01
導讀
由于鋰枝晶和及其引起的短路等問題,固態鋰金屬電池中仍面臨著挑戰。近年來,研究人員對枝晶生長機制了解了很多,而枝晶的生長問題仍未得到解決。界面工程方法為基于典型固態電池結構的物理化學調節創造了機會。
02
成果簡介
該工作在固態電解質(SSE)和鋰金屬陽極之間引入電子整流界面(RI)。整流行為抑制了電子滲透到電解質中,有效的減少枝晶。該RI由p-Si/n-TiO2結和外部Al層組成,通過多步濺射沉積技術在石榴石顆粒表面形成。作者通過片上器件的不對稱I-V響應研究了電子整流行為,并通過對顆粒的電子電導率測量,低一個數量級的電流響應進一步證實了電子整流行為。Li對稱電池的電化學測量顯示出利用RI的電池的壽命實現了從幾十小時到超過兩個月的顯著提高。
03
關鍵創新
(1)作者利用RI通過調控電池系統中的電子通量來在空間上限制鋰離子的沉積行為,抑制了鋰枝晶的生長;
(2)該工作的成功演示涉及到由界面工程電子整流層實現的不對稱電導。
04
核心內容解讀
圖1(a)左:SSBs中Li枝晶生長示意圖。右:鋰金屬陽極與SSE界面處的整流層示意圖,防止電子滲入SSE,抑制鋰枝晶的生長。(b)片上整流裝置的原理圖。插圖:所制作的片上器件陣列的照片。片上整流裝置在不同溫度下的(c) I-V曲線。
為了抑制枝晶生長,在充電過程中,應限制電子進入SSE;但在放電過程中,應允許電子流出SSE,以消除不可避免的電流泄漏導致的枝晶生長的可能性。這個想法讓作者聯想到半導體電子器件中二極管的整流行為(不對稱電導)。其中一個典型的整流器是p-n結二極管,它是在正(p型)和負(n型)半導體之間產生的。在正向偏壓條件下,電子可以很容易地從n型半導體流向p型半導體,而反向偏壓會引起電阻增加,限制電子的流動。
圖2(a)在LLZTO顆粒表面進行整流層的濺射沉積過程示意圖。硅片上整流界面的(b) ToF-SIMS深度剖面。(c)整流界面附著的LLZTO顆粒的ToF-SIMS深度剖面圖。插圖顯示了整流層的細節。(d)反應濺射沉積二氧化鈦的高分辨Ti 2p譜。
基于上述的想法,作者在鋰金屬陽極和SSE之間設計了一個p-Si/n-TiO2電子整流層(RI)。此外,為了提高界面相容性,作者將p-Si/n-TiO2結沉積在LLZTO顆粒表面后,然后在外部沉積了Al層。通過ToF-SIMS和XPS表征手段,作者證明了p-Si/n-TiO2RI在LLZTO表面的形成。
圖3(a)具有兩個離子阻塞電極的SSE系統的離子行為和電子行為示意圖。(b-d)在恒定直流電極化1 V下的計時電流測量曲線。插圖:平衡狀態下的電流響應。(e)不同溫度下的電子電導率。
室溫下,LLZTO的電導率為3.25×10-8S cm-1,而LLZTO-RI在反向偏壓狀態下的電子電導率為2.57×10-9S cm-1。值得注意的是,在正向偏壓下,LLZTO-RI和LLZTO的電子電導率均隨溫度的升高而增加,但由于熱穩定性的RI的存在,LLZTO-RI的逆漏電流(反向偏壓下)顯著降低。
圖4用(a) LLZTO-RI、(b) LLZTO-Al和LLZTO微球組裝的Li對稱電池的恒流循環曲線。(c-d)隨著電流密度增加的Li對稱電池的CCD測試。(e)與NMC811陰極的混合全電池的循環性能。
作者通過Li對稱電池的恒流循環評價了兩種SSE的Li電鍍/剝離穩定性。LLZTO-RI的電池在兩個月內表現出良好的循環穩定性(0.2 mA cm-2),直到達到儀器的循環數上限。相比之下,LLZTO的電池的最初穩定電壓曲線為±0.4 V,在80小時后電位突然下降。電位的突然下降對應于由枝晶穿透引起的短路。
作者以LiNi0.8Mn0.1Co0.1O2(NMC811)作為陰極材料,在混合固態體系中(在陰極側加入電解液以潤濕多孔電極)證明了LLZTO-RI顆粒在全電池中的性能。全電池表現出高初始容量(160 mAh g-1)和穩定的庫侖效率。在2C倍率下,全電池實現了2000多個循環,容量保持率為70%。
圖5上一行顯示了循環前后通過射線CT重建的LLZTO和LLZTO-RI樣品的三維體積。黑色紋理代表孔隙和裂紋階段。孔隙的形態通過角切來可視化,顏色編碼表示孔隙的大小分布,并在底部一行進行量化。
除了電化學方法外,直接觀察LLZTO循環后的孔隙率和裂紋形成可以證實LLZTO和LLZTO-RI樣品抑制枝晶生長的能力的明顯差異。作者使用X射線計算機斷層掃描(CT)來揭示SSE在循環前后的三維微觀結構演化。結果表明,LLZTO在循環后孔隙率從3%顯著增加到10.4%,主要位于晶界處,形成多孔網絡,削弱了電解質的機械強度。
此外,在循環的LLZTO樣品中還觀察到跨晶裂紋。相比之下,在循環的LLZTO-RI樣品中幾乎沒有看到裂紋。因此,孔隙尺寸分布的直方圖與原始樣品相似,在圖6e中沒有觀察到的波動。
05
成果啟示
作者在鋰金屬陽極和SSE之間引入了一個RI,具有電子整流行為和改進的界面兼容性。電化學測量結果顯示,LLZTO-RI的壽命顯著提高了2個月以上(Li對稱電池中裸LLZTO顆粒僅80小時)。X射線CT顯示,經過電化學循環后,LLZTO-RI樣品幾乎沒有裂紋擴展或孔隙率增加,而LLZTO樣品的孔隙率和裂紋顯著增加。本研究為解決鋰枝晶在SSE中生長的提供了一種有效的途徑。
審核編輯:劉清
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原文標題:EES:防止固態電解質中鋰枝晶擴展的整流界面
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