動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2025-05-09 16:47
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發(fā)布了文章 2025-05-08 14:30
元器件失效分析有哪些方法？
失效分析的定義與目標(biāo)失效分析是對(duì)失效電子元器件進(jìn)行診斷的過(guò)程。其核心目標(biāo)是確定失效模式和失效機(jī)理。失效模式指的是我們觀察到的失效現(xiàn)象和形式，例如開(kāi)路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等；而失效機(jī)理則是指導(dǎo)致失效的物理或化學(xué)過(guò)程，如疲勞、腐蝕、過(guò)應(yīng)力等。通過(guò)失效分析，我們能夠提出有效的糾正措施，防止同類問(wèn)題再次出現(xiàn)，從而提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。失效分析的程序1.收集 -
發(fā)布了文章 2025-05-08 14:26
聚焦離子束技術(shù)：原理、應(yīng)用與展望
聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonBeam，簡(jiǎn)稱FIB）作為一種前沿的微觀加工與分析技術(shù)，近年來(lái)在眾多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。金鑒實(shí)驗(yàn)室憑借其專業(yè)的檢測(cè)技術(shù)和服務(wù)，成為了眾多企業(yè)在半導(dǎo)體檢測(cè)領(lǐng)域的首選合作伙伴。FIB技術(shù)的基本原理聚焦離子束技術(shù)的核心在于將特定元素（如鎵元素）的離子化為帶正電的離子（Ga+），并通過(guò)電場(chǎng)加速使其獲得高能量。隨后，借助靜電透鏡系統(tǒng) -
發(fā)布了文章 2025-05-07 14:11
AEC-Q102認(rèn)證之器件可焊性
可焊性測(cè)試在汽車電子中的關(guān)鍵地位在汽車電子行業(yè)，AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)為分立光電半導(dǎo)體元件的可靠性測(cè)試提供了全面而嚴(yán)格的規(guī)范。其中，可焊性測(cè)試作為核心環(huán)節(jié)之一，對(duì)于保障產(chǎn)品質(zhì)量和性能發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。汽車電子設(shè)備在運(yùn)行過(guò)程中需要面對(duì)復(fù)雜多變的工作環(huán)境，如高溫、高濕、振動(dòng)等，而良好的可焊性是確保光電半導(dǎo)體器件與電路板之間實(shí)現(xiàn)可靠電氣連接和機(jī)械固定的基礎(chǔ)。只有 -
發(fā)布了文章 2025-05-06 15:06
雪崩二極管：汽車電子系統(tǒng)中的關(guān)鍵光檢測(cè)元件
雪崩二極管的原理與結(jié)構(gòu)雪崩二極管（AvalanchePhotodiode，簡(jiǎn)稱APD）是一種利用載流子雪崩倍增效應(yīng)來(lái)放大光電信號(hào)的光檢測(cè)二極管。其核心原理是利用載流子雪崩倍增效應(yīng)來(lái)放大光電信號(hào)。在高反向偏壓下工作時(shí)，光生載流子在強(qiáng)電場(chǎng)中獲得足夠的動(dòng)能，與晶格碰撞產(chǎn)生新的電子-空穴對(duì)，從而實(shí)現(xiàn)載流子的雪崩倍增，顯著增加電流增益。這種倍增效應(yīng)使得APD在低光強(qiáng)條 -
發(fā)布了文章 2025-05-06 15:03
聚焦離子束技術(shù)在透射電子顯微鏡樣品制備中的應(yīng)用
聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡(jiǎn)稱FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的微觀加工與分析手段，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)以及半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域。FIB核心原理是利用離子源產(chǎn)生高能離子束，通常以鎵（Ga）離子為主，部分設(shè)備還配備氦（He）或氖（Ne）離子源。離子束在轟擊樣品時(shí)，會(huì)產(chǎn)生濺射現(xiàn)象，從而實(shí)現(xiàn)材料的精準(zhǔn)去除，同時(shí)通過(guò)二次電子信號(hào)獲取樣品的形貌 -
發(fā)布了文章 2025-04-30 15:20
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發(fā)布了文章 2025-04-29 17:28
AEC-Q102中WHTOL及H3TRB試驗(yàn)的異同
汽車電子行業(yè)中光電半導(dǎo)體的要求在汽車電子行業(yè)我們熟知的光電半導(dǎo)體器件可靠性是確保車輛安全和性能的關(guān)鍵因素之一。隨著汽車技術(shù)的進(jìn)步，這些器件不僅要在各種氣候條件下穩(wěn)定工作，還要承受來(lái)自車輛內(nèi)部和外部的多種應(yīng)力。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)為這些器件提供了一套全面的測(cè)試和評(píng)估程序，以確保它們能夠滿足汽車行業(yè)的嚴(yán)格要求。WHTOL測(cè)試的重要性AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)中的一個(gè)重 -
發(fā)布了文章 2025-04-29 17:26
元器件失效之推拉力測(cè)試
元器件失效之推拉力測(cè)試在當(dāng)代電子設(shè)備的生產(chǎn)與使用過(guò)程中，組件的故障不僅可能降低產(chǎn)品的性能，還可能導(dǎo)致產(chǎn)品徹底失效，給用戶帶來(lái)麻煩和經(jīng)濟(jì)損失，同時(shí)對(duì)制造商的聲譽(yù)和成本也會(huì)造成負(fù)面影響。為什么要做推拉力測(cè)試？在電子元件的焊接、運(yùn)輸和使用過(guò)程中，它們經(jīng)常遭受到振動(dòng)、沖擊以及彎曲等外部力量的干擾，這些力量可能在焊點(diǎn)或元件上產(chǎn)生機(jī)械應(yīng)力，進(jìn)而有可能導(dǎo)致焊點(diǎn)斷裂或元件損172瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-04-28 20:18
LED芯片質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)之X-ray檢測(cè)
X射線檢測(cè)在光電半導(dǎo)體領(lǐng)域，LED芯片作為核心技術(shù)，其質(zhì)量至關(guān)重要。隨著制造工藝的不斷進(jìn)步，LED芯片的結(jié)構(gòu)日益復(fù)雜，內(nèi)部潛在缺陷的風(fēng)險(xiǎn)也隨之增加。盡管在常規(guī)工作條件下，這些缺陷可能不會(huì)明顯影響芯片的性能，但在高電流、高溫等極端環(huán)境下，它們可能引發(fā)功能失效，甚至導(dǎo)致整個(gè)LED系統(tǒng)損壞。因此，在LED芯片制造和應(yīng)用過(guò)程中，利用無(wú)損檢測(cè)技術(shù)對(duì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳細(xì)檢查176瀏覽量
