NO.1 案例背景
某攝像頭模組,在生產(chǎn)測(cè)試過(guò)程中發(fā)生功能不良失效,經(jīng)過(guò)初步的分析,判斷可能是LGA封裝主芯片異常。
NO.2 分析過(guò)程
#1 X-ray分析
樣品#1
樣品#2
測(cè)試結(jié)果:兩個(gè)失效樣品LGA焊接未發(fā)現(xiàn)明顯異常。
#2 染色分析
測(cè)試結(jié)果:樣品1將LGA染色試驗(yàn)剝離后,發(fā)現(xiàn)焊點(diǎn)多數(shù)存在錫量較少的現(xiàn)象,焊接面積小;少數(shù)呈現(xiàn)為無(wú)焊錫結(jié)合,可以確認(rèn)為虛焊不良。
#3 斷面分析
錫少導(dǎo)致的未焊錫
僅有部分焊接
測(cè)試結(jié)果:樣品2進(jìn)行斷面分析,LGA多處虛焊不良與焊盤錫量少,呈虛焊現(xiàn)象。
#4 SEM分析
測(cè)試結(jié)果:對(duì)失效焊點(diǎn)進(jìn)行SEM分析,PCB焊盤上已形成IMC層,焊盤沾有極少量焊錫,器件焊盤無(wú)焊錫附著。
測(cè)試結(jié)果:存在明顯錫少。
#5 EDS分析
測(cè)試結(jié)果:對(duì)虛焊焊點(diǎn)進(jìn)行EDS分析,未見明顯異常元素。
N0.3 分析結(jié)果
通過(guò)染色試驗(yàn)、斷面分析和SEM分析,EDS分析判斷引起LGA焊接失效的主要原因?yàn)椤a膏量不足導(dǎo)致底部焊接虛焊。
NO.4 改善方案
1.印刷鋼網(wǎng)開口設(shè)計(jì)與印刷制程工藝參數(shù)改善;
2.LGA芯片貼裝壓力驗(yàn)證。
騰昕檢測(cè)有話說(shuō):
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審核編輯 黃宇
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新能源汽車焊接材料五大失效風(fēng)險(xiǎn)與應(yīng)對(duì)指南——從焊點(diǎn)看整車可靠性

芯片失效分析的方法和流程

三分鐘帶你搞懂,芯片封裝的發(fā)展路徑!你知道封裝技術(shù)都有哪些嗎?#華芯邦 #芯片封裝 #封裝路徑 #芯片制造

傳統(tǒng)封裝你了解多少,小白快捷學(xué)習(xí) | 第1集 #傳統(tǒng)封裝 #先進(jìn)封裝 #芯片封裝 #華芯邦 #

IV測(cè)試助力解芯片失效原因

X-ray在芯片失效分析中的應(yīng)用


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