有效的熱管理對于防止SiC MOSFET失效有很大的關系,環境過熱會降低設備的電氣特性并導致過早失效,充分散熱、正確放置導熱墊以及確保充足的氣流對于 MOSFET 散熱至關重要。
在指定的電壓和電流額定值范圍內運行 SiC MOSFET可以有效的利用瞬態電壓抑制器、電流限制器和過流保護機制等保護電路可以有效保護 MOSFET 免受電壓和電流相關故障的影響。
SiC MOSFET需要精確且設計良好的柵極驅動電路,當驅動電壓不足或柵極-源極電容不足會導致開關不完全,導致器件功耗過大和熱應力過大,因此設計具有適當電壓電平的柵極驅動電路、柵極電阻器和與SiC技術兼容的柵極驅動器對于MOSFET的可靠運行至關重要。
在器件處理、組裝和操作期間,應遵循 ESD 安全協議并使用適當的 ESD 保護設備以防止靜電放電造成的損害。
SiC MOSFET可能會暴露在各種環境因素中,例如濕氣、濕氣、灰塵和腐蝕性氣體,具體取決于應用,使用適當的外殼、保形涂層或保護措施保護 MOSFET 免受這些不利環境條件的影響對于確保其長期可靠性和防止因環境因素導致的故障至關重要。
防止SiC MOSFET發生故障需要特別注意熱管理、電壓和電流限制、正確的柵極驅動電路設計、ESD 保護和環境考慮因素。
堅持最佳實踐并實施穩健的保護措施將有助于SiC MOSFET在電力電子系統中的長期可靠性和最佳性能。
-
MOSFET
+關注
關注
150文章
8341瀏覽量
218888 -
SiC
+關注
關注
31文章
3171瀏覽量
64543 -
熱管理
+關注
關注
11文章
475瀏覽量
22313 -
碳化硅
+關注
關注
25文章
3034瀏覽量
50123 -
電流限制器
+關注
關注
1文章
17瀏覽量
4108
發布評論請先 登錄
基本半導體碳化硅(SiC)MOSFET低關斷損耗(Eoff)特性的應用優勢

基于國產碳化硅SiC MOSFET的高效熱泵與商用空調系統解決方案

麥科信光隔離探頭在碳化硅(SiC)MOSFET動態測試中的應用
碳化硅(SiC)MOSFET替代硅基IGBT常見問題Q&A

BASiC基本股份國產SiC碳化硅MOSFET產品線概述

SiC碳化硅MOSFET功率器件雙脈沖測試方法介紹

評論