B值表示L數(shù)據(jù)處的故障數(shù)據(jù)。B10表示有10%的LED無(wú)法達(dá)到要求的。因此,LB值表示某個(gè)小時(shí)的實(shí)際壽命。L/B是燈具壽命標(biāo)準(zhǔn)
2021-01-14 19:18:53
` L定義了與初始流明相比的流明百分比。意思是用工作了一段時(shí)間的燈具光通量和燈具初始光通量進(jìn)行比值操作。L70表示光通量衰減到了初始光通量的70%,L80表示衰減到原來(lái)的80%,L90表示衰減
2021-03-02 11:13:21
LM3361集成電路的內(nèi)電路結(jié)構(gòu)是什么?LM3361集成電路的電性能參數(shù)與典型應(yīng)用電路有哪些?
2021-04-21 06:52:32
。由于VD1、VD2的存在,C3、C4在電路中只充電不放電,充電最大值為EC,將B端接地,在A、C兩端就得到+/-EC的雙電源。本電路輸出電流超過(guò)50mA。PCB板和集成電路的區(qū)別集成電路是一般是指芯片
2018-09-28 11:52:18
在無(wú)線電設(shè)備中,集成電路的應(yīng)用愈來(lái)愈廣泛,對(duì)集成電路應(yīng)用電路的識(shí)圖是電路分析中的一個(gè)重點(diǎn),也是難點(diǎn)之一。1集成電路應(yīng)用電路圖功能集成電路應(yīng)用電路圖具有下列一些功能:①它表達(dá)了集成電路各引腳外電路結(jié)構(gòu)
2018-06-21 20:27:26
,而大型測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格昂貴。本文介紹了為此項(xiàng)目研制的一種數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng),可測(cè)電平范圍達(dá)±32V,使用方便,且成本較低。 測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)及工作原理 系統(tǒng)需要對(duì)集成電路進(jìn)行功能測(cè)試和直流參數(shù)測(cè)試。功能
2018-11-29 14:55:26
特定功能的電路。2集成電路的分類①功能結(jié)構(gòu)集成電路,又稱為IC,按其功能、結(jié)構(gòu)的不同,可以分為模擬集成電路、數(shù)字集成電路和數(shù)/模混合集成電路三大類。模擬集成電路又稱線性電路,用來(lái)產(chǎn)生、放大和處...
2021-07-29 07:25:59
集成電路(IC)的靜電放電(ESD)強(qiáng)固性可藉多種測(cè)試來(lái)區(qū)分。最普遍的測(cè)試類型是人體模型(HBM)和充電器件模型(CDM)。什么是小尺寸集成電路CDM測(cè)試??jī)烧咧g有什么區(qū)別?
2019-08-07 08:17:22
這個(gè)50瓦音頻放大器電路電子項(xiàng)目使用TDA7850集成電路設(shè)計(jì),這是一種非常簡(jiǎn)單的AB類功率放大器,采用MOSFET技術(shù)設(shè)計(jì),僅使用很少的外部元件。
50 瓦音頻放大器電路通常必須由 14.4 伏
2023-09-08 17:05:37
請(qǐng)問(wèn)有誰(shuí)對(duì)集成電路測(cè)試機(jī)校準(zhǔn)比較了解啊?1、不同的設(shè)備校準(zhǔn)方法有沒(méi)有區(qū)別?2、廠家校準(zhǔn)的話一般要多少錢?3、校準(zhǔn)不同設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)器是否相同?謝謝了
2010-11-09 21:31:58
關(guān)于TTL集成電路與CMOS集成電路看完你就懂了
2021-09-28 09:06:34
采用TDA4605集成電路的開(kāi)關(guān)電源電路
2019-09-27 07:40:16
555集成電路應(yīng)用800例,很多很實(shí)用的電路,在生活中都很實(shí)用
2015-05-09 14:22:10
靜電放電(ESD)會(huì)對(duì)集成電路會(huì)造成什么樣的影響?如何進(jìn)行ESD測(cè)試?
2021-04-07 06:29:14
電子技術(shù)的電控電路常采用CMOS邏輯控制系統(tǒng),通過(guò)多年的維修實(shí)踐,我們自行設(shè)計(jì)和安裝了簡(jiǎn)易集成邏輯門電路測(cè)試儀。只要掌握了各種邏輯門電路輸入和輸出的邏輯關(guān)系,通過(guò)該測(cè)試儀即可很快判斷集成電路的好壞。
2021-05-07 06:04:49
芯片;5. 可測(cè)試AD/DA芯片,放大器,比較器,三極管,光耦等集成電路芯片;6. 驅(qū)動(dòng)程序支持win2000/ winxp/ win2003/win7;7. 測(cè)試儀軟硬件獨(dú)立設(shè)計(jì),芯片庫(kù)可在線實(shí)時(shí)更新, 簡(jiǎn)單易用;8.可根據(jù)用戶提供的芯片,進(jìn)行測(cè)試(需定制);
2013-04-28 16:17:07
BH1750FVI是什么?怎樣去編寫(xiě)B(tài)H1750FVI集成電路的測(cè)試程序呢?
2022-03-09 06:22:31
新編555集成電路800例,特全的555應(yīng)用,有用的孩兒們記得下載撒
2013-03-27 20:39:01
隨著集成電路制造技術(shù)的進(jìn)步,人們已經(jīng)能制造出電路結(jié)構(gòu)相當(dāng)復(fù)雜、集成度很高、功能各異的集成電路。但是這些高集成度,多功能的集成塊僅是通過(guò)數(shù)目有限的引腳完成和外部電路的連接,這就給判定集成電路的好壞帶來(lái)不少困難。
2019-08-20 08:14:59
大家好,我正在嘗試用USB2642集成電路設(shè)計(jì)一個(gè)簡(jiǎn)單的USB到eMMC接口。我用評(píng)估板的原理圖作為路線圖,試圖制作我自己的示意圖。到目前為止,我做了以下工作:->連接USB引腳
2019-11-07 13:07:32
用proteus仿真了555集成電路組成的模擬頻率計(jì)和555任意分頻電路的組合,無(wú)任何反應(yīng),不知是原理不對(duì)還是什么問(wèn)題,
2017-07-04 20:42:31
各引腳外電路結(jié)構(gòu)、元器件參數(shù)等,從而表示了某一集成電路的完整工作情況。 ②有些集成電路應(yīng)用電路中,畫(huà)出了集成電路的內(nèi)電路方框圖,這時(shí)對(duì)分析集成電路應(yīng)用電路是相當(dāng)方便的,但這種表示方式不多
2015-08-20 15:59:42
向VLSI方向發(fā)展。專用集成電路(ASIC)是指專門為某一應(yīng)用領(lǐng)域或?qū)iT用戶需要而設(shè)計(jì)、制造的集成電路。它可以將某些專業(yè)電路或電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)在一個(gè)芯片上,構(gòu)成單片集成系統(tǒng),即片上系統(tǒng)
2019-02-26 09:51:21
如何判定集成電路的好壞?集成電路的測(cè)試有什么技巧?
2021-04-14 06:51:19
的存在,C3、C4在電路中只充電不放電,充電最大值為EC,將B端接地,在A、C兩端就得到+/-EC的雙電源。本電路輸出電流超過(guò)50mA。 PCB板和集成電路的區(qū)別 集成電路是一般是指芯片的集成,像主板
2018-06-16 11:41:48
引入 邏輯門是組成各類數(shù)字邏輯電路的基本邏輯器件。 集成電路(集成電路芯片):實(shí)現(xiàn)各種邏輯功能的元器件及其連線都集中制造在同一塊半導(dǎo)體材料小片上,封裝在一個(gè)殼體中。 采用集成電路進(jìn)行數(shù)字系統(tǒng)
2022-01-20 08:28:35
集成電路性能、質(zhì)量的關(guān)鍵手段之一。目前廣泛用于集成電路封裝測(cè)試的設(shè)備是由計(jì)算機(jī)軟件控制,通過(guò)接口總線與硬件設(shè)備通信,能夠代替測(cè)試人員的大部分勞動(dòng),也稱為自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)(ATE)。其工作原理是:在
2019-05-30 05:00:02
該報(bào)警系統(tǒng)電路采用UM3561集成電路設(shè)計(jì),可用于使用少量電子部件的各種報(bào)警系統(tǒng)。
此 UM3561 報(bào)警系統(tǒng)電路項(xiàng)目只需很少的電子部件,由簡(jiǎn)單的 3 伏直流電源供電。
T1晶體管可在
2023-08-04 17:06:27
集成電路電磁騷擾測(cè)試方法:摘要:本文分析了高頻數(shù)字集成電路產(chǎn)生電磁發(fā)射的原因及其電磁發(fā)射的測(cè)量原理,簡(jiǎn)要說(shuō)明了集成電路電磁騷擾的幾種測(cè)試方法及其理論依據(jù),介紹
2009-10-07 23:01:48
33 本文介紹了集成電路電磁兼容測(cè)試的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試方法。對(duì)其中的1Ω/150Ω直接耦合法和工作臺(tái)法拉第籠法進(jìn)行了詳細(xì)介紹和分析,并提出集成電路電磁兼容測(cè)試平臺(tái)解決方案以滿
2009-10-07 23:03:07
48 《VXI 數(shù)模混合集成電路測(cè)試系統(tǒng)》的開(kāi)發(fā),對(duì)于集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證、集成電路測(cè)試都有著極其重要的意義。VXI 總線測(cè)試系統(tǒng)由于其開(kāi)放性、可擴(kuò)展性及模塊化結(jié)構(gòu)使其應(yīng)用廣泛
2009-12-19 15:23:16
23 集成電路EMC測(cè)試系統(tǒng)-依據(jù)IEC 61967-4的IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)-傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量方法--1Ω/150Ω 直接耦合法:集成電路電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),目前出版的有集成電路電磁發(fā)射測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEC61967和集
2010-07-18 10:28:39
42 集成電路的特性測(cè)試
一、實(shí)驗(yàn)要求利用實(shí)驗(yàn)室提供的各種系列的芯片,通過(guò)芯片測(cè)試儀對(duì)其測(cè)試。二、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?.學(xué)習(xí)使用
2008-09-24 10:52:35
1515 中規(guī)模集成電路功能測(cè)試儀的設(shè)計(jì)
設(shè)計(jì)了一款針對(duì)學(xué)校實(shí)驗(yàn)室常用的中規(guī)模集成電路芯片的功能測(cè)試儀。測(cè)試儀的核心AT89C55單片機(jī)管理和控制整個(gè)
2009-09-19 09:15:47
1014 
基于虛擬儀器技術(shù)的混合集成電路測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
設(shè)計(jì)了一種基于虛擬儀器技術(shù)的混合集成電路的性能參數(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。簡(jiǎn)要介紹了測(cè)控
2009-10-13 18:57:27
1374 
一種數(shù)字
集成電路測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
隨著數(shù)字
集成電路的廣泛應(yīng)用,
測(cè)試系統(tǒng)就顯得越來(lái)越重要。在網(wǎng)絡(luò)化
集成電路可靠性試驗(yàn)及
測(cè)試系統(tǒng)項(xiàng)目中,需要檢驗(yàn)?zāi)承┚哂袑?/div>
2009-11-10 10:40:44
756 
集成電路測(cè)試儀電源電路的仿真設(shè)計(jì)研究與應(yīng)用
0 引 言
集成電路測(cè)試儀可用來(lái)測(cè)量集成電路的好壞,在電子實(shí)驗(yàn)室中應(yīng)用廣泛。在實(shí)際使用中,發(fā)現(xiàn)部分廠家
2009-11-21 09:33:14
520 
集成電路測(cè)試儀電源電路的仿真設(shè)計(jì)研究與應(yīng)用
0 引 言
集成電路測(cè)試儀可用來(lái)測(cè)量集成電路的好壞,在電子實(shí)驗(yàn)室中應(yīng)用廣泛。在實(shí)際使
2009-11-23 08:55:27
666 集成電路測(cè)試是保證集成電路質(zhì)量、發(fā)展的關(guān)鍵手段。CMOS 器件進(jìn)入超深亞微米階段, 集成電路繼續(xù)向高集成度、高速度、低功耗發(fā)展, 使得IC 在測(cè)試和可測(cè)試性設(shè)計(jì)上都面臨新的挑戰(zhàn)。
2011-05-20 16:48:20
83 大容量存儲(chǔ)器集成電路的測(cè)試系統(tǒng)是科技型中小企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新基金項(xiàng)目,是根據(jù)大容量存儲(chǔ)器集成電路SDRAM、DDR SDRAM和:flash RAM的發(fā)展趨勢(shì)而研究開(kāi)發(fā)的測(cè)試系統(tǒng)。方案的主要內(nèi)容為測(cè)試
2012-04-26 10:54:22
1761 基于集成電路應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證的失效機(jī)理中文版
2016-02-25 16:08:11
10 電子專業(yè)單片機(jī)相關(guān)知識(shí)學(xué)習(xí)教材資料——很好的集成電路測(cè)試資料
2016-09-01 16:40:07
0 電子專業(yè)單片機(jī)相關(guān)知識(shí)學(xué)習(xí)教材資料—集成電路測(cè)試技術(shù)簡(jiǎn)單介紹
2016-09-01 17:24:53
0 通過(guò)對(duì)IMS 公司生產(chǎn)的集成電路測(cè)試系統(tǒng)ATS 的描述,討論了集成電路(IC)的測(cè)試技術(shù)及其在ATS 上的應(yīng)用方法,并以大規(guī)模集成電路芯片8255 為例,給出一種芯片在該集成電路測(cè)試系統(tǒng)上從功能分析到具體測(cè)試的使用過(guò)程。
2016-09-01 17:24:53
0 LYB-100集成電路測(cè)試系統(tǒng),是遼陽(yáng)儀器儀表高新技術(shù)有限公司為集成電路器件參數(shù)的快速、準(zhǔn)確、無(wú)損測(cè)試而研制的綜合系統(tǒng),它由運(yùn)行于上位機(jī)(PC機(jī))的系統(tǒng)軟件和通過(guò)串行口連接的對(duì)集成電路器件進(jìn)行測(cè)控的系列集成電路測(cè)試儀組成。
2017-09-07 18:32:36
10 本文以集成電路測(cè)試儀為中心、主要介紹了什么是集成電路測(cè)試儀、集成電路測(cè)試儀有哪些種類、電路測(cè)試儀的組成以及集成電路測(cè)試儀的選購(gòu)技巧。
2017-12-20 11:33:51
13078 電子技術(shù)的電控電路常采用CMOS邏輯控制系統(tǒng),通過(guò)多年的維修實(shí)踐,我們自行設(shè)計(jì)和安裝了簡(jiǎn)易集成邏輯門電路測(cè)試儀。只要掌握了各種邏輯門電路輸入和輸出的邏輯關(guān)系,通過(guò)該測(cè)試儀即可很快判斷集成電路的好壞。
2019-02-06 19:19:00
8004 
測(cè)試儀、模擬與混合信號(hào)電路測(cè)試儀、在線測(cè)試系統(tǒng)和驗(yàn)證系統(tǒng)等。目前市場(chǎng)上的測(cè)試儀產(chǎn)品功能較單一,價(jià)格非常昂貴,給電路的測(cè)試、維護(hù)帶來(lái)不便。因此,研究開(kāi)發(fā)簡(jiǎn)單快捷、具有一定智能化的集成電路測(cè)試儀有很高的實(shí)用價(jià)值。
2020-08-24 16:05:29
1899 
? 集成電路產(chǎn)品EMC測(cè)試系統(tǒng)是嚴(yán)格按照IEC 61967和IEC 62132系列進(jìn)行設(shè)計(jì),整套系統(tǒng)的功能和性能不僅能夠滿足上述兩大類標(biāo)準(zhǔn)要求的測(cè)試項(xiàng)目。而且在系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)具有創(chuàng)新性、實(shí)踐可行性
2020-12-28 10:41:57
3715 越來(lái)越多的人認(rèn)識(shí)到了集成電路IC對(duì)電子工業(yè)的重要性,對(duì)集成電路的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的投入也越來(lái)越大。集成電路的電磁兼容也同樣重要,電磁兼容EMC的測(cè)試,可以分成組部件級(jí),設(shè)備級(jí)和系統(tǒng)級(jí),每個(gè)級(jí)別都有相應(yīng)的EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
2021-01-04 16:53:30
5640 
集成電路封裝測(cè)試與可靠性分析。
2021-04-09 14:21:51
110 基于ATE的集成電路測(cè)試原理和方法綜述
2021-06-17 09:34:44
115 基于基于Qt的集成電路測(cè)試軟件設(shè)計(jì)方案
2021-06-19 12:02:35
30 來(lái)源:華嶺股份 2022年10月28日,上海訊——10月28日,上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司(以下簡(jiǎn)稱:華嶺股份,股票代碼:430139.BJ)成功登陸北京證券交易所。華嶺股份本次發(fā)行4000
2022-10-28 16:10:51
536 集成電路測(cè)試可以按照測(cè)試目的、測(cè)試內(nèi)容、按照器件開(kāi)發(fā)和制造階段分類。參照需要達(dá)到的測(cè)試目的對(duì)集成電路測(cè)試進(jìn)行分類,可以分為:驗(yàn)證測(cè)試、制造測(cè)試、老化測(cè)試、入廠測(cè)試等。按照測(cè)試所涉及內(nèi)容,集成電路測(cè)試
2023-04-25 15:58:33
468 集成電路進(jìn)人后摩爾時(shí)代以來(lái),安全、可靠的軟硬件協(xié)同設(shè)計(jì)、冗余定制、容錯(cuò)體系結(jié)構(gòu)和協(xié)議、光機(jī)電一體化等新的設(shè)計(jì)趨勢(shì)促使片內(nèi)測(cè)試 (On-ChipTest)/片外測(cè)試(OIf-Chip Test) 整體
2023-05-25 09:48:39
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集成電路封裝測(cè)試是指對(duì)集成電路封裝進(jìn)行的各項(xiàng)測(cè)試,以確保封裝的質(zhì)量和性能符合要求。封裝測(cè)試通常包括以下內(nèi)容。
2023-05-25 17:32:52
1382 集成電路芯片的測(cè)試(ICtest)分類包括:分為晶圓測(cè)試(wafertest)、芯片測(cè)試(chiptest)和封裝測(cè)試(packagetest)。
2023-06-14 15:33:36
697 集成電路(Integrated Circuit,簡(jiǎn)稱IC)芯片的三大測(cè)試環(huán)節(jié)包括前端測(cè)試、中間測(cè)試和后端測(cè)試。
2023-06-26 14:30:05
895 如何用集成電路芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化? 集成電路芯片老化測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估芯片長(zhǎng)期使用后性能穩(wěn)定性的測(cè)試設(shè)備。隨著科技的進(jìn)步和電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用,人們對(duì)芯片的可靠性要求日益增高,因此老化測(cè)試
2023-11-10 15:29:05
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評(píng)論