平面衍射光柵的PDL（偏振相關(guān)損耗）測量
偏振相關(guān)損耗(PDL)是電信網(wǎng)絡(luò)中使用的光學(xué)元件的一個重要特性。本文提供了用于光柵PDL的精確定義，并解釋了用于確定PDL值的測量程序。
偏振相關(guān)損耗(PDL)
光纖通信網(wǎng)絡(luò)中的組件必須對信號偏振狀態(tài)的變化不敏感，這一要求對表面浮雕衍射光柵來說尤其具有挑戰(zhàn)性，因為具有金屬涂層的光柵往往會使入射到其上的光偏振。用于評估網(wǎng)絡(luò)組件對極化變化的敏感性的可測量量稱為偏振相關(guān)損耗(PDL)。
然而，存在一類光柵，在給定的波長范圍內(nèi)，兩種偏振模式下的衍射效率幾乎相等;這些光柵被稱為低PDL光柵。
PDL的定義
在衍射光柵表征中使用的PDL的定義是：
PDL = 10log10(Ep/Es)
其中Ep和Es分別是P平面和S平面偏振入射光的測量衍射效率。PDL以分貝表示。有時PDL被表示為等式(1)的絕對值。但允許PDL是帶符號(正或負(fù))量提供了關(guān)于效率如何相對于彼此變化(相對于波長)的更多信息。
PDL的測量
PDL是通過分別測量P平面和S平面衍射效率，然后將相關(guān)值代入上述方程來確定的。這些獨立的測量，每個都是用線性偏振的入射光進行的，因此產(chǎn)生Ep和Es的值。這些測量可以是絕對或相對效率的(前提是一致地進行)。
審核編輯 黃宇
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