您是否想過，工廠里那些"非黑即白"的判斷，正由AI用最簡潔的邏輯守護質量？今天，讓我們通過一個零件組裝中的彈墊錯裝、漏裝、多裝、錯序分類案例，拆解AI二分類技術的核心原理與應用智慧。

揭秘明治如何用"工業之眼"構建零缺陷防線，讓裝配質量隱患無所遁形！

傳統視覺檢測方案面臨多重挑戰：不同規格零件厚度差異小，金屬反光與形變導致成像復雜，生產線需兼容數十種產品型號。

而VDS20C系列視覺傳感器通過三大技術創新實現了突破：

1. 自主學習型缺陷庫
僅需10-20張樣本即可建立初始模型，結合形狀、紋理、邊緣梯度等多維特征建立復合判斷標準。在產線實測中，模型訓練時間從傳統方案的數小時縮短至幾分鐘。

2. 毫秒級配方切換
通過HMI界面實現參數拖拽式配置，4步完成檢測方案切換，大大提升設備綜合效率（OEE）提升。

3. 多模態光源系統
提供紅/白雙色光源與4組獨立控制光源，偏振光源有效抑制金屬反光干擾。在彈墊檢測中，將反光部件的成像對比度從傳統方案的31。

什么是AI二分類？

AI二分類（Binary Classification）是機器學習中最基礎的分類任務，其核心目標是將數據樣本劃分為兩個互斥的類別。例如，判斷郵件是否為垃圾郵件（是/否）、患者是否患病（陽性/陰性）、設備是否故障（正常/異常）等。其技術本質是通過算法學習數據特征與類別標簽之間的映射關系，形成決策邊界。

核心特點：1、輸出結果二元化預測結果為互斥的兩種類別標簽（如0/1、True/False）
2、模型依賴特征工程需提取關鍵特征（如傳感器數據、圖像像素）以區分類別
3、算法多樣性常用邏輯回歸、支持向量機（SVM）、決策樹及深度學習模型（如CNN）

工業場景中，AI二分類通過實時決策和自動化判斷優化效率與質量，在工業機器視覺中已成為質量控制的基石技術，其核心價值在于將主觀視覺判斷轉化為客觀量化決策。隨著邊緣計算、小樣本學習等技術的突破，未來將進一步滲透至高精度、高魯棒性要求的場景（如半導體晶圓檢測），推動工業質檢向“零缺陷”目標邁進。