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芯片測(cè)試

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芯片測(cè)試資訊

中信證券、景順長城基金到成都華微調(diào)研訪談

近日,中信證券研究部、景順長城基金機(jī)構(gòu)到成都華微調(diào)研,就產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)及行業(yè)相關(guān)情況進(jìn)行交流訪談,成都華微董事會(huì)秘書李春妍、檢測(cè)工程部副部長李江陵陪同調(diào)研。 ...

2022-10-31 標(biāo)簽:芯片測(cè)試 748 0

ICCAD 2022 | 加速科技邀您相聚廣州

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中國集成電路設(shè)計(jì)業(yè)2022年會(huì)暨廣州集成電路產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新發(fā)展高峰論壇將于2022年11月9日—10日于廣州保利世貿(mào)博覽館舉行。作為業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備供...

2022-10-27 標(biāo)簽:集成電路半導(dǎo)體芯片測(cè)試 1325 0

淺談芯片測(cè)試的重要性

因?yàn)樵谛酒谥圃爝^程中,不可避免的會(huì)出現(xiàn)缺陷,芯片測(cè)試就是為了發(fā)現(xiàn)產(chǎn)生缺陷的芯片。

2022-10-12 標(biāo)簽:芯片設(shè)計(jì)芯片測(cè)試 2587 0

利爾達(dá)“芯”之隊(duì)摘得余杭區(qū)芯片測(cè)試技能大賽第二名

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7月30日,“夢(mèng)想加速 創(chuàng)芯未來”2022年余杭區(qū)集成電路芯片測(cè)試技能大賽在夢(mèng)想小鎮(zhèn)隆重舉行。來自利爾達(dá)科技集團(tuán)的利爾達(dá)“芯”之隊(duì)摘得本次大賽第二名,榮...

2022-10-09 標(biāo)簽:集成電路芯片測(cè)試利爾達(dá) 1328 0

可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板與振弦傳感器測(cè)量模塊

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2022-09-06 標(biāo)簽:傳感器芯片測(cè)試測(cè)量模塊 642 0

可編程USB轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板

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可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 ?SHT3x-DIS 溫濕度傳感器芯片 可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 ?SHT3x-DIS 溫濕度傳感器芯片 ...

2022-09-02 標(biāo)簽:芯片測(cè)試溫濕度傳感器 1051 0

可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 S2S 功能介紹

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2022-08-26 標(biāo)簽:芯片測(cè)試開發(fā)板串口適配器 1119 0

可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板的詳細(xì)接口與功能

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可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板的詳細(xì)接口與功能 可編程 USB 轉(zhuǎn) UART/I2C/SMBus/SPI/CAN/1-Wire 適配器 USB2S(...

2022-08-25 標(biāo)簽:芯片測(cè)試開發(fā)板串口適配器 1328 0

芯片封裝測(cè)試流程詳解

封裝測(cè)試是將生產(chǎn)出來的合格晶圓進(jìn)行切割、焊線、塑封,使芯片電路與外部器件實(shí)現(xiàn)電氣連接,并為芯片提供機(jī)械物理保護(hù),并利用集成電路設(shè)計(jì)企業(yè)提供的測(cè)試工具,對(duì)...

2022-08-08 標(biāo)簽:封裝封裝測(cè)試芯片測(cè)試 7926 0

萬物互聯(lián)時(shí)代,看IoT測(cè)試如何應(yīng)對(duì)“芯”挑戰(zhàn)

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7月20日15:00,《測(cè)試那些事兒》系列直播第二期——萬物互聯(lián)時(shí)代,IoT測(cè)試如何幫助企業(yè)降本增效如約開播。直播間氣氛輕松活躍,討論熱烈,人氣高漲、圈...

2022-07-21 標(biāo)簽:物聯(lián)網(wǎng)芯片測(cè)試IOT 714 0

芯片測(cè)試的類型與發(fā)展趨勢(shì)分析

一直以來,芯片測(cè)試行業(yè)都被看成是芯片封測(cè)的一部分。而縱觀國內(nèi)芯片行業(yè)的整體情況,傳統(tǒng)一體化封裝測(cè)試企業(yè)無法滿足當(dāng)下的需求。傳統(tǒng)一體化封測(cè)企業(yè)的測(cè)試業(yè)務(wù)往...

2022-07-18 標(biāo)簽:半導(dǎo)體晶圓芯片測(cè)試 3656 0

CIS芯片測(cè)試到底怎么測(cè),CIS測(cè)試方案詳解

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如何滿足不同測(cè)試需求,減少測(cè)試成本、加快測(cè)試時(shí)間和產(chǎn)品上市時(shí)間?

2022-07-05 標(biāo)簽:芯片測(cè)試CIS半導(dǎo)體測(cè)試 6893 0

芯片測(cè)試技術(shù)服務(wù)商利揚(yáng)芯片發(fā)布2022第一季度報(bào)告

芯片測(cè)試技術(shù)服務(wù)商廣東利揚(yáng)芯片測(cè)試股份有限公司發(fā)布2022第一季度報(bào)告,具體內(nèi)容如下。 一、 主要財(cái)務(wù)數(shù)據(jù) (一)主要會(huì)計(jì)數(shù)據(jù)和財(cái)務(wù)指標(biāo) 單位:元 幣種...

2022-06-16 標(biāo)簽:芯片測(cè)試利揚(yáng)芯片 1557 0

芯片測(cè)試座的三大作用 電子產(chǎn)品老化測(cè)試的意義

芯片測(cè)試座檢查在線的單個(gè)元器件以和各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況,具有操作簡單、故障定位準(zhǔn)確,快捷迅速等特點(diǎn)。簡單點(diǎn)描述就是一個(gè)連接導(dǎo)通的插座;

2022-05-24 標(biāo)簽:電子產(chǎn)品芯片測(cè)試老化測(cè)試 5017 0

芯片測(cè)試技術(shù)服務(wù)商利揚(yáng)芯片發(fā)布2021年報(bào)

芯片測(cè)試技術(shù)服務(wù)商廣東利揚(yáng)芯片測(cè)試股份有限公司發(fā)布2021年報(bào),具體內(nèi)容如下。 近三年主要會(huì)計(jì)數(shù)據(jù)和財(cái)務(wù)指標(biāo) (一) 主要會(huì)計(jì)數(shù)據(jù) 單位:元 幣種:人民...

2022-05-13 標(biāo)簽:芯片測(cè)試利揚(yáng)芯片 1566 0

芯片測(cè)試商利揚(yáng)芯片向特定對(duì)象發(fā)行股票的申請(qǐng)獲得批復(fù)

日前,廣東利揚(yáng)芯片測(cè)試股份有限公司關(guān)于向特定對(duì)象發(fā)行股票申請(qǐng)獲得中國證券監(jiān)督管理委員會(huì)同意注冊(cè)批復(fù);利揚(yáng)芯片發(fā)布了正式公告。 廣東利揚(yáng)芯片測(cè)試股份有限公...

2022-04-21 標(biāo)簽:芯片測(cè)試利揚(yáng)芯片 1180 0

芯片測(cè)試流程 芯片測(cè)試價(jià)格

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集成電路芯片的測(cè)試(ICtest)分類包括:分為晶圓測(cè)試(wafertest)、芯片測(cè)試(chiptest)和封裝測(cè)試(packagetest)。

2021-07-14 標(biāo)簽:芯片測(cè)試 1.1萬 0

摩爾精英宣布ATE測(cè)試專家王興仁先生擔(dān)任芯片測(cè)試服務(wù)副總裁

Ivan將帶來他近三十年的芯片ATE測(cè)試技術(shù)管理經(jīng)驗(yàn)和先進(jìn)運(yùn)營管理方法學(xué),為摩爾精英測(cè)試服務(wù)業(yè)務(wù)帶來增長新動(dòng)能。

2020-11-30 標(biāo)簽:芯片測(cè)試摩爾精英 1970 0

測(cè)試技術(shù)助力芯片制造過程中質(zhì)量和良率提升

在芯片設(shè)計(jì),流片,制造,封裝,測(cè)試等一系列過程中,每個(gè)環(huán)節(jié)都不允許出現(xiàn)任何的差錯(cuò)或失誤,否則將導(dǎo)致研發(fā)成本的提高,質(zhì)量的下降,并延誤產(chǎn)品的上市時(shí)間,從而...

2019-12-05 標(biāo)簽:半導(dǎo)體物聯(lián)網(wǎng)芯片測(cè)試 3135 0

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    是德科技公司(NYSE:KEYS)是全球領(lǐng)先的電子測(cè)量公司,通過在無線、模塊化和軟件解決方案等領(lǐng)域的不斷創(chuàng)新,為您提供全新的測(cè)量體驗(yàn)。
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    四方光電
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      失調(diào)電壓,又稱輸入失調(diào)電壓,指在差分放大器或差分輸入的運(yùn)算放大器中,為了在輸出端獲得恒定的零電壓輸出,而需在兩個(gè)輸入端所加的直流電壓之差。
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      矢量信號(hào)發(fā)生器是為不斷滿足通信技術(shù)發(fā)展的數(shù)字化需求而出現(xiàn)的新型信號(hào)發(fā)生器,它將通信中的數(shù)字調(diào)制技術(shù)引入信號(hào)發(fā)生器技術(shù)領(lǐng)域,為通信設(shè)備的測(cè)試提供了必要的條件。
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