提要
本期課堂,我們將繼續深入CMOS邏輯IC的使用注意事項,介紹如何應對電路中的危害、亞穩態、鎖存以及ESD防護等問題。
Q
危害的問題
如果是由OR(或)、AND(與)和其它門組成的多輸入組合邏輯,輸入信號變化時序的微小差異會導致短暫的須狀脈沖,這即是所謂的危害。
讓我們看一下危險是如何因信號延遲的差異而發生的。在下方所示的電路圖中,假設A和B同時發生信號上升沿。施加到B的信號通過反相器到達AND(與)門。由于從B進入AND(與)門的信號因反相器而延遲,AND(與)門將在不同的時序接收到輸入信號A和C,所以可能會在Y輸出處產生高脈沖。
A
危害的對策
組合邏輯的設計應確保避免從輸入的同步變化產生所需的輸出值。使用觸發器調整輸出時序也有助于消除危害。除了信號時序差異外,緩慢變化的輸入也可能導致危害。使用帶有施密特觸發器輸入的邏輯門,可以防止因緩慢變化的輸入引起的危害。
亞穩態的問題
同步時序電路的輸出有可能會維持一種稱為亞穩態的不穩定平衡狀態,具體將取決于將被鎖存的數據信號相對于時鐘信號的時序。當不滿足數據表中顯示的輸入建立和保持時間(ts和th)要求時,時序電路將進入亞穩態。
當有源輸入(如時鐘信號)和無源輸入(如數據信號)彼此異步時,可能發生亞穩態。為防止時序電路進入亞穩態,必須滿足數據表中所示的推薦時序條件。
例如,當CK和D輸入異步時,它們可以如下所示進行同步。但在這種情況下,應注意CK的周期和傳播延遲。如果它們接近,數據信號可能不會傳播到第二個觸發器。
下圖所示的同步器由兩個觸發器組成。第一個觸發器將防止tpd增加并防止危害轉移到第二個觸發器的輸出。即使在這種情況下,當CK1和CK2之間的相位差接近第一個觸發器的CK至Q延遲(tpd)時,仍需注意。
注:如果兩個觸發器不能根據同樣的時鐘進行工作,可以創建與CK1同步的反相時鐘并將其用作CK2(如CK2=/CK1)以避免亞穩態。
Q
鎖存的問題
鎖存是由可控硅整流器(SCR)產生的CMOS集成電路的特有現象。
讓我們以n基板上形成的CMOS邏輯IC為例進行說明。CMOS邏輯IC具有各種寄生雙極晶體管(Q1至Q6),內部將形成雙向可控硅電路。鎖存的一個常見原因是CMOS IC輸入或輸出引腳上的噪聲、浪涌電壓或浪涌電流過大。另一個原因是供電電壓發生急劇變化。在這種情況下,內部雙向可控硅電路將導通,導致即使在觸發信號斷開時仍有過大的電流繼續在VCC和GND之間流動,最終導致IC損壞。
下面簡要介紹導致鎖存的過程。
下圖顯示了包含寄生結構的CMOS電路的等效電路。在n溝道MOSFET側的p阱中形成NPN晶體管(Q2),而在p溝道MOSFET側的n基板中形成PNP晶體管(Q1)。寄生電阻(RS和RW)也存在于IC引腳之間。寄生元件(Q1和Q2)形成晶閘管。
例如,如果電流由于外部原因流入n基板,則n基板中的電阻器RS將發生電壓降。結果,Q1導通,使得電流從VCC經由p阱中的電阻器RW流向GND。流過RW的電流在RW上產生一個電壓差,這使得Q2導通,使電流流過RS。由于這將進一步增加RS上的電壓差,所以Q1和Q2保持導通。因此,電流繼續增加。如上所述,當p阱中的RW和n基板中的RS都發生電壓差時,CMOS IC將出現鎖存問題。
A
鎖存的對策
在額定條件下使用。如果對IC施加過大的浪涌,建議如下圖所示在IC接口增加一個保護電路。
ESD防護的問題
CMOS邏輯IC提供符合國際標準的靜電放電(ESD)抗擾度。接觸較高的靜電放電可能會導致CMOS邏輯IC故障或永久性損壞。因為CMOS邏輯IC輸入門的氧化膜非常薄(幾百至幾千埃),所以它可能會被幾百到幾千伏特的ESD損壞。
為防止這種情況,每個輸入引腳通常提供ESD保護電路。但這種保護有限。對可能接觸過度ESD的輸入端插入外部ESD保護二極管(例如,連接到電路板外部接口的輸入端)。
東芝提供多種ESD模型。其中,人體模型(HBM)最為常見,該模型的特點是易受人體可能產生的ESD損害的影響。關于人體電容有許多討論。對于靜電放電抗擾度測試,將使用一個100 pF電容器和一個1500 Ω放電電阻器模擬帶電人體。在測試過程中,電容器充滿電,然后通過電阻器放電。
HBM測試電路
至此,關于CMOS邏輯IC使用注意事項的內容就全部結束啦!希望通過這幾篇文章,能夠助您在電路設計中突破難關、提升工作效率。未來隨著技術的不斷進步,新的材料、新的IC設計和制造技術將不斷涌現,芝子期待與您一起探索電子設計的新邊界,共同創造更加智能、高效和可靠的電子系統。
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原文標題:芝識課堂【CMOS邏輯IC的使用注意事項】——深入電子設計,需要這份指南(四)
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