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• 發布了文章 2024-12-05 15:29

  EBSD樣品制備技術的對比分析

  

  電子背散射衍射（EBSD）技術因其能夠揭示材料的微觀結構特征而變得不可或缺。這項技術依賴于對樣品表面的精確分析，因此，制備符合要求的EBSD樣品是實現有效分析的前提。1.清潔表面：樣品表面需要達到極高的清潔標準，不得有油污、氧化層或其他任何形式的污染，以保證電子束能直接與樣品相互作用。2.平整度：樣品表面必須足夠平整，以減少電子束散射并提升衍射信號的清晰度。

  顯微鏡 離子束

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• 發布了文章 2024-12-04 12:40

  LED光源抗硫化實驗

  

  在照明技術迅速發展的今天，LED光源憑借其高效率、耐用性和環境友好性，已成為市場上的主流選擇。盡管如此，LED光源在實際應用中仍面臨諸多挑戰，尤其是硫化導致的變色問題，這不僅影響產品的外觀，更關鍵的是會降低光源的性能和壽命。金鑒實驗室是一家專注于LED產業的第三方檢測機構，致力于改善LED品質，服務LED產業鏈中各個環節，使LED產業健康發展。測試方案方法一

  led 光源 測試

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• 發布了文章 2024-12-04 12:39

  氬離子拋光在電鏡樣品制備中的優勢：超越FIB的大面積處理能力

  

  氬離子拋光技術概述氬離子拋光技術是一種先進的樣品制備方法，廣泛應用于材料科學和微觀分析領域。該技術通過使用惰性氣體氬的離子束對樣品表面進行精確的切割和拋光，以獲得高質量的樣品表面，從而便于進行后續的電子顯微鏡成像、能譜分析、電子背散射衍射、光致發光等高級分析。氬離子切割技術原理氬離子切割技術的核心在于其寬離子束的應用，這種離子束通常寬度約為1毫米，能夠精確地

  切割技術 顯微鏡 電鏡

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• 發布了文章 2024-12-04 12:38

  AEC-Q102板彎曲試驗的重要性

  

  在汽車電子領域，電子組件的穩定性對于保障汽車的安全性和性能發揮著關鍵作用。隨著技術的進步，汽車中電子系統的比重不斷增加，它們不僅支撐著動力系統的運轉，還涵蓋了安全系統和信息娛樂系統。這些系統的正常運作都離不開電子元件的可靠性。因此，對于汽車制造商和零部件供應商來說，確保這些電子元件在多變的環境條件下依然能夠可靠地工作，是一個亟待解決的重要問題。金鑒實驗室是一

  汽車電子 電路板彎曲 試驗

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• 發布了文章 2024-12-04 12:37

  離子束技術在多領域的應用探索

  

  聚焦離子束技術（FIB）聚焦離子束技術（FocusedIonBeam，FIB）是一種高精度的微納加工手段，它通過加速并聚焦液態金屬離子源產生的離子束，照射在樣品表面，從而產生二次電子信號以形成電子像。這一過程與掃描電子顯微鏡（SEM）的成像原理相似，但FIB利用高能離子束對材料表面原子進行剝離，實現微米至納米級別的精確加工。FIB技術結合物理濺射和化學氣體反

  fib 離子束 芯片

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• 發布了文章 2024-12-04 12:35

  什么是RoHS測試？

  

  RoHS，全稱為《電氣、電子設備中限制使用某些有害物質指令》，是一個旨在限制電子電氣產品中特定有害物質使用的法規。歐盟于2006年7月1日實施了RoHS指令的第一版（RoHS1.0），明確限制了六種有害物質的使用，包括鉛、鎘、汞、六價鉻、多溴聯苯和多溴二苯醚。違反這些限制的產品在出口到歐盟時可能會受到重罰。RoHS2.02015年6月4日，歐盟通過指令(EU

  RoHS 測試 電氣

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• 發布了文章 2024-12-03 12:18

  LED驅動電源故障診斷與分析

  

  在LED照明系統中，驅動電源的穩定性對于整個燈具的壽命至關重要。盡管LED光源本身具有較長的使用壽命，但LED驅動電源的復雜性往往導致其成為系統中的薄弱環節。據統計，超過80%的LED燈具失效是由于驅動電源的問題引起的。電子元器件的老化問題電子元器件是LED驅動電源的核心組成部分，包括電阻、電容、二極管、三極管等。這些元器件在長期使用過程中，可能會因為開路、

  led 照明系統 驅動電源

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• 發布了文章 2024-12-03 12:17

  材料失效分析方法匯總

  

  材料故障診斷學：失效分析技術失效分析技術，作為材料科學領域內的關鍵分支，致力于運用科學方法論來識別、分析并解決材料與產品在實際應用過程中出現的故障問題。該技術對于增強產品的可靠性、改進設計、優化制造流程、減少成本以及提升市場競爭力扮演著至關重要的角色。失效分析的科學方法論失效分析的科學方法論是一套系統化流程，它從識別失效模式著手，通過觀察失效現象，逐步推導出

  失效分析 材料 電子元器件

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• 發布了文章 2024-12-03 12:16

  電子背散射衍射(EBSD)技術在孿晶結構分析中的應用研究

  

  電子背散射衍射（EBSD）技術作為一種先進的材料表征手段，其在孿晶分析中的應用日益廣泛。EBSD技術通過分析掃描電鏡中電子束與樣品表面相互作用產生的衍射菊池帶，能夠精確地確定材料的晶體結構、取向以及晶界等信息。TWIP鋼(Fe–22wt.%Mn–0.6wt.%C,FCC)的孿生變形行為取向依賴性(a)拉伸真應變為0.3時試樣縱截面取向成像圖;(b)產生和未產

  材料 電子束 鎂合金

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• 發布了文章 2024-12-03 12:14

  雙束FIB-SEM系統在材料科學中的應用

  

  導語聚焦離子束掃描電鏡雙束系統（FIB-SEM）是一種先進的微納加工和成像技術，它在材料科學研究中扮演著不可或缺的角色。FIB-SEM系統能夠對材料進行精確的定點切割和分析，從而揭示材料內部的微觀結構和成分。以CdS微米線為例，通過光學顯微鏡觀察，我們可以看到微米線節點處可能含有其他物質，但無法確定具體成分和內部形貌。利用FIB-SEM技術，我們可以在節點處

  掃描電鏡 顯微鏡 材料

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