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晶振應(yīng)用中常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法

GReq_mcu168 ? 來(lái)源:立創(chuàng)商城 ? 作者:立創(chuàng)商城 ? 2022-02-12 12:55 ? 次閱讀

眾所周知,在電子行業(yè)有這樣一個(gè)形象的比喻:如果把MCU比作電路的“大腦”,那么晶振毫無(wú)疑問(wèn)就是“心臟”了。同樣,電路對(duì)“晶體晶振”(以下均簡(jiǎn)稱(chēng):“晶振”)的要求也如一個(gè)人對(duì)心臟的要求一樣,最需要的就是穩(wěn)定可靠。晶振在電路中的作用就是為系統(tǒng)提供基本的頻率信號(hào),如果晶振不工作,MCU就會(huì)停止導(dǎo)致整個(gè)電路都不能工作。然而很多工程師對(duì)晶振缺乏足夠的重視和了解,而一旦出了問(wèn)題卻又表現(xiàn)的束手無(wú)策,缺乏解決問(wèn)題的思路和辦法。

晶振不起振問(wèn)題歸納

1、 物料參數(shù)選型錯(cuò)誤導(dǎo)致晶振不起振

例如:某MCU需要匹配6PF的32.768KHz,結(jié)果選用12.5PF的,導(dǎo)致不起振。

解決辦法:更換符合要求的規(guī)格型號(hào)。必要時(shí)請(qǐng)與MCU原廠(chǎng)或者我們確認(rèn)。

2、 內(nèi)部水晶片破裂或損壞導(dǎo)致不起振

運(yùn)輸過(guò)程中損壞、或者使用過(guò)程中跌落、撞擊等因素造成晶振內(nèi)部水晶片損壞,從而導(dǎo)致晶振不起振。

解決辦法:更換好的晶振。平時(shí)需要注意的是:運(yùn)輸過(guò)程中要用泡沫包厚一些,避免中途損壞;制程過(guò)程中避免跌落、重壓、撞擊等,一旦有以上情況發(fā)生禁止再使用。

3、 振蕩電路不匹配導(dǎo)致晶振不起振

影響振蕩電路的三個(gè)指標(biāo):頻率誤差、負(fù)性阻抗、激勵(lì)電平。

頻率誤差太大,導(dǎo)致實(shí)際頻率偏移標(biāo)稱(chēng)頻率從而引起晶振不起振。

解決辦法:選擇合適的PPM值的產(chǎn)品。

負(fù)性阻抗過(guò)大太小都會(huì)導(dǎo)致晶振不起振。

解決辦法:負(fù)性阻抗過(guò)大,可以將晶振外接電容Cd和Cg的值調(diào)大來(lái)降低負(fù)性阻抗;負(fù)性阻抗太小,則可以將晶振外接電容Cd和Cg的值調(diào)小來(lái)增大負(fù)性阻抗。一般而言,負(fù)性阻抗值應(yīng)滿(mǎn)足不少于晶振標(biāo)稱(chēng)最大阻抗3-5倍。

激勵(lì)電平過(guò)大或者過(guò)小也將會(huì)導(dǎo)致晶振不起振

解決辦法:通過(guò)調(diào)整電路中的Rd的大小來(lái)調(diào)節(jié)振蕩電路對(duì)晶振輸出的激勵(lì)電平。一般而言,激勵(lì)電平越小越好,處理功耗低之外,還跟振蕩電路的穩(wěn)定性和晶振的使用壽命有關(guān)。

4、 晶振內(nèi)部水晶片上附有雜質(zhì)或者塵埃等也會(huì)導(dǎo)致晶振不起振

晶振的制程之一是水晶片鍍電極,即在水晶片上鍍上一次層金或者銀電極,這要求在萬(wàn)級(jí)無(wú)塵車(chē)間作業(yè)完成。如果空氣中的塵埃顆粒附在電極上,或者有金渣銀渣殘留在電極上,則也會(huì)導(dǎo)致晶振不起振。

解決辦法:更換新的晶振。在選擇晶振供應(yīng)商的時(shí)候需要對(duì)廠(chǎng)商的設(shè)備、車(chē)間環(huán)境、工藝及制程能力予以考量,這關(guān)系到產(chǎn)品的品質(zhì)問(wèn)題。

5、 晶振出現(xiàn)漏氣導(dǎo)致不起振

晶振在制程過(guò)程中要求將內(nèi)部抽真空后充滿(mǎn)氮?dú)猓绻霈F(xiàn)壓封不良,導(dǎo)致晶振氣密性不好出現(xiàn)漏氣;或者晶振在焊接過(guò)程中因?yàn)榧裟_等過(guò)程中產(chǎn)品的機(jī)械應(yīng)力導(dǎo)致晶振出現(xiàn)氣密性不良;均會(huì)導(dǎo)致晶振出現(xiàn)不起振的現(xiàn)象。

解決辦法:更換好的晶振。在制程和焊接過(guò)程中一定要規(guī)范作業(yè),避免誤操作導(dǎo)致產(chǎn)品損壞。

6、 焊接時(shí)溫度過(guò)高或時(shí)間過(guò)長(zhǎng),導(dǎo)致晶振內(nèi)部電性能指標(biāo)出現(xiàn)異常而引起晶振不起振

以32.768KHz直插型為例,要求使用178°C熔點(diǎn)的焊錫,晶振內(nèi)部的溫度超過(guò)150°C,會(huì)引起晶振特性的惡化或者不起振。焊接引腳時(shí),280°C下5秒以?xún)?nèi)或者260°C以下10秒以?xún)?nèi)。

不要在引腳的根部直接焊接,這樣也會(huì)導(dǎo)致晶振特性的惡化或者不起振。

解決辦法:焊接制程過(guò)程中一定要規(guī)范操作,對(duì)焊接時(shí)間和溫度的設(shè)定要符合晶振的要求。如有疑問(wèn)可與我們聯(lián)系確認(rèn)。

7、 儲(chǔ)存環(huán)境不當(dāng)導(dǎo)致晶振電性能惡化而引起不起振

在高溫或者低溫或者高濕度等條件下長(zhǎng)時(shí)間使用或者保存,會(huì)引起晶振的電性能惡化,可能導(dǎo)致不起振。

解決辦法:盡可能在常溫常濕的條件下使用、保存,避免晶振或者電路板受潮。

8、 MCU質(zhì)量問(wèn)題、軟件問(wèn)題等導(dǎo)致晶振不起振

解決辦法:目前市場(chǎng)上面MCU散新貨、翻新貨、拆機(jī)貨、貼牌貨等魚(yú)龍混雜,如果沒(méi)有一定的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)或者選擇正規(guī)的供貨商,則極易買(mǎi)到非正品。這樣電路容易出現(xiàn)問(wèn)題,導(dǎo)致振蕩電路不能工作。另外即便是正品MCU,如果燒錄程序出現(xiàn)問(wèn)題,也可能導(dǎo)致晶振不能起振。

9、 EMC問(wèn)題導(dǎo)致晶振不起振

解決辦法:一般而言,金屬封裝的制品在抗電磁干擾上優(yōu)于陶瓷封裝制品,如果電路上EMC較大,則盡量選用金屬封裝制品。另外晶振下面不要走信號(hào)線(xiàn),避免帶來(lái)干擾。

10、其他問(wèn)題導(dǎo)致晶振不起振

晶振其他不良問(wèn)題歸納

1、頻率偏移超出正常值。

解決辦法:當(dāng)電路中心頻率正偏時(shí),說(shuō)明CL偏小,可以增加晶振外接電容Cd和Cg的值。當(dāng)電路中心頻率負(fù)偏時(shí),說(shuō)明CL偏大,可以減少晶振外接電容Cd和Cg的值。

2、晶振在工作中出現(xiàn)發(fā)燙,逐漸出現(xiàn)停振現(xiàn)象。

排除工作環(huán)境溫度對(duì)其的影響,最可能出現(xiàn)的情況是激勵(lì)電平過(guò)大。

解決辦法:將激勵(lì)電平DL降低,可增加Rd來(lái)調(diào)節(jié)DL。

3、晶振在工作逐漸出現(xiàn)停振現(xiàn)象,用手碰觸或者用電烙鐵加熱晶振引腳又開(kāi)始工作。

解決辦法:出現(xiàn)這種情況是因?yàn)檎袷庪娐分械呢?fù)性阻抗值太小,需要調(diào)整晶振外接電容Cd和Cg的值來(lái)達(dá)到滿(mǎn)足振蕩電路的回路增益。

4、晶振虛焊或者引腳、焊盤(pán)不吃錫。

出現(xiàn)這種情況一般來(lái)說(shuō)引腳出現(xiàn)氧化現(xiàn)象,或者引腳鍍層脫落導(dǎo)致。

解決辦法:晶振的儲(chǔ)存環(huán)境相當(dāng)重要,常溫、常濕下保存,避免受潮。另外晶振引腳鍍層脫落,可能跟晶振廠(chǎng)商或者SMT廠(chǎng)商的制程工藝有關(guān),需要進(jìn)一步確認(rèn)。

5、同一個(gè)產(chǎn)品試用兩家不同晶振廠(chǎng)商的產(chǎn)品,結(jié)果不一樣。

出現(xiàn)這種情況很好理解,不同廠(chǎng)商的材料、制程工藝等都不一樣,會(huì)導(dǎo)致在規(guī)格參數(shù)上有些許差異。例如同樣是+/-10ppm的頻偏,A的可能大部分是正偏,B的可能大部分是負(fù)偏。

解決辦法:一般來(lái)說(shuō)在這種情況下,如果是射頻類(lèi)產(chǎn)品最好讓晶振廠(chǎng)商幫忙做一些電路匹配測(cè)試,這樣確保電路匹配的最好。如果是非射頻類(lèi)產(chǎn)品則一般在指標(biāo)相同的情況下可以兼容。

6、晶振外殼脫落。

有時(shí)晶振在過(guò)回流焊后會(huì)出現(xiàn)晶振外殼掉落的現(xiàn)象;有些是因?yàn)榫д袷艿酵饬ψ矒舻仍驅(qū)е峦鈿っ撀洹?/p>

解決辦法:SMT廠(chǎng)在晶振過(guò)回流焊之前,請(qǐng)充分確認(rèn)爐溫曲線(xiàn)是否滿(mǎn)足晶振的過(guò)爐要求,一般來(lái)說(shuō)正規(guī)的晶振廠(chǎng)商提供的datasheet中都會(huì)提供參考值。

如果是外力因素導(dǎo)致的脫落則盡量避免這種情況發(fā)生。

7、其他不良問(wèn)題

晶振設(shè)計(jì)、過(guò)程中的建議

1、在PCB布線(xiàn)時(shí),晶振電路的走線(xiàn)盡可能的短直,并盡可能靠近MCU。盡量降低振蕩電路中的雜散電容對(duì)晶振的影響。

2、PCB布線(xiàn)的時(shí)候,盡量不要在晶振下面走信號(hào)線(xiàn),避免對(duì)晶振產(chǎn)生電磁干擾,從而導(dǎo)致振蕩電路不穩(wěn)定。

3、如果你的PCB板比較大,晶振盡量不要設(shè)計(jì)在中間,盡量靠邊一些。這是因?yàn)榫д裨O(shè)計(jì)在中間位置會(huì)因PCB板變形產(chǎn)生的機(jī)械張力而受影響,可能出現(xiàn)不良。

4、如果你的PCB板比較小,那么建議晶振設(shè)計(jì)位置盡量往中間靠,不要設(shè)計(jì)在邊沿位置。這是因?yàn)镻CB板小,一般SMT過(guò)回流焊都是多拼板,在分板的時(shí)候產(chǎn)生的機(jī)械張力會(huì)對(duì)晶振有影響,可能產(chǎn)生不良。

5、在選擇晶振的型號(hào)及規(guī)格參數(shù)時(shí),工程師應(yīng)盡量與晶振大廠(chǎng)商或者專(zhuān)業(yè)代理商確認(rèn),避免選擇的尺寸或者指標(biāo)不常用,導(dǎo)致供貨渠道少、批量供貨周期長(zhǎng)而影響生產(chǎn),而且在價(jià)格上也會(huì)處于被動(dòng)。

6、帶有晶振的電路板一般不建議用超聲波清洗,避免發(fā)生共振而損壞晶振導(dǎo)致不良。

雖然一般的晶振價(jià)格都比較便宜,在電路上也不那么起眼,但是晶振現(xiàn)在越來(lái)越受工程師的重視了。最直接的原因就是如果晶振出現(xiàn)異常,經(jīng)常讓工程師們抓狂,并且經(jīng)常束手無(wú)策。因此選擇一家好的晶振供應(yīng)商就顯得尤為重要了。

原文標(biāo)題:晶振應(yīng)用中之常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法

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審核編輯:湯梓紅

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