來源:密科圈城MechTown
眾所周知,芯片一直是手機等電子產品的核心部件,需要極其密集的資金支持和技術含量。芯片之于手機,猶如大腦之于人,這樣說來似乎更加容易理解。
一枚芯片從設計到投入使用需要經歷芯片設計、晶圓制造、封裝、測試等幾個主要環節,每個環節“各司其職”,都有其難點和不可替代的一面,且都是科技和人類智慧結晶的體現。
單從芯片設計來講,自八十年代EDA(Electronic design automation —— “電子設計自動化”)技術誕生以來,設計大規模集成電路的難度大大降低,設計工程師們只需要借助EDA軟件將語言編譯成邏輯電路,之后再進行一段時間的調試就可以了。
但盡管如此,有EDA如此強大的支持,芯片設計依舊不是一件容易的事情,不存在芯片設計比芯片制造簡單一說。
芯片設計流程
芯片設計,是一種復雜、高端、且浩瀚無比的技術工程。小編詳細羅列了芯片設計各個步驟的難點,以及designer為芯片設計所經歷的艱辛,以饗讀者。
難點1——架構
芯片設計有很多環節,每一個都不可或缺,且都有其各自的難點。如若需要評估整個設計流程的難度,還需要拆分開來看,按照順序,想要完整設計出一個芯片的基本架構,步驟通常有:
需求分析:
無需多說,芯片應用對老百姓的生活可謂是無孔不入,而從一張簡單的IC卡,到售價幾千元的手機,不同的市場有不同的需求。因此,明確需求是芯片設計的第一步。其中包括對未來市場趨勢的準確判斷、自身工廠能力的評估、設計人員數量及能量的精準衡量。
前端設計:芯片前端設計主要包括HDL編碼,仿真驗證,STA,邏輯綜合,簡而言之就是從輸入需求到輸出網表的過程。例如在HDL編碼過程中,designer必須充分滿足芯片可以達到的目標,且不能超出臨界值。在靜態時序分析(STA中),designer不僅需要確定芯片最高工作頻率,還要檢查時序約束是否滿足,如若不滿足,要給出具體原因,進一步修改程序直至滿足要求。在邏輯綜合(ASIC綜合)中,designer需要設定詳細的目標參數和約束條件,才能將設計實現的RTL代碼翻譯成門級網表,交給后端工作人員。以上及其他未被列出的前端設計步驟,均需要designer嚴謹、周密的思維方式;需要對芯片的性能、性質等有良好的把握;需要超于常人的精力,絕非一日之功可以達成。后端設計:
芯片后端設計主要包括DFT,布局規劃,布線,CTS,版圖物理驗證,簡而言之就是從輸入網表到輸出GDSII文件的過程。
例如DFT(Design For Test),可測性設計,在設計中插入掃描鏈,將非掃描單元(如寄存器)變為掃描單元,由于芯片內部往往都自帶測試電路,designer需要在設計的時候就考慮將來的測試。
布局規劃(FloorPlan),這一環節難度在于對芯片結構的熟悉,designer是否能用盡可能少的模塊和盡可能低的標準達到要求。
物理版圖驗證,對完成布線的物理版圖進行功能和時序上的驗證,驗證項目繁瑣且復雜,如LVS(Layout Vs Schematic)、DRC(Design Rule Checking)等。
以上及其他未被列出的后端設計步驟,均需要考慮許多變量,例如信號干擾、發熱分布等。
而芯片的物理特性在不同制程和不同環境下都有很大不同,且無現成公式套用計算,只能依靠EDA工具不斷試錯、模擬和取舍。稍有不慎,就有重蹈覆轍的危險。由此,芯片設計的難度可窺得一斑。
難點2——流片
在IC設計領域,流片即指試生產,就是說設計完電路以后,先生產一部分以供測試使用。雖然流片看起來是芯片制造的步驟,但實際屬于芯片設計。
檢驗流片在芯片設計到制造的過程中,是一個不可或缺的步驟。假如designer在設計的時發現某個地方可以進行優化,但又怕給芯片帶來不可預估的后果,若根據有錯誤的設計方案著手制造,那么損失難以估量。
所以為了檢驗芯片設計的完整性、正確性,必須進行流片,從一個電路圖到一塊芯片,檢驗每一個工藝步驟是否可行,檢驗電路是否具備我們所要的性能和功能。測試通過,則大規模生產;測試失敗,可能需要重復之前的設計步驟進行優化,查缺補漏。
難點3——驗證
驗證是在芯片設計每一個環節中的重復性行為,可細分為系統級驗證、硬件邏輯功能驗證、物理層驗證、時序驗證等。在驗證過程中如若出現錯誤,需要重復前面幾步、不斷迭代優化才能解決,由此也決定了這項工作的復雜性。
designer需要反復考慮可能會遇到的問題,在保證正確率的情況下高效進行,費用高昂不說,也非常考驗designer的耐心、決心與智慧。一方面要對相關協議算法有足夠了解,根據架構、算法工程師設定的目標設計仿真向量;另一方面要對設計本身足夠了解,以提高驗證效率,縮短驗證時間。
遠眺未來,芯片的使用場景會愈發豐富,例如5G、智能汽車、云計算等領域,所需求芯片的質量會有更高的要求;摩爾定律接近極限,芯片性能提升的重擔也落在了designer身上。以上因素勢必會給designer帶來更大的壓力,給芯片設計帶來更多新的挑戰。
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