在當(dāng)今世界，SEM掃描電子顯微鏡分析技術(shù)，一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段，主要應(yīng)用在半導(dǎo)體、材料科學(xué)、生命科學(xué)和納米材料等領(lǐng)域。

SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理，主要基于聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品，通過(guò)光束與物質(zhì)間的相互作用，來(lái)激發(fā)各種物理信息，對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到1nm；放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬(wàn)倍及以上連續(xù)可調(diào)；并且景深大，視野大，成像立體效果好。此外，掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合，可以做到觀察微觀形貌的同時(shí)進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。

SEM掃描電鏡技術(shù)優(yōu)勢(shì)SEM掃描電鏡制樣，相對(duì)來(lái)說(shuō)較為簡(jiǎn)單，不需要過(guò)于復(fù)雜的處理過(guò)程，適用于各種類型的樣品。

高分辨率：SEM的分辨率比光學(xué)顯微鏡高得多，可以獲得非常高的成像分辨率，通常可以達(dá)到亞微米甚至納米級(jí)別的分辨率。

大視野：有很大的景深，視野大，成像富有立體感，SEM可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)，SEM也可以提供大視野的成像，可以同時(shí)獲得樣品的宏觀形貌和微觀結(jié)構(gòu)信息。

連續(xù)可調(diào)放大倍數(shù)：SEM的放大倍數(shù)可以在較大的范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，從而可以更加靈活地觀察樣品的不同細(xì)節(jié)。

SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用SEM掃描電子顯微鏡，已經(jīng)成為科研分析、產(chǎn)品質(zhì)量控制的重要工具，廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域，包括材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、醫(yī)學(xué)和微電子等材料分析。

SEM掃描電鏡分析實(shí)驗(yàn)室 圖源：優(yōu)爾鴻信華南檢測(cè)中心

材料表面分析：SEM可以提供材料表面的高分辨率圖像，這對(duì)于理解材料的微觀結(jié)構(gòu)和性能至關(guān)重要。例如，可以通過(guò)觀察斷口、磨損表面或腐蝕表面來(lái)研究材料的力學(xué)性能。

成分分析：配備能量色散X射線光譜儀（EDS）的SEM可以進(jìn)行元素分析，這對(duì)于確定材料的化學(xué)成分和微觀區(qū)域的元素分布非常有用。

納米材料分析：由于SEM具有納米級(jí)的分辨率，因此在納米材料的研究中有廣泛的應(yīng)用，包括納米顆粒、納米纖維、納米薄膜等，同時(shí)通過(guò)對(duì)材料的微觀觀察，可以優(yōu)化材料的加工工藝，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。

材料缺陷分析：SEM可以用于檢測(cè)和分析材料中的微觀缺陷，如裂紋、孔洞、夾雜、固體樣品表面微區(qū)形貌觀察、材料斷口形貌及其內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析、微粒或纖維形狀觀察及其尺寸分析、固體樣品表面微區(qū)成分的定性和半定量分析。

專業(yè)掃描電鏡分析實(shí)驗(yàn)室，后續(xù)分享場(chǎng)發(fā)射電鏡、SEM在材料分析案例等，希望能夠幫到您們。