適用于自動試驗設備(ATE)、或尺寸要求較高的電氣設備或電池操作應用。
自動試驗設備(ATE)用于半導體組件的生產試驗。為提高試驗效率，ATE 包含用于每次測量日益增加的更大數量的管腳和組件數量的附加功能。為處理這種情況，試驗板配備越來越多的開關用于選擇將要測量的信號。然而另一方面，由于市場要求降低 ATE 尺寸和成本，制造商們無法承擔試驗板尺寸增加的成本。從而刺激了對于更小開關的需求。由于光控繼電器與機械繼電器相比更小、更快、更可靠，它們已廣泛用于 ATE 應用。超小型 TLP3312 光控繼電器經過特別設計以滿足更多尺寸減小的需要。
與封裝在 SSOP4 封裝中的先驅 TLP3212 相比，TLP3312 使用更低的 LED 觸發電流進行開關操作并提供更快的接通和斷開時間。TLP3312 封裝在 SSOP4 封裝中，SSOP4 封裝是用于東芝光控繼電器的最小封裝。與 SSOP4 封裝相比，USOP4 封裝將試驗板空間要求降低約 25%，因此可理想地用于高密度試驗板組件。TLP3312 提供良好的電壓/電流平衡，包括 60V處于斷路狀態的電壓和 0.4A處于接通狀態的電流，使其成為不僅適用于 ATE 應用而且同樣適用于取決于尺寸的通用電氣設備的理想解決方案。
應用
ATE、或尺寸要求較高的電氣設備、電池操作應用。
特征
關斷電壓: 60 V
導通電流: 0.4 A
封裝: USOP4
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