近日,全球領先的科技儀器制造商賽默飛世爾科技宣布,其最新研發的Thermo Scientific Iliad(掃描)透射電鏡已正式登陸中國市場。這款全集成的分析型(掃描)透射電鏡代表了當前透射電鏡技術的巔峰之作。
Iliad不僅集成了賽默飛全新的Iliad電子能量損失譜儀(EELS)和能量過濾器,還配備了專用的Zebra EELS探測器,以及創新的NanoPulser超快靜電束閘。這些先進技術通過深度集成,使得Iliad在性能上實現了質的飛躍。
作為一款面向高端科研和工業應用的透射電鏡,Iliad以其卓越的分析能力和高度集成的系統架構,為用戶提供了前所未有的使用體驗。無論是材料科學、納米技術還是生命科學等領域的研究人員,都能通過Iliad獲得更為準確、精細的實驗數據。
賽默飛世爾科技一直致力于推動科學儀器的技術創新和應用發展。此次Iliad透射電鏡的發布,不僅展示了賽默飛在透射電鏡領域的領先地位,更為全球科研和工業用戶帶來了全新的解決方案和機遇。
聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。
舉報投訴
-
探測器
+關注
關注
14文章
2653瀏覽量
73252 -
電鏡
+關注
關注
0文章
92瀏覽量
9438
發布評論請先 登錄
相關推薦
透射電鏡(TEM)要點速覽
透射電鏡(TEM)簡介透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope,TEM)自1932年左右問世以來,便以其卓越的性能在微觀世界的研究中占據著舉足輕重的地位。它利用
![<b class='flag-5'>透射電鏡</b>(TEM)要點速覽](https://file1.elecfans.com/web3/M00/06/D1/wKgZO2ePYrCAC190AAA7gFyiUZA940.png)
TEM樣本制備:透射電子顯微鏡技術指南
機械研磨和離子濺射技術是硬質材料樣品制備中常用的方法。首先,將樣品通過機械研磨的方式制成極薄的片狀,然后利用離子濺射技術進一步減薄至電子能夠穿透的厚度。這一過程能夠使樣品達到透射電子顯微鏡(TEM
![TEM樣本制備:<b class='flag-5'>透射電</b>子顯微鏡技術指南](https://file1.elecfans.com/web3/M00/04/C5/wKgZO2d3prqAJ42NAAAkOW04mOY311.png)
透射電子顯微鏡中的應變分析技術
季豐電子材料分析實驗室配備賽默飛Talos F200i,設備選配有Epsilon應力分析系統,配合精準的TEM樣品制備技術、納米電子衍射收集參數優化和數據處理方法優化,可快速實現納米尺度的應變分析。
![<b class='flag-5'>透射電</b>子顯微鏡中的應變分析技術](https://file1.elecfans.com/web3/M00/04/60/wKgZPGdzYAqAE2UZAAAoP3aaTIM980.png)
透射電鏡中的EDS定性與定量分析
季豐電子材料分析實驗室配備賽默飛Talos F200E,EDS定量方法采用標準的Cliff-Lorimer測試方法,并帶有X射線吸收校正功能,通過對樣品角度和厚度、電鏡參數、采譜參數以
![<b class='flag-5'>透射電鏡</b>中的EDS定性與定量分析](https://file1.elecfans.com/web3/M00/04/39/wKgZPGdyCMCAfez5AAAijvzC3NY486.png)
EBSD技術在樣品制備中的應用:揭示材料微觀結構的關鍵工具
材料的晶體取向、晶界特性、再結晶行為、微觀結構、相態識別以及晶粒尺寸等關鍵信息。金鑒織構取向分析示意圖設備與服務高性能的TF20場發射透射電鏡,這些電鏡配備了能譜儀
![EBSD技術在樣品制備中的應用:揭示材料微觀結構的關鍵工具](https://file1.elecfans.com/web3/M00/00/54/wKgZPGdINFCAF6N6AAEdR_aFbqY110.png)
透射電鏡(TEM)樣品制備方法
透射電子顯微鏡(TEM)是研究材料微觀結構的重要工具,其樣品制備是關鍵步驟,本節旨在解讀TEM樣品的制備方法。 ? 透射電子顯微鏡(TEM)是研究材料微觀結構的重要工具,其樣品制備是關鍵步驟
![<b class='flag-5'>透射電鏡</b>(TEM)樣品制備方法](https://file1.elecfans.com/web2/M00/0D/49/wKgaomdFQouAEXnAAABYsrmXqNI866.png)
場發射電鏡(FESEM)應用領域及案例分析
1?設備型號3臺和FIB聯用為雙束聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM),能夠為客戶提供專業的材料分析服務。2?原理場發射掃描電鏡是一種采用尖端肖特基熱場發射技術的先進顯微鏡。與傳統的掃描電鏡相比,場
![場發<b class='flag-5'>射電鏡</b>(FESEM)應用領域及案例分析](https://file1.elecfans.com/web2/M00/0B/93/wKgZomc0zbaAYq5lAADeuFWjh6M691.png)
制備透射電鏡及掃描透射電鏡樣品的詳細步驟
聚焦FIB技術:微納尺度加工的利器聚焦離子束(FIB)技術以其卓越的精確度在微觀加工領域占據重要地位,能夠實現從微米級到納米級的精細加工。金鑒實驗室在這一領域提供專業的FIB測試服務,幫助客戶在微觀
![制備<b class='flag-5'>透射電鏡</b>及掃描<b class='flag-5'>透射電鏡</b>樣品的詳細步驟](https://file1.elecfans.com/web1/M00/F4/C7/wKgZoWcyIXOAF0AmAAClgLcsTI0814.png)
什么是透射電鏡(TEM)?
透射電子顯微鏡(TEM)是一種利用電子束穿透超薄樣品以獲取高分辨率圖像的技術,它在材料科學、生物學和物理學等多個學科領域內扮演著至關重要的角色。TEM能夠揭示材料的微觀結構,包括形貌、晶體結構、缺陷
![什么是<b class='flag-5'>透射電鏡</b>(TEM)?](https://file1.elecfans.com/web2/M00/0B/1F/wKgZomctlI-AOcfHAAAjrbNCpFM618.png)
透射電子顯微鏡(TEM):基礎知識概覽
透射電子顯微鏡(TEM)概述透射電子顯微鏡(TEM)是材料科學、納米技術等領域中不可或缺的研究工具。對于新接觸TEM的科研人員而言,理解其基礎原理和操作對于高效利用這一設備至關重要。本文將詳細介紹
![<b class='flag-5'>透射電</b>子顯微鏡(TEM):基礎知識概覽](https://file1.elecfans.com/web2/M00/0B/DD/wKgaomcrDNqAeJY7AAC5Xc0CqcU481.png)
Snap發布新一代Spectacles AR眼鏡
Snap公司近日震撼發布了其第五代Spectacles AR眼鏡,再次引領可穿戴設備領域的創新潮流。這款新一代AR眼鏡不僅設計時尚,更實現了與移動設備的無縫協同,為用戶帶來前所未有的沉浸式體驗。
禾賽科技獨供百度Apollo新一代無人車主激光雷達
近日,禾賽科技宣布獲得百度蘿卜快跑新一代無人駕駛平臺主激光雷達的獨家定點供應權,標志著雙方在自動駕駛領域的合作邁上新臺階。據悉,今年百度將陸續投放第六代Apollo無人車頤馳06,而這款無人車上的核心感知設備——主激光雷達,正是
Rokid正式發布新一代AR Lite空間計算套裝
Rokid正式發布新一代AR Lite空間計算套裝,包括Rokid Max2眼鏡和搭載驍龍平臺的Rokid Station2主機。
透射電鏡TEM測試解剖芯片結構:深入微觀世界的技術探索
在芯片制造領域,透射電鏡TEM技術發揮著至關重要的作用。通過TEM測試,科學家可以觀察芯片中晶體結構的變化,分析晶體缺陷,研究材料界面結構,從而深入了解芯片的工作原理和性能。
![<b class='flag-5'>透射電鏡</b>TEM測試解剖芯片結構:深入微觀世界的技術探索](https://file1.elecfans.com//web2/M00/C1/63/wKgZomXdoceAFlCdAAB-OEiNvEQ36.webp)
評論