賽默飛發布新一代Iliad透射電鏡
近日，全球領先的科技儀器制造商賽默飛世爾科技宣布，其最新研發的Thermo Scientific Iliad(掃描)透射電鏡已正式登陸中國市場。這款全集成的分析型(掃描)透射電鏡代表了當前透射電鏡技術的巔峰之作。
Iliad不僅集成了賽默飛全新的Iliad電子能量損失譜儀(EELS)和能量過濾器，還配備了專用的Zebra EELS探測器，以及創新的NanoPulser超快靜電束閘。這些先進技術通過深度集成，使得Iliad在性能上實現了質的飛躍。
作為一款面向高端科研和工業應用的透射電鏡，Iliad以其卓越的分析能力和高度集成的系統架構，為用戶提供了前所未有的使用體驗。無論是材料科學、納米技術還是生命科學等領域的研究人員，都能通過Iliad獲得更為準確、精細的實驗數據。
賽默飛世爾科技一直致力于推動科學儀器的技術創新和應用發展。此次Iliad透射電鏡的發布，不僅展示了賽默飛在透射電鏡領域的領先地位，更為全球科研和工業用戶帶來了全新的解決方案和機遇。
聲明：本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用，如有內容侵權或者其他違規問題，請聯系本站處理。
舉報投訴
-
探測器
+關注
關注
14文章
2699瀏覽量
74200 -
電鏡
+關注
關注
0文章
97瀏覽量
9575
發布評論請先 登錄
相關推薦
熱點推薦
原位透射電鏡在半導體中的應用
傳統的透射電鏡（TEM）技術往往只能提供材料在靜態條件下的結構信息，無法滿足科研人員對材料在實際應用環境中動態行為的研究需求。為了克服這一局限性，原位TEM技術應運而生。
什么是透射電子顯微鏡？
透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡（簡稱透射電鏡）是一種利用加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，通過電子與樣品原子的碰撞產生立體角散射來成像的儀器。散射角的大小與樣品的密度、厚度密切相關
帶你了解什么是透射電鏡？
透射電鏡的工作原理透射電鏡是基于電子束與超薄樣品相互作用。它利用電子加速槍產生高能電子束，經過電磁透鏡聚焦和準直后照射到超薄樣品上。樣品中不同區域的原子對電子的散射和吸收程度不同，導致透過樣品后
什么是透射電子顯微鏡（TEM）？
透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡簡稱TEM，是一種高分辨率的微觀分析儀器，自1933年發明以來，已成為探索微觀世界的強大工具。其工作原理是在高真空環境下，電子槍發射電子束，經過聚焦后形成細
透射電子顯微鏡：微觀世界的高分辨率探針
透射電鏡的成像原理透射電子顯微鏡（TEM）是一種利用波長極短的電子束作為照明源的高分辨率電子光學儀器。其成像原理基于電子束與樣品的相互作用。電子槍發射出的電子束經過加速和聚焦后照射到樣品上，電子束
透射電鏡與 FIB 制樣技術解析
和萃取復型主要用于金相組織觀察、斷口形貌、形變條紋、第二相形態、分布和結構等方面的分析。透射電鏡工作原理透射電子顯微鏡（TEM）是一種高分辨率的顯微鏡技術，其工作原理
帶你一文了解掃描透射電子顯微鏡
，其電子學系統也比TEM和SEM更為復雜，這使得STEM在硬件配置和操作維護方面都面臨一定挑戰，但同時也為其提供了獨特的性能優勢。掃描透射電鏡的原理掃描透射電子顯微
透射電子顯微鏡(TEM)的優勢及應用
工具。透射電鏡的工作原理與技術優勢透射電子顯微鏡的工作原理基于高能電子束的穿透與電磁透鏡的成像。它利用高能電子束穿透極薄的樣品，通過電磁透鏡系統對透射電子進行聚焦
透射電子顯微鏡（TEM）在鋰電池材料分析中的應用
這一探索旅程中的得力助手，其原子尺度的空間分辨本領，使科研人員得以深度洞察材料的微觀構造。（a）TEM透射電鏡的結構原理圖；（b）TEM測試照片（Co3O4納米片）
什么是透射電鏡？
透射電子顯微鏡（TEM，TransmissionElectronMicroscope），簡稱透射電鏡，是一種以波長極短的電子束作為照明源的高分辨率、高放大倍數的電子光學儀器。透射電子顯
透射電鏡（TEM）要點速覽
透射電鏡（TEM）簡介透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope，TEM）自1932年左右問世以來，便以其卓越的性能在微觀世界的研究中占據著舉足輕重的地位。它利用
透射電鏡中的EDS定性與定量分析
季豐電子材料分析實驗室配備賽默飛Talos F200E，EDS定量方法采用標準的Cliff-Lorimer測試方法，并帶有X射線吸收校正功能，通過對樣品角度和厚度、電鏡參數、采譜參數以
透射電鏡(TEM)樣品制備方法
透射電子顯微鏡(TEM)是研究材料微觀結構的重要工具,其樣品制備是關鍵步驟，本節旨在解讀TEM樣品的制備方法。 ? 透射電子顯微鏡(TEM)是研究材料微觀結構的重要工具,其樣品制備是關鍵步驟
制備透射電鏡及掃描透射電鏡樣品的詳細步驟
聚焦FIB技術：微納尺度加工的利器聚焦離子束（FIB）技術以其卓越的精確度在微觀加工領域占據重要地位，能夠實現從微米級到納米級的精細加工。金鑒實驗室在這一領域提供專業的FIB測試服務，幫助客戶在微觀
什么是透射電鏡（TEM）？
透射電子顯微鏡（TEM）是一種利用電子束穿透超薄樣品以獲取高分辨率圖像的技術，它在材料科學、生物學和物理學等多個學科領域內扮演著至關重要的角色。TEM能夠揭示材料的微觀結構，包括形貌、晶體結構、缺陷
工商網監
評論