和應(yīng)用程序奠定了基礎(chǔ)，加快了無(wú)線通信、半導(dǎo)體和電子創(chuàng)新的步伐。 ? ? 為了滿(mǎn)足快速跟蹤產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的需要，DataStudio軟件在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)和測(cè)試工作流程中架起了關(guān)鍵數(shù)據(jù)的橋梁。DataStudio
2022-05-26 11:42:37
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，從而能夠在最短的時(shí)間內(nèi)測(cè)試單一被測(cè)單元（UUT）。并行測(cè)試明顯地降低了總測(cè)試次數(shù)，并且提高了儀器利用率（見(jiàn)圖1），但是開(kāi)發(fā)并行測(cè)試系統(tǒng)的復(fù)雜性是很高的。開(kāi)發(fā)自己的測(cè)試管理軟件，并且實(shí)現(xiàn)一次對(duì)多個(gè)被測(cè)單元進(jìn)行測(cè)試要求對(duì)并行編程和多線程的深入理解。
2020-07-28 14:44:18764 日前，在SEMICON China 2019展期間，NI重點(diǎn)展示了其在半導(dǎo)體芯片和制造方面的測(cè)試方案，包括電源管理、5G射頻以及量產(chǎn)半導(dǎo)體?測(cè)試系統(tǒng)(STS)，NI工程師向電子發(fā)燒友詳細(xì)介紹了這些測(cè)試領(lǐng)域面臨的挑戰(zhàn)以及NI的解決方案。
2019-03-28 11:00:396326 不止STS（半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)），NI更多半導(dǎo)體測(cè)試方案來(lái)襲，附技術(shù)白皮書(shū)《5G新空口物理層介紹》
2021-01-18 06:59:56
什么是NI TestStand？概覽NI TestStand是一種隨時(shí)可運(yùn)行的測(cè)試管理軟件，它專(zhuān)為加速開(kāi)發(fā)您的測(cè)試與驗(yàn)證系統(tǒng)而設(shè)計(jì)。NI TestStand用于測(cè)試序列的開(kāi)發(fā)、管理和執(zhí)行。這些測(cè)試
2019-05-06 09:26:41
的基準(zhǔn)測(cè)試，它是我們致力于幫助工程師提高效率而開(kāi)發(fā)產(chǎn)品的一個(gè)例子。” Jon Bellin NI應(yīng)用程序與系統(tǒng)軟件研發(fā)部副總裁 PCI Express的增強(qiáng)功能 將Windows 7
2019-05-27 07:40:08
系統(tǒng)利用PCI Express提高了數(shù)據(jù)吞吐量，使用LabVIEW、多核處理器和FPGA增強(qiáng)了處理能力，最后利用NI TestStand軟件降低了每個(gè)待測(cè)單元的總體測(cè)試時(shí)間和費(fèi)用。轉(zhuǎn)載
2014-12-12 16:02:30
作者： Robert GeeMaxim Integrated核心產(chǎn)品事業(yè)部執(zhí)行業(yè)務(wù)經(jīng)理 在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域，管理成本依然是最嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)之一，因?yàn)樽詣?dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)是一項(xiàng)重大的資本支出。那么，有沒(méi)有能夠降低每片晶圓的成本，從而提升競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)的方法呢？有，答案就是提高吞吐率。
2019-07-29 08:11:12
電阻率是決定半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要參數(shù)，為了表征工藝質(zhì)量以及材料的摻雜情況，需要測(cè)試材料的電阻率。半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試方法有很多種，其中四探針?lè)ň哂性O(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便、測(cè)量精度高以及對(duì)樣品形狀
2021-01-13 07:20:44
中國(guó)，2018年8月8日——意法半導(dǎo)體推出符合LoRa-Alliance最新標(biāo)準(zhǔn)的LoRaWAN 1.0.3軟件更新包，使STM32系列微控制器的I-CUBE-LRWAN擴(kuò)展軟件包保持最新、更加安全
2018-08-08 17:09:16
DCT1401半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)西安天光測(cè)控DCT1401半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)能測(cè)試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs
2022-02-17 07:44:04
LabVIEW開(kāi)發(fā)電機(jī)驅(qū)動(dòng)單元通用測(cè)試系統(tǒng)為各種航空航天公司的電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制系統(tǒng)開(kāi)發(fā)通用的硬件和軟件架構(gòu)。由于NI PXIe硬件的廣泛功能，它支持最大帶寬24GB/s的總帶，而軟件可以適應(yīng)各種測(cè)量
2022-06-20 20:39:15
的設(shè)計(jì)目的在于解決四個(gè)關(guān)鍵領(lǐng)域的問(wèn)題：簡(jiǎn)化與加速復(fù)雜序列的開(kāi)發(fā)、提高代碼與測(cè)試程序的復(fù)用性和可維護(hù)性以及改進(jìn)測(cè)試系統(tǒng)的執(zhí)行性能。這使得NI TestStand在多個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域中被采用，包括消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品
2019-04-15 09:40:01
各位發(fā)燒友好啊。 六月的太陽(yáng)，正如發(fā)燒友們對(duì)開(kāi)發(fā)板的狂熱那么猛烈。在收到高云半導(dǎo)體開(kāi)發(fā)板后，發(fā)現(xiàn)其所發(fā)的貨里是沒(méi)有12v充電器的。我的天哦，我是到處翻找，終于在多年不動(dòng)的箱底翻出一個(gè)12v充電器
2022-06-20 13:47:00
FS-Pro系列是業(yè)界唯一的人工智能驅(qū)動(dòng)的一體化半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，單臺(tái)設(shè)備具備IV， CV 與 1/f noise 測(cè)試能力，內(nèi)建的AI算法加速技術(shù)全面提升測(cè)試效率。業(yè)界低頻噪聲測(cè)試黃金系統(tǒng)
2020-07-01 10:02:55
，包括對(duì)電子產(chǎn)品、系統(tǒng)、軟件實(shí)行測(cè)試。任職資格的具體描述：1.電氣工程、機(jī)械工程、計(jì)算機(jī)工程師、計(jì)算機(jī)科學(xué)專(zhuān)業(yè)者優(yōu)先 2.在有3年半導(dǎo)體 Wafer 測(cè)試的工作經(jīng)驗(yàn) 3.有半導(dǎo)體設(shè)備管理經(jīng)驗(yàn)者和半導(dǎo)體
2013-05-08 15:02:12
V1.9.8.07 版本發(fā)布包括云源?軟件的特征和增強(qiáng)功能。高云?半導(dǎo)體建議下載此版本以獲得最新的軟件改進(jìn)。
2022-09-30 06:17:34
等標(biāo)準(zhǔn)將繼續(xù)增加無(wú)線設(shè)備的復(fù)雜性。使用NI PXIe、STS、VTS等NI的軟硬件系統(tǒng)完成的測(cè)試方案有哪幾種呢？
2019-02-13 14:09:43
的編寫(xiě)、修改、調(diào)測(cè)、裝載，新產(chǎn)品測(cè)試程序的開(kāi)發(fā)；2.指導(dǎo)生產(chǎn)線生產(chǎn)制造及測(cè)試人員嚴(yán)格執(zhí)行有關(guān)工藝技術(shù)文件及測(cè)試文件；3.測(cè)試軟件的管理和定期檢定。測(cè)試設(shè)備的維護(hù)、管理和定期檢定；4.參與技術(shù)攻關(guān)工作，改善
2018-07-24 16:41:17
公司開(kāi)發(fā)的高精度源測(cè)量單元 （SMU）為核心測(cè)試設(shè)備，配備使用簡(jiǎn)便靈活，功能 豐富的CycleStar測(cè)試軟件，及精準(zhǔn)穩(wěn)定的探針臺(tái)，為客戶(hù)提供了可靠易用的解決方案，極大的提高了用戶(hù) 的工作效率。吉時(shí)利
2019-10-08 15:41:37
生產(chǎn)力下降、長(zhǎng)時(shí)間軟件維護(hù)帶來(lái)的資源 緊缺。相反，如果使用市場(chǎng)上現(xiàn)成可用的測(cè)試管理軟件，如NI TestStand，將讓您減少設(shè)備常見(jiàn)功能的開(kāi)發(fā)，使您專(zhuān)注于每個(gè)設(shè)備不同操作的測(cè)試代碼，從而最大限度地提高
2019-04-08 09:42:12
HIL測(cè)試控制面板 用戶(hù)可以使用現(xiàn)有的方法和臺(tái)架測(cè)試模式著重驗(yàn)證所有ECU的軟件和硬件功能。使用和配置非常方便，用戶(hù)可以直接進(jìn)行系統(tǒng)重新配置而不需要請(qǐng)求客戶(hù)支持。NI PXI平臺(tái)適合與第三方的定制開(kāi)發(fā)
2019-04-08 09:40:07
絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)軟件功能絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)由防爆一體機(jī)、HP3530絕緣電阻測(cè)試儀、待測(cè)絕緣電阻及腳踏開(kāi)關(guān)組成。絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)由用戶(hù)管理、系統(tǒng)登錄、儀器連接、功能選擇及測(cè)試、歷史數(shù)據(jù)查詢(xún)、數(shù)據(jù)導(dǎo)出
2021-05-20 09:40:53
怎么可以創(chuàng)建出高性能的測(cè)試系統(tǒng)？如何利用NI LabVIEW技術(shù)提高測(cè)試系統(tǒng)的吞吐量？如何利用NI LabVIEW技術(shù)實(shí)現(xiàn)并行化處理和并行化測(cè)試？
2021-04-15 07:00:28
引信軟件安全性測(cè)試系統(tǒng)有什么特點(diǎn)？怎樣利用虛擬儀器技術(shù)去開(kāi)發(fā)引信軟件安全性測(cè)試系統(tǒng)？
2021-04-09 07:01:56
系統(tǒng)等各種設(shè)備和系統(tǒng)。STM32系列微控制器的制造商意法半導(dǎo)體是世界領(lǐng)先的32位Arm?Cortex?-M-core 微控制器廠商。為加快和促進(jìn)開(kāi)發(fā)社區(qū)的應(yīng)用開(kāi)發(fā)，意法半導(dǎo)體建立了一個(gè)強(qiáng)大的軟硬件開(kāi)發(fā)生態(tài)系統(tǒng)
2018-07-13 15:52:39
提升了測(cè)試覆蓋率。NI 射頻芯片測(cè)試方案配置NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS）芯片量產(chǎn)測(cè)試解決方案可基于NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS），STS在完全封閉的測(cè)試頭里面繼承了NI PXI平臺(tái)、TestStand測(cè)試管理軟件
2018-07-11 11:00:40
`一、系統(tǒng)背景測(cè)試半導(dǎo)體材料的霍爾效應(yīng)是表征和分析半導(dǎo)體材料的重要手段。我們可以根據(jù)霍爾系數(shù)的符號(hào)來(lái)判斷半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電類(lèi)型，是N型還是P型；霍爾效應(yīng)從本質(zhì)上講是運(yùn)動(dòng)的帶電粒子在磁場(chǎng)中受洛侖茲力作
2020-06-08 17:04:49
` 不是所有的半導(dǎo)體生產(chǎn)廠商對(duì)所有的器件都需要進(jìn)行老化測(cè)試。普通器件制造由于對(duì)生產(chǎn)制程比較了解，因此可以預(yù)先掌握通過(guò)由統(tǒng)計(jì)得出的失效預(yù)計(jì)值。如果實(shí)際故障率高于預(yù)期值，就需要再做老化測(cè)試，提高實(shí)際可靠性以滿(mǎn)足用戶(hù)的要求。宜特`
2019-08-02 17:08:06
如何利用EDA工具去提高系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試的效率？
2021-05-07 06:08:41
為汽車(chē)的消費(fèi)電子產(chǎn)品提供現(xiàn)成功能，并與用于測(cè)試動(dòng)力系統(tǒng)和電子控制單元(ECU)的CAN等汽車(chē)通信標(biāo)準(zhǔn)集成。醫(yī)療設(shè)備測(cè)試通過(guò)提供加速完成的測(cè)試開(kāi)發(fā)和一致性測(cè)試，NI TestStand [3]已應(yīng)用于
2020-06-21 10:51:53
對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試有何要求？對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試有哪幾種方式？如何對(duì)數(shù)字輸出執(zhí)行VOH、VOL和IOS測(cè)試？
2021-07-30 06:27:39
設(shè)計(jì)利用NI的數(shù)據(jù)采集設(shè)備和LabVIEW軟件完成溫度測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)，并利用該系統(tǒng)對(duì)溫度進(jìn)行測(cè)試。跪求大神幫忙，我的郵箱是724555191@qq.com
2013-04-15 11:40:33
迭代更新速度日新月異，如何更靈活并高效地獲得產(chǎn)品創(chuàng)新支持？......國(guó)家儀器 （NI）旨在幫助全球的工程師借用PXI來(lái)加快測(cè)試執(zhí)行時(shí)間、提高軟件開(kāi)發(fā)效率，提高處理能力并增強(qiáng)可擴(kuò)展性，從而極大地縮減總
2017-05-03 09:45:38
，以確保他們?cè)?b class="flag-6" style="color: red">軟件方面的投入能 夠被延續(xù)下去，提高軟件資源的重用率。事實(shí)上，2010年NI進(jìn)行的測(cè)試經(jīng)理人調(diào)查報(bào)告顯示，測(cè)試經(jīng)理們對(duì)系統(tǒng)軟件方面投入更多的關(guān)注，其重要性在2011年提高測(cè)試開(kāi)發(fā)效率的策略中排名第二。
2019-07-22 07:58:31
挑戰(zhàn)，并提高產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期的速度和效率。NI在2022年的收入為16.6億美元，在40多個(gè)國(guó)家開(kāi)展業(yè)務(wù)，為半導(dǎo)體和電子、運(yùn)輸、航空航天和國(guó)防市場(chǎng)的約35,000名客戶(hù)提供服務(wù)。艾默生總裁兼首席執(zhí)行官Lal
2023-04-13 15:25:44
聯(lián)合儀器MEMS測(cè)試系統(tǒng)UI320A采用測(cè)試機(jī)加轉(zhuǎn)臺(tái)的構(gòu)架，是對(duì)MEMS陀螺儀和加速度計(jì)的測(cè)試平臺(tái)。可對(duì)MEMS傳感器芯片進(jìn)行測(cè)試，支持I2C/SPI的通訊方式，提供免費(fèi)的開(kāi)源軟件底層API基于C開(kāi)發(fā)，支持VC,VC++，labview等。
2021-12-01 11:34:09
半導(dǎo)體存儲(chǔ)器測(cè)試原理,半導(dǎo)體存儲(chǔ)器的性能測(cè)試,集成電路測(cè)試系統(tǒng).
2008-08-17 22:36:43
168 全自動(dòng)半導(dǎo)體激光COS測(cè)試機(jī)TC 1000 COS（chip on submount）是主流的半導(dǎo)體激光器封裝形式之一，對(duì)COS進(jìn)行全功能的測(cè)試必不可少
2023-04-13 16:28:40
基于NI PXI平臺(tái)的汽車(chē)電子測(cè)試系統(tǒng)
本系統(tǒng)采用NI PXI 硬件平臺(tái)，使用LABVIEW，NI SWITCH EXECUITEIVE，CVI等軟件編寫(xiě)程序實(shí)現(xiàn)了這一系統(tǒng)。使用了以下NI的硬件和軟件產(chǎn)
2010-03-26 17:23:2829 NI 全新交互式測(cè)量軟件SignalExpress 使設(shè)計(jì)與測(cè)試走向融合
該軟件擴(kuò)展了虛擬儀器技術(shù)，增強(qiáng)了工作臺(tái)上的測(cè)量功能2004 年10 月--美國(guó)國(guó)
2009-06-12 10:55:48717 半導(dǎo)體功能測(cè)試包含一些新的術(shù)語(yǔ)，這里先簡(jiǎn)單介紹一下：
· Output Mask
2010-11-29 11:32:002821 測(cè)試程序軟件開(kāi)發(fā)平臺(tái)的實(shí)現(xiàn)討論了測(cè)試程序軟件設(shè)計(jì)平臺(tái)的基本功能、組成和軟件結(jié)構(gòu),并介紹了與測(cè)試系統(tǒng)和UUT有關(guān)的各控制模型或數(shù)據(jù)庫(kù)的功能。在該平臺(tái)基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)TPS可以顯著減
2012-01-09 16:59:5041 吉時(shí)利儀器公司不斷增強(qiáng)半導(dǎo)體行業(yè)性?xún)r(jià)比最高的高速生產(chǎn)參數(shù)測(cè)試方案——S530參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的功能。由于有吉時(shí)利測(cè)試環(huán)境軟件（KTE V5.4）的支持，S530目前配置為48引腳全Kelvin開(kāi)關(guān)以
2012-03-30 11:05:19836 意法半導(dǎo)體STM32F103核心板外擴(kuò)測(cè)試程序
2013-03-26 15:41:3073 針對(duì)當(dāng)前計(jì)算機(jī)硬件測(cè)試軟件測(cè)試中存在檢測(cè)不準(zhǔn)確、軟件安裝沖突不能使用等問(wèn)題，結(jié)合自身的研究，提出一種功能集成的方法，開(kāi)發(fā)出針對(duì)大多數(shù)電腦PC用戶(hù)的通用計(jì)算機(jī)硬件測(cè)試軟件。并以存儲(chǔ)器測(cè)試、處理器測(cè)試
2015-12-21 10:00:1313 測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)建完整指南系列之一， 理解測(cè)試執(zhí)行軟件的目的和核心功能以及如何實(shí)現(xiàn)測(cè)試執(zhí)行程序的自動(dòng)化以及簡(jiǎn)化大型測(cè)試系統(tǒng)。 通過(guò)三種不同的應(yīng)用場(chǎng)景，了解自行開(kāi)發(fā)執(zhí)行程序以及使用商用現(xiàn)成解決方案對(duì)部署和維護(hù)測(cè)試系統(tǒng)效率和成本的影響。
2017-03-29 14:46:24352 隨著現(xiàn)代軟件開(kāi)發(fā)中UML建模T具的廣泛應(yīng)用，如何對(duì)基于UML建模的開(kāi)發(fā)模型進(jìn)行測(cè)試，成為提高軟件開(kāi)發(fā)質(zhì)量的關(guān)鍵。而當(dāng)前針對(duì)軟件測(cè)試的方案中包括V、W、H3種測(cè)試模型。其中V型模型測(cè)試主要進(jìn)行單元測(cè)試
2017-11-16 11:45:209 ，可以完成并行化的測(cè)試構(gòu)架。具有此結(jié)構(gòu)的測(cè)試系統(tǒng)利用PCI Express提高了數(shù)據(jù)吞吐量，使用LabVIEW、多核處理器和FPGA增強(qiáng)了處理能力，最后利用NI TestStand軟件降低了每個(gè)待測(cè)單元的總體測(cè)試時(shí)間和費(fèi)用。
2017-11-16 20:31:578828 
使用MES提高生產(chǎn)力已經(jīng)成為半導(dǎo)體測(cè)試廠商的常見(jiàn)手段，而客戶(hù)對(duì)FT測(cè)試流程及測(cè)試步驟的多樣化需求要求MES軟件必須具有靈活定制測(cè)試流程的功能，并在必要時(shí)能夠由開(kāi)發(fā)人員在MES軟件中快速擴(kuò)展出新種類(lèi)
2017-12-05 14:06:043 了NIPXle-6570基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和NI數(shù)字圖形向量編輯器。 該產(chǎn)品將射頻集成電路、電源管理IC、微機(jī)電（MEMS）系統(tǒng)設(shè)備以及混合信號(hào)IC的制造商從傳統(tǒng)半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)的封閉式架構(gòu)中解放出來(lái)。 傳統(tǒng)ATE的測(cè)試覆蓋率通常無(wú)法滿(mǎn)足最新半導(dǎo)體設(shè)備的要求。通過(guò)將半導(dǎo)體行業(yè)成熟的數(shù)字測(cè)試
2018-01-20 03:32:11290 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，N(美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI)今日宣布為半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)(STS)增加了全新
2018-07-11 10:13:00913 近日，基于美國(guó)國(guó)家儀器 (National Instruments，以下簡(jiǎn)稱(chēng)“NI”) 的PXI源測(cè)量單元 (SMU)，專(zhuān)注利用人工智能驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體測(cè)試測(cè)量的北京博達(dá)微科技有限公司 (簡(jiǎn)稱(chēng)“博達(dá)
2018-01-24 14:27:405771 
NI的戰(zhàn)略性重點(diǎn)領(lǐng)域，憑借基于平臺(tái)的方法， NI的半導(dǎo)體測(cè)試方案可以在行業(yè)不斷提高芯片集成度的需求下確保產(chǎn)品品質(zhì)，保持價(jià)格競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)，此外更適應(yīng)緊張的市場(chǎng)周期。”美國(guó)國(guó)家儀器（National
2018-04-24 14:23:001203 的交互式體驗(yàn)，可讓用戶(hù)在測(cè)試時(shí)更直觀地進(jìn)行調(diào)試。 航空航天、汽車(chē)和半導(dǎo)體行業(yè)的工程師將受益于這一更高效的測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)流程。
2018-06-01 08:06:001507 NI半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)創(chuàng)新論壇，關(guān)注探討如何在實(shí)驗(yàn)室V&V驗(yàn)證、晶圓及封裝測(cè)試中進(jìn)一步降低成本、提高上市時(shí)間，針對(duì)RFIC、ADC等混合信號(hào)芯片，探討如何通過(guò)PXI平臺(tái)化方法降低從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)的測(cè)試成本、以及提高測(cè)試效率等。
2018-08-22 11:29:393806 針對(duì)于RFIC、ADC等混合信號(hào)芯片探討如何通過(guò)PXI平臺(tái)化方法降低從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)測(cè)試成本、提高測(cè)試效率等，NI與合作伙伴，華興源創(chuàng)，全球儀器，博達(dá)微科技共同邀請(qǐng)您參與此次研討會(huì)，共建良好半導(dǎo)體測(cè)試生態(tài)體系。
2018-08-26 09:14:005248 芯片量產(chǎn)測(cè)試解決方案可基于NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS），STS在完全封閉的測(cè)試頭里面繼承了NI PXI平臺(tái)、TestStand測(cè)試管理軟件以及LabVIEW圖形化編程工具。它采用“集成到測(cè)試
2018-09-28 09:30:0012870 許多半導(dǎo)體的檢驗(yàn)與特性實(shí)驗(yàn)室．都依賴(lài)機(jī)架堆疊儀器搭配大量的手動(dòng)測(cè)試程序，而生產(chǎn)測(cè)試單位則使用完整、高效能的昂貴自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備 ATE 來(lái)完成。
2018-11-30 15:55:324714 半導(dǎo)體技術(shù)的要求通常會(huì)超出傳統(tǒng)ATE所能為模擬、混合信號(hào)和RF測(cè)試提供的測(cè)試覆蓋范圍。半導(dǎo)體測(cè)試工程師需要更智能的解決方案來(lái)解決成本、可擴(kuò)展性、設(shè)計(jì)和器件挑戰(zhàn)。
2019-02-05 08:41:003190 作為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的其中一個(gè)環(huán)節(jié)，半導(dǎo)體測(cè)試一直以來(lái)備受關(guān)注。隨著半導(dǎo)體制程工藝不斷提升，測(cè)試和驗(yàn)證也變得更加重要。
2019-04-11 09:12:5915047 半導(dǎo)體測(cè)試解決方案專(zhuān)業(yè)品牌蔚華科技今日宣布與美商NI（National Instruments 國(guó)家儀器）合作，未來(lái)將負(fù)責(zé)NI大中華區(qū)的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS， Semiconductor
2019-05-22 09:32:301137 NIWeek - NI (美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng) NI) 是一家以軟件為中心的平臺(tái)供應(yīng)商，致力于幫助用戶(hù)加速自動(dòng)化測(cè)試和自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)和性能，該公司宣布
2019-05-27 16:54:515771 NI (美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng) NI) ,是一家以軟件為中心的平臺(tái)供應(yīng)商，致力于幫助用戶(hù)加速自動(dòng)化測(cè)試和自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)，并提高其性能，該公司近日宣布推出毫米波矢量信號(hào)收發(fā)儀（VST），以解決5G 毫米波 RFIC收發(fā)儀和功率放大器帶來(lái)的測(cè)試挑戰(zhàn)。
2019-06-24 16:55:493203 NI車(chē)載雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng) （VRTS） 為76至81 GHz的汽車(chē)?yán)走_(dá)系統(tǒng)提供了自動(dòng)化雷達(dá)測(cè)量和障礙物模擬功能。工程師可利用VRTS來(lái)測(cè)試汽車(chē)硬件及軟件子系統(tǒng)，包括雷達(dá)傳感器、ADAS子系統(tǒng)和嵌入式軟件。
2019-07-24 11:58:282741 “NI是一家軟件定義平臺(tái)供應(yīng)商，致力于幫助用戶(hù)加快自動(dòng)化測(cè)試和自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)速度并提高其性能。該公司今天宣布推出全新4 GHz車(chē)載雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)（VRTS）。
2019-11-20 16:56:174077 NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI)是一家軟件定義平臺(tái)供應(yīng)商，致力于幫助用戶(hù)加快自動(dòng)化測(cè)試和自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)速度并提高其性能。該公司今天宣布推出全新4 GHz車(chē)載雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)(VRTS)。
2019-11-21 11:46:452975 作為致力于開(kāi)發(fā)標(biāo)準(zhǔn)的半導(dǎo)體自動(dòng)化驗(yàn)證、測(cè)試軟件平臺(tái)的創(chuàng)新者，孤波將與NI共同推進(jìn)測(cè)試測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)化流程在各行各業(yè)行業(yè)的落地。
2020-05-28 15:23:401037 Radio等標(biāo)準(zhǔn)將繼續(xù)增加無(wú)線設(shè)備的復(fù)雜性。今天，我們將 為各位介紹6個(gè)使用NI PXIe、STS、VTS等NI的軟硬件系統(tǒng)完成的測(cè)試方案。
2020-10-29 10:41:001 ●全面的RF、數(shù)字和直流儀器產(chǎn)品組合—您可以自定義新的STS配置并升級(jí)現(xiàn)有測(cè)試儀，以納入您需要的儀器資源，同時(shí)保持測(cè)試程序和負(fù)載板的可移植性。
2020-07-27 16:05:461160 NI于2014年推出的NI STS，基于實(shí)驗(yàn)室儀表級(jí)別精度的模塊化儀器，同時(shí)滿(mǎn)足測(cè)試精度和量產(chǎn)測(cè)試覆蓋率的需求。NI STS是基于模塊化儀器的PXI平臺(tái)，因此，NI STS可以不斷擴(kuò)展以滿(mǎn)足日益增多以及定制化的測(cè)試需求。
2020-08-05 15:52:472172 
Express RIO 中頻收發(fā)器。RIO技術(shù)不僅用于控制應(yīng)用，強(qiáng)大的FPGA功能大大提高了測(cè)試吞吐量，使新的測(cè)試成為可能，從而增強(qiáng)了自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。同時(shí)，現(xiàn)成可用的商業(yè)硬件平臺(tái)以及LabVIEW為FPGA編程帶來(lái)的簡(jiǎn)化，也大大降低了系統(tǒng)開(kāi)發(fā)難度和成本。
2020-08-18 09:35:393370 
半導(dǎo)體封測(cè)解決方案專(zhuān)業(yè)品牌蔚華科技與合作伙伴NI共同宣布成功為安科諾（arQana）打造完整射頻測(cè)試解決方案，從實(shí)驗(yàn)室開(kāi)發(fā)至量產(chǎn)導(dǎo)入皆采用NI 半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS），在航空與國(guó)防芯片的高標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
2020-10-20 15:33:371616 半導(dǎo)體測(cè)試貫穿設(shè)計(jì)、生產(chǎn)過(guò)程的核心環(huán)節(jié)。半導(dǎo)體測(cè)試就是通過(guò)測(cè)量半導(dǎo)體的輸出響應(yīng)和預(yù)期輸出并進(jìn)行比較以確定或評(píng)估集成電路功能和性能的過(guò)程，其測(cè)試內(nèi)容主要為電學(xué)參數(shù)測(cè)試。一般來(lái)說(shuō)，每個(gè)芯片都要經(jīng)過(guò)兩類(lèi)
2020-10-30 04:08:07808 專(zhuān)板（Loadboard），季豐電子保持一貫的作風(fēng)：一次設(shè)計(jì)生產(chǎn)成功，滿(mǎn)足客戶(hù)測(cè)試指標(biāo)要求并準(zhǔn)時(shí)交貨。其他客戶(hù)的STS專(zhuān)板也正在設(shè)計(jì)中，將于近期交付。 NI STS是一款直接可用于量產(chǎn)環(huán)境的ATE，具有高吞吐量、低成本等優(yōu)勢(shì)，適用于RF、混合信號(hào)和MEMS半導(dǎo)體器件的生產(chǎn)測(cè)試。STS可直
2020-12-15 17:29:231659 如今，半導(dǎo)體企業(yè)愈發(fā)關(guān)注產(chǎn)品上市前的測(cè)試環(huán)節(jié)。NI采用顛覆性的半導(dǎo)體測(cè)試方案，助力企業(yè)降低測(cè)試成本以及加速產(chǎn)品上市，這就是我們常說(shuō)的“一個(gè)平臺(tái)”戰(zhàn)略，從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)測(cè)試，只需一個(gè)平臺(tái)。安森美、英飛凌
2021-01-04 09:17:292004 
半導(dǎo)體存儲(chǔ)器及其測(cè)試.pdf(匯編語(yǔ)言嵌入式開(kāi)發(fā))-半導(dǎo)體存儲(chǔ)器及其測(cè)試.pdf半導(dǎo)體存儲(chǔ)器及其測(cè)試.pdf
2021-07-30 09:39:3066 引言 半導(dǎo)體數(shù)字測(cè)試，特別是由STIL、WGL、VCD、EVCD或ATP等仿真文件轉(zhuǎn)換而成的數(shù)字測(cè)試程序，往往需要擴(kuò)展到多個(gè)DUT測(cè)試位點(diǎn)。本文討論了使用GtDio6x產(chǎn)品線和ATEasy進(jìn)行多位
2021-08-13 10:44:273084 
什么是功能測(cè)試？ 進(jìn)行功能測(cè)試以確保應(yīng)用程序的功能符合需求規(guī)范。這是黑盒測(cè)試，不涉及應(yīng)用程序源代碼的詳細(xì)信息。在執(zhí)行功能測(cè)試時(shí)，重點(diǎn)應(yīng)放在應(yīng)用程序主要功能的用戶(hù)友好性上。要首先執(zhí)行功能測(cè)試，我們需要
2023-01-03 17:07:351215 的，是利用測(cè)試設(shè)備執(zhí)行設(shè)定好的測(cè)試工作，然后對(duì)得到的各項(xiàng)參數(shù)值進(jìn)行判斷是否符合設(shè)計(jì)時(shí)的規(guī)范，而這些參數(shù)值會(huì)記錄在規(guī)格表(Device Specifications)中。 半導(dǎo)體檢測(cè)的測(cè)試系統(tǒng)稱(chēng)為ATE，由電子電路和機(jī)械硬件組成，是由同一個(gè)主控制器指揮下的電源、計(jì)量?jī)x器、信號(hào)發(fā)生器、模式的合體，用于模仿被測(cè)
2023-03-07 11:16:11672 
NI宣布收購(gòu) SET GmbH(簡(jiǎn)稱(chēng)“SET”)。SET是長(zhǎng)期專(zhuān)注于航空航天和國(guó)防測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的專(zhuān)家，也是功率半導(dǎo)體可靠性測(cè)試領(lǐng)域的創(chuàng)新者。加入NI后，將共同縮短關(guān)鍵的、高度差異化的解決方案的上市時(shí)間，并以碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等功率電子材料為切入點(diǎn)，加速從半導(dǎo)體到汽車(chē)的供應(yīng)鏈融合。
2023-03-15 17:42:56917 ，它主要反映的是半導(dǎo)體元器件組裝到系統(tǒng)中時(shí)發(fā)生的故障。半導(dǎo)體測(cè)試有助于確保系統(tǒng)中使用的元器件導(dǎo)體的可靠性，減少不必要的損失。半導(dǎo)體的故障主要可分為故障、隨機(jī)故障和磨損故障。半導(dǎo)體測(cè)試環(huán)節(jié)不僅僅是封裝后的成品測(cè)試，還涉
2023-04-17 18:09:36858 
測(cè)試和執(zhí)行專(zhuān)家虹科ATEasy是功能測(cè)試，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，數(shù)據(jù)采集，過(guò)程控制和儀表系統(tǒng)的測(cè)試執(zhí)行和快速應(yīng)用開(kāi)發(fā)框架。虹科ATEasy提供開(kāi)發(fā)，部署和維護(hù)軟件組件的所有必要工具，包括儀器驅(qū)動(dòng)程序，測(cè)試
2023-01-13 16:06:29317 
測(cè)試產(chǎn)品：芯片半導(dǎo)體器件。納米軟件ATECLOUD-IC芯片自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)適用于二極管、三極管、絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管、結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽(yáng)二極管及多陣列器件等各類(lèi)半導(dǎo)體分立器件綜合性能自動(dòng)化測(cè)試。
2023-06-20 16:55:17767 
、服務(wù)和系統(tǒng)，幫助用戶(hù)加快測(cè)試速度、改善設(shè)計(jì)、提高可靠性以及合理利用測(cè)試數(shù)據(jù)。其軟件解決方案包括：應(yīng)用可視化軟件LabVIEW、測(cè)試工作流軟件TestStand、測(cè)量數(shù)據(jù)管理軟件DIAdem以及靈活數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)FlexLogger等；硬件產(chǎn)品包括PXI/PCIe儀表、控制器、
2023-07-12 10:37:36474 在半導(dǎo)體器件中，常見(jiàn)的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數(shù)情況下，加速測(cè)試不改變故障的物理特性，但會(huì)轉(zhuǎn)移觀察時(shí)間。 加速條件和正常使用條件之間的轉(zhuǎn)移稱(chēng)為“降額”。那么半導(dǎo)體可靠性測(cè)試有哪些？讓凱智通小編告訴你~
2023-07-13 14:47:182548 
芯片測(cè)試大講堂系列 又和大家見(jiàn)面了 本期我們來(lái)聊聊 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試 內(nèi)容涉及半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試原理， 參數(shù)測(cè)試面臨的挑戰(zhàn)與實(shí)測(cè)避坑指南。 前言 ● 半導(dǎo)體元器件是構(gòu)成現(xiàn)代電子設(shè)備和系統(tǒng)的基礎(chǔ)，其性能
2023-09-13 07:45:021210 
半導(dǎo)體靜態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在直流條件下對(duì)其進(jìn)行測(cè)試，目的是為了判斷半導(dǎo)體分立器件在直流條件下的性能，主要是測(cè)試半導(dǎo)體器件在工作過(guò)程中的電流特性和電壓特性。ATECLOUD半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)采用軟硬件架構(gòu)為測(cè)試工程師提供整體解決方案，此系統(tǒng)可程控，可以實(shí)現(xiàn)隨時(shí)隨地測(cè)試，移動(dòng)端也可實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試數(shù)據(jù)情況。
2023-10-10 15:05:30415 芯片老化測(cè)試的目的是為了評(píng)估芯片長(zhǎng)期在各種環(huán)境下工作的壽命、性能及可靠性，以確保芯片及系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性。往期我們分享了芯片老化測(cè)試的內(nèi)容及注意事項(xiàng)，今天我們將分享如何用納米軟件半導(dǎo)體老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化。
2023-10-16 15:49:32469 
聯(lián)訊儀器WAT 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)基于自主研發(fā)pA/亞pA高精度源表，半導(dǎo)體矩陣開(kāi)關(guān)，高電壓半導(dǎo)體脈沖源，3500V高壓源表等基礎(chǔ)儀表，掌握核心技術(shù)，通過(guò)優(yōu)化整機(jī)軟硬件設(shè)計(jì)，進(jìn)一步提高系統(tǒng)精度，提升
2023-11-06 16:27:57467 
半導(dǎo)體如今在集成電路、通信系統(tǒng)、照明等領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用，是一種非常重要的材料。在半導(dǎo)體行業(yè)中，半導(dǎo)體測(cè)試是特別關(guān)鍵的環(huán)節(jié)，以保證半導(dǎo)體器件及產(chǎn)品符合規(guī)定和設(shè)計(jì)要求，確保其質(zhì)量和性能。
2023-11-07 16:31:17309 
對(duì)于半導(dǎo)體器件而言熱阻是一個(gè)非常重要的參數(shù)和指標(biāo)，是影響半導(dǎo)體性能和穩(wěn)定性的重要因素。如果熱阻過(guò)大，那么半導(dǎo)體器件的熱量就無(wú)法及時(shí)散出，導(dǎo)致半導(dǎo)體器件溫度過(guò)高，造成器件性能下降，甚至損壞器件。因此，半導(dǎo)體熱阻測(cè)試是必不可少的，納米軟件將帶你了解熱阻測(cè)試的方法。
2023-11-08 16:15:28687 
什么是半導(dǎo)體的成品測(cè)試系統(tǒng)，如何測(cè)試其特性？ 半導(dǎo)體的成品測(cè)試系統(tǒng)是用于測(cè)試制造出來(lái)的半導(dǎo)體器件的一種設(shè)備。它可以通過(guò)一系列測(cè)試和分析來(lái)確定半導(dǎo)體器件的性能和功能是否符合設(shè)計(jì)規(guī)格。 半導(dǎo)體器件是現(xiàn)代
2023-11-09 09:36:44265 可靠性測(cè)試是半導(dǎo)體器件測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容，確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性，保證其在各類(lèi)環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測(cè)試項(xiàng)目眾多，測(cè)試方法多樣，常見(jiàn)的有高低溫測(cè)試、熱阻測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-11-09 15:57:52748 
成都某半導(dǎo)體芯片公司是一家專(zhuān)注于開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)半導(dǎo)體電源芯片的高新技術(shù)企業(yè)，目前企業(yè)對(duì)于電源管理芯片研發(fā)階段的測(cè)試，絕大部分采用人工手動(dòng)測(cè)試，效率低，耗時(shí)長(zhǎng)，數(shù)據(jù)管理儲(chǔ)存難度大，無(wú)法快速地完成
2023-12-25 16:42:04179 
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