英國知名的電子測試與驗證解決方案提供商Pickering公司，近日宣布推出一款專為半導體行業設計的新型低漏電流開關保護模塊。該模塊聚焦于提升WAT（晶圓驗收測試）等關鍵測試環節中的電流驅動保護測量精度，以滿足半導體行業對極致低漏電流性能的迫切需求。

新款開關保護模塊采用創新的開關隨動保護層技術，有效隔絕外部干擾，確保測試環境的純凈與穩定。該設計不僅支持PXI、PXIe及LXI等多種主流測試平臺，還實現了隔離電阻的飛躍性提升，高達1013Ω，為半導體參數測試樹立了新的性能標桿。

Pickering公司此次推出的低漏電流開關模塊，是其在模塊化信號切換與仿真領域深厚技術積累的又一力作。該產品的問世，將極大助力半導體制造商在晶圓驗收測試階段實現更精準、更可靠的測量結果，推動半導體產品質量的全面提升。

隨著半導體技術的飛速發展，對測試設備的要求也日益嚴苛。Pickering公司憑借其卓越的創新能力和對市場需求的精準洞察，不斷推出符合行業發展趨勢的高性能測試解決方案，為半導體產業的持續進步貢獻力量。