物聯(lián)網(wǎng)、大數(shù)據(jù)和AI技術(shù)正在對(duì)芯片性能、功率、面積成本和上市時(shí)間(簡(jiǎn)稱(chēng)PPACt)提出新的要求,這些要求已經(jīng)超出了經(jīng)典摩爾定律的范圍。這催生了一種新的解決方案,其中一個(gè)關(guān)鍵技術(shù)是先進(jìn)封裝,用于支撐異構(gòu)設(shè)計(jì)和集成各種類(lèi)似或不同芯片。設(shè)計(jì)者可以將各種節(jié)點(diǎn)和晶圓尺寸的CMOS芯片與其他功能(包括電源、射頻和光子學(xué))集成。他們可以結(jié)合來(lái)自不同IDMs和晶圓廠的硅片來(lái)創(chuàng)建異構(gòu)芯片、子系統(tǒng)或高度集成系統(tǒng)。簡(jiǎn)而言之,它可以使設(shè)計(jì)和制造靈活性達(dá)到一個(gè)新水平,從而解決芯片PPACt。
最近在舊金山舉行的IEEE國(guó)際電子設(shè)備會(huì)議(IEDM)上舉行了一個(gè)杰出小組討論,由Applied Regina Freed主持,來(lái)自Facebook、IBM、英特爾、斯坦福大學(xué)和臺(tái)積電的專(zhuān)家參加了研討會(huì)。本文將重點(diǎn)介紹小組成員對(duì)異構(gòu)設(shè)計(jì)和先進(jìn)包裝的看法,并分享Applied在這一領(lǐng)域正在進(jìn)行的一些創(chuàng)新工作,以幫助實(shí)現(xiàn)邏輯領(lǐng)域下一個(gè)十年的進(jìn)步。
小組成員討論了可以從先進(jìn)封裝中受益的兩大產(chǎn)業(yè):云計(jì)算和5G。超規(guī)模計(jì)算架構(gòu)師正在尋找新的方法,以在恒定或較低的功耗下實(shí)現(xiàn)更高的性能。5G基礎(chǔ)設(shè)施和設(shè)備設(shè)計(jì)者還將信號(hào)完整性、尺寸、散熱和成本放在首位。
異構(gòu)設(shè)計(jì)和高級(jí)封裝提供了超越2D擴(kuò)展的新方法,以實(shí)現(xiàn)工程師所期望的優(yōu)化。功能系統(tǒng)塊不需要應(yīng)用最新節(jié)點(diǎn),可以在成熟節(jié)點(diǎn)上制造,這使重用現(xiàn)有的邏輯設(shè)計(jì)成為可能。重用現(xiàn)有設(shè)計(jì)可以降低硅的成本,縮短設(shè)計(jì)時(shí)間,加快量產(chǎn)和面市時(shí)間,這是在有前景的新市場(chǎng)建立領(lǐng)導(dǎo)地位的關(guān)鍵因素。此外,先進(jìn)的封裝可用于縮短芯片互連、減少寄生,從而顯著提高數(shù)據(jù)速率和整體性能。
英特爾高級(jí)首席工程師兼工藝與產(chǎn)品集成技術(shù)開(kāi)發(fā)組主任Ramune Nagisetty在會(huì)議上表示:“我堅(jiān)信先進(jìn)的封裝技術(shù)將推動(dòng)摩爾定律的發(fā)展。未來(lái)是先進(jìn)封裝和可互操作芯片的規(guī)模專(zhuān)業(yè)化。我預(yù)測(cè)一個(gè)行業(yè)規(guī)模的生態(tài)系統(tǒng)將圍繞chiplet library的概念發(fā)展,在這個(gè)概念中,你可以將一個(gè)舊的技術(shù)節(jié)點(diǎn)替換為一個(gè)新的技術(shù)節(jié)點(diǎn),例如在高速內(nèi)核中。然后你可以在特定的節(jié)點(diǎn)中混合特定功能,比如電能傳輸,內(nèi)存,或者特定類(lèi)型的加速器(如GPU)。這基本上是把高度劃分芯片技術(shù)帶入先進(jìn)的封裝領(lǐng)域。”
Applied在新加坡的先進(jìn)封裝開(kāi)發(fā)中心致力于使該行業(yè)能夠在異構(gòu)集成方面取得突破。該工廠是世界上最先進(jìn)的晶圓封裝實(shí)驗(yàn)室之一,專(zhuān)注于開(kāi)發(fā)晶圓級(jí)系統(tǒng)和工藝技術(shù)解決方案,以實(shí)現(xiàn)異構(gòu)封裝集成的未來(lái)路線圖。
他們通過(guò)實(shí)現(xiàn)異構(gòu)集成的基本“構(gòu)建模塊”,即高級(jí)凹凸和微凹凸(1D)、細(xì)線重分布層(RDL-2D)、透硅通道(TSV-3D)和混合互連(HBI-3D)來(lái)實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)。除了單元級(jí)流程之外,Applied及其合作伙伴正在為這些構(gòu)建塊開(kāi)發(fā)全流程解決方案,并通過(guò)內(nèi)部設(shè)計(jì)的測(cè)試工具驗(yàn)證它們。
原文鏈接:
https://blog.appliedmaterials.com/future-of-logic
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