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大尺寸AlN單晶生長(zhǎng)研究

第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè) ? 來源:第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè) ? 2023-12-28 09:20 ? 次閱讀

AlN單晶襯底以其優(yōu)異的性能和潛在的應(yīng)用前景引起了人們的廣泛研究興趣. 物理氣相輸運(yùn)(PVT)是最適合AIN襯底制備的方法。在大尺寸SiC單晶上異質(zhì)生長(zhǎng)AlN籽晶,并在隨后的同質(zhì)生長(zhǎng)中迭代優(yōu)化AlN的晶體質(zhì)量,是制備大尺寸AlN襯底的重要技術(shù)路線。

然而,這一大尺寸AlN單晶制備技術(shù)面臨諸多的挑戰(zhàn),包括異質(zhì)生長(zhǎng)中SiC在AlN生長(zhǎng)溫度下的分解對(duì)籽晶表面的刻蝕,導(dǎo)致AlN晶體質(zhì)量差和形貌粗糙,以及在大尺寸同質(zhì)生長(zhǎng)中抑制熱應(yīng)力弛豫導(dǎo)致的裂紋,以及生長(zhǎng)晶體和表面質(zhì)量控制和優(yōu)化。

近日,第九屆國際第三代半導(dǎo)體論壇(IFWS)&第二十屆中國國際半導(dǎo)體照明論壇(SSLCHINA)于廈門召開。期間,“氮化物襯底、外延生長(zhǎng)及其相關(guān)設(shè)備技術(shù)”分會(huì)上,北京大學(xué)于彤軍教授做了“大尺寸AlN單晶生長(zhǎng)研究”的主題報(bào)告,分享了SiC上AlN異質(zhì)PVT生長(zhǎng)的形貌控制和2-4英寸AlN同質(zhì)PVT生長(zhǎng)的最新研究進(jìn)展。

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報(bào)告指出,研究了SiC襯底上AlN異質(zhì)PVT生長(zhǎng)的形貌控制規(guī)律,明確了SiC表面臺(tái)階是 AlN臺(tái)階式生長(zhǎng)并且取得高質(zhì)量生長(zhǎng)表面的前提條件;提出了SiC襯底上兩部生長(zhǎng)法的AlN異質(zhì)PVT方法,獲得了高質(zhì)量接近3英寸的AlN/SiC籽晶;基于AlN籽晶的同質(zhì)生長(zhǎng)過程,通過蔓延生長(zhǎng)方式,實(shí)現(xiàn)晶體形貌和質(zhì)量的優(yōu)化,在大尺寸熱流場(chǎng)耦合控制的條件下,初步實(shí)現(xiàn)了2代4英寸AlN晶體的生長(zhǎng)。

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報(bào)告中于教授詳細(xì)介紹了研究進(jìn)展與結(jié)果。研究首先結(jié)合計(jì)算流體動(dòng)力學(xué)(CFD)模擬和 PVT生長(zhǎng)實(shí)驗(yàn),研究了SiC襯底上AlN的PVT生長(zhǎng)的表面控制。結(jié)果表明,在活性Al蒸氣的PVT生長(zhǎng)中,保持有宏觀臺(tái)階的SiC襯底的表面結(jié)構(gòu)十分重要,這需要在初始階段將生長(zhǎng)溫度和壓力限制在適當(dāng)?shù)姆秶鷥?nèi),直到AlN層完全覆蓋SiC表面。研究還發(fā)現(xiàn)在后續(xù)的生長(zhǎng)中,襯底表面附近的過飽和度控制對(duì)生長(zhǎng)模式具有重要的影響。過飽和度增加導(dǎo)致從二維生長(zhǎng)向三維生長(zhǎng)的轉(zhuǎn)變,從而使表面形貌變得粗糙。

研究發(fā)現(xiàn)在500 mbar的壓力下,相應(yīng)的模式轉(zhuǎn)變溫度Ttran在1890°C到1910°C之間。以此為基礎(chǔ),提出了兩步法生長(zhǎng)的方案,即先將生長(zhǎng)溫度Tg保持在接近SiC表面宏觀可以保持的溫度上限生長(zhǎng),在SiC表面被AlN覆蓋后,將Tg升高到接近Ttran,以較高的速率進(jìn)行生長(zhǎng)。運(yùn)用兩步法,實(shí)現(xiàn)了厚度為824μm的表面光滑呈鏡面狀的2英寸以上的AlN單晶。

在大的AlN籽晶上,研究開展了兩次迭代同質(zhì)PVT生長(zhǎng),進(jìn)行了4英寸AlN單晶的生長(zhǎng)。大尺寸AlN晶體同質(zhì)PVT過程以宏觀三維模式下生長(zhǎng)棱柱狀晶粒為主要特點(diǎn),而蔓延生長(zhǎng)可以通過高指數(shù)面引導(dǎo)的晶柱融合實(shí)現(xiàn)形貌優(yōu)化和晶體質(zhì)量?jī)?yōu)化。運(yùn)用生長(zhǎng)速率對(duì)應(yīng)的與溫度和壓力的匹配關(guān)系,可以實(shí)現(xiàn)高效率的PVT蔓延生長(zhǎng),提高c面取向的一致性和晶體質(zhì)量。運(yùn)用這一方法,在已經(jīng)實(shí)現(xiàn)的2英寸單晶襯底制備的基礎(chǔ)上,進(jìn)一步完成2代的4英寸的AlN晶體同質(zhì)PVT迭代生長(zhǎng)。

研究結(jié)果顯示,通過表面形貌控制的二步生長(zhǎng)法,可以在SiC襯底上異質(zhì)PVT生長(zhǎng)出大尺寸高質(zhì)量AlN晶體,并以此為籽晶,通過蔓延式生長(zhǎng)方法迭代進(jìn)行同質(zhì)PVT生長(zhǎng),可以獲得優(yōu)化的2-4英寸的單晶襯底。這一研究結(jié)果,為實(shí)現(xiàn)大尺寸AlN單晶襯底的規(guī)模化制備和產(chǎn)業(yè)應(yīng)用提供了技術(shù)基礎(chǔ)。







審核編輯:劉清

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原文標(biāo)題:北京大學(xué)于彤軍教授:大尺寸AlN單晶生長(zhǎng)研究

文章出處:【微信號(hào):第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè),微信公眾號(hào):第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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