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SPEA

SPEA成立于1976年,注于于電路板和電路模塊檢測,為半導體IC和 MEMS傳感器設計并制造自動測試設備,提供標準化產品和定制化服務方案

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SPEA 4085飛針測試設備

型號: 4085

--- 產品詳情 ---

 

4085飛針測試設備是市面上性能最強大而又最緊湊的自動 8 倍飛針測試儀。

它具有一流的吞吐量,每年可測試超過 800,000 件電路板, 適合高產量的生產測試1。飛針定位具有高度的精確性和可重復 性,分別為20μm和5μm,能夠測試帶有小于 50μm 的微焊盤 和SMD01005 元件的高密度電路板。此外,系統設計還可接 觸更微型的元件,例如SMD 008004。


體積小,吞吐量大

4085的超高速運動,讓它每年可測試超過  800,000 件電路板, 滿足大量生產的需求1。應用于  X-Y-Z  軸線性運動技術可提供無 可比擬的加速度和速度,8  個飛針每秒可對電路板頂部和底部進 行高達  180  次接觸。測試儀的集成傳送帶可將被測器件快速載 入和載出測試區域,索引時間為 2.5 秒。


 

4085系統采用最先進的飛針測試技術,結構緊湊而功能強大。其性能/尺寸比確實獨一無二:包括集成傳送帶在內,每一個測 試儀的工業占地面積僅為 1.34m2。

 

4085堅固耐用,可保證其出類拔萃的性能經久不變:事實上, 測試儀結構是為在生產環境中連續作業而設計的,把維護需求降 至最低。借助 SPEA 自動加載模塊,可實現測試過程總吞吐量最 大化,從而設置全自動化的緊湊測試單元。例如,4085 測試儀 結合一個雙向加載模塊,長度可減少 2 米,總占地面積可減少 2.3m2。


 XYZ 軸全線性運動 

 

最高的運動速度 

定位可重復,行程無限制

無機械磨損 

比其他運動技術具有更少機械部件

 

 XYZ 軸上的線性光學編碼器 

 

實時定位反饋 ·

閉環精度 

軸定位直接測量,無附加機械元件導致的錯誤

長時間操作下的定位測量穩定性

 

 精選的花崗巖底盤 

 

優秀的減震性能 

非常低的熱膨脹 

較高的剛性 

設備架構動態穩定性極高
 

5G 器件射頻測試

 

射頻測試是一種針對消費電子產品生產和維修操作的功能測試技 術,用于檢驗接收和傳輸 500 MHz 至 6 GHz 信號的射頻組件 的正常運行。
 

射頻測試測量被測器件發出信號的頻率和幅度,檢查其是否符合 預期參數,或生成射頻信號并詢問器件,驗證其是否正確接收。通過配置測量儀器的綜合設置范圍,可以生成和分析任何射頻信 號。
 

該項測試技術可用于4085多功能系統,可完全滿足 5G 電路板 的測試要求,例如最新一代智能手機和平板電腦使用的電路板。可測試技術包括:GSM 、 LTE、Wi-Fi (2.4-5GHz) 、藍牙 、GPS 、FM 立體聲收音機、WCDMA 、 DVB 、 DAB 、LR-WPAN 、CDMA等

精準度高

4085測試儀專為滿足新的微電子技術需求而設計和生產,后者 要求高度的可達性和檢測精度
 

系統各軸上直接安裝了具備亞微米分辨率的線性光學編碼器,在 接觸 SMD 01005 元件和小于 50μm 的測試焊盤時可提供極高 的定位精度(20μm)和一致的可重復性(5μm)。此外,4085 專為接觸更小的元件而設計,例如  SMD  008004。這一切都沒有損 壞的風險:超快速的線性電機具有探針輪廓受控下降的功能,確 保安全接觸。
 

天然花崗巖底盤可保證極高的系統穩定性,將振動減至最小,保 持檢測精度經久不變。此外,X-Y-Z 軸安裝了高分辨率的測量 儀器,可進行超精確測量,分辨率為 0.1pF,信號采集時間為毫秒級。

 

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