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我國首次突破溝槽型碳化硅MOSFET芯片制造技術(shù):開啟半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)新篇章

北京中科同志科技股份有限公司 ? 2024-09-04 10:48 ? 次閱讀

近年來,隨著科技的不斷進步,半導(dǎo)體技術(shù)作為現(xiàn)代信息技術(shù)的基石,其發(fā)展速度日新月異。在這一領(lǐng)域,碳化硅(SiC)作為第三代半導(dǎo)體材料的代表,因其獨特的物理和化學(xué)特性,在電力電子光電子、射頻電子等領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大的應(yīng)用潛力。近日,國家第三代半導(dǎo)體技術(shù)創(chuàng)新中心(南京)宣布成功攻關(guān)溝槽型碳化硅MOSFET芯片制造關(guān)鍵技術(shù),這不僅標志著我國在半導(dǎo)體高端制造領(lǐng)域取得了重大突破,也為新能源汽車、智能電網(wǎng)、光伏儲能等產(chǎn)業(yè)的技術(shù)進步與產(chǎn)業(yè)升級提供了新的動力。

一、碳化硅材料的優(yōu)勢與挑戰(zhàn)

碳化硅,作為一種寬禁帶半導(dǎo)體材料,具有高臨界擊穿電場、高電子飽和遷移速率和高導(dǎo)熱率等優(yōu)良特性。這些特性使得碳化硅器件在高溫、高頻、高功率等極端條件下表現(xiàn)出色,遠優(yōu)于傳統(tǒng)的硅基器件。特別是在電力電子領(lǐng)域,碳化硅功率器件的應(yīng)用可以顯著提升能效、減小體積、降低重量,對于新能源汽車、智能電網(wǎng)等行業(yè)的節(jié)能減排具有重要意義。

然而,盡管碳化硅材料優(yōu)勢明顯,但其制造工藝的復(fù)雜性一直是制約其商業(yè)化應(yīng)用的瓶頸。在碳化硅MOSFET芯片領(lǐng)域,目前業(yè)內(nèi)應(yīng)用主要以平面型結(jié)構(gòu)為主。平面型碳化硅MOSFET結(jié)構(gòu)工藝簡單,元胞一致性較好,雪崩能量較高,但其缺點也較為明顯:當電流被限制在靠近P體區(qū)域的狹窄N區(qū)中流過時,會產(chǎn)生JFET效應(yīng),增加通態(tài)電阻,且寄生電容較大。這些缺點限制了平面型碳化硅MOSFET在高性能應(yīng)用中的表現(xiàn)。

二、溝槽型碳化硅MOSFET的優(yōu)勢與難點

溝槽型碳化硅MOSFET作為一種新興的結(jié)構(gòu),通過將柵極埋入基體中形成垂直溝道,顯著提升了器件的性能。具體而言,溝槽型結(jié)構(gòu)可以增加元胞密度,消除JFET效應(yīng),實現(xiàn)最佳的溝道遷移率,從而顯著降低導(dǎo)通電阻。此外,溝槽型結(jié)構(gòu)還能實現(xiàn)更高的晶圓密度,有助于降低芯片使用成本。

然而,溝槽型碳化硅MOSFET的制造工藝遠比平面型復(fù)雜。由于碳化硅材料硬度極高,要在其表面精確開槽而不損傷材料性能,對刻蝕工藝的精度、穩(wěn)定性和表面質(zhì)量提出了極高的要求。此外,溝槽型結(jié)構(gòu)的元胞一致性較差,雪崩能量較低,也是其需要克服的技術(shù)難點。

三、我國首次突破的技術(shù)細節(jié)

國家第三代半導(dǎo)體技術(shù)創(chuàng)新中心(南京)歷經(jīng)四年自主研發(fā),成功攻克了溝槽型碳化硅MOSFET芯片制造的關(guān)鍵技術(shù)難題。這一突破不僅打破了平面型碳化硅MOSFET芯片性能的“天花板”,也標志著我國在半導(dǎo)體高端制造領(lǐng)域邁出了堅實的一步。

據(jù)該中心技術(shù)總監(jiān)黃潤華介紹,關(guān)鍵在于工藝上的創(chuàng)新。碳化硅材料的高硬度要求刻蝕工藝必須達到極高的精度和穩(wěn)定性,不能出現(xiàn)“坑坑洼洼”的現(xiàn)象。為此,南京中心組織了一支由核心研發(fā)團隊和全線配合團隊組成的精英隊伍,不斷嘗試新工藝,最終建立了全新的工藝流程。這一流程成功突破了“挖坑”難、穩(wěn)、準等難點,實現(xiàn)了溝槽結(jié)構(gòu)的精準制備。

通過新工藝的應(yīng)用,南京中心成功制造出了溝槽型碳化硅MOSFET芯片,其導(dǎo)通性能較平面型提升了約30%。這一成果不僅顯著提升了器件的性能指標,還大大降低了芯片的使用成本,為溝槽型碳化硅MOSFET芯片的商業(yè)化應(yīng)用奠定了堅實基礎(chǔ)。

四、溝槽型碳化硅MOSFET的應(yīng)用前景

溝槽型碳化硅MOSFET的成功研發(fā),將為新能源汽車、智能電網(wǎng)、光伏儲能等領(lǐng)域的技術(shù)進步與產(chǎn)業(yè)升級提供新的動力。以新能源汽車為例,碳化硅功率器件相比傳統(tǒng)硅器件具有顯著的省電優(yōu)勢,可提升續(xù)航能力約5%。而應(yīng)用溝槽結(jié)構(gòu)后,更是可以實現(xiàn)更低電阻的設(shè)計,從而在保持導(dǎo)通性能指標不變的情況下,實現(xiàn)更高密度的芯片布局,進一步降低芯片使用成本。這對于提升新能源汽車的續(xù)航能力、減輕車輛重量、降低能耗具有重要意義。

在智能電網(wǎng)領(lǐng)域,溝槽型碳化硅MOSFET的應(yīng)用可以提升電力電子設(shè)備的效率和可靠性,有助于構(gòu)建更加智能、高效、可靠的電網(wǎng)系統(tǒng)。在光伏儲能領(lǐng)域,碳化硅功率器件的高效轉(zhuǎn)換能力可以降低光伏發(fā)電系統(tǒng)的能量損耗,提高儲能效率,促進可再生能源的廣泛應(yīng)用。

五、國內(nèi)外碳化硅溝槽器件研究現(xiàn)狀

從全球市場來看,國外在碳化硅溝槽器件的研究上起步較早,幾家龍頭企業(yè)如羅姆英飛凌、日本電裝、住友電工等已逐步建立起專利壁壘,產(chǎn)品逐步導(dǎo)入市場。例如,羅姆自2018年推出先進的車規(guī)級溝槽型碳化硅MOSFET以來,不斷迭代升級,2020年更是開發(fā)出了第四代溝槽結(jié)構(gòu)MOSFFT,進一步降低了導(dǎo)通電阻。英飛凌則直接選擇了溝槽結(jié)構(gòu)作為其主要產(chǎn)品方向,其第三代碳化硅MOSFET采用先進的溝槽結(jié)構(gòu),具有更低的導(dǎo)通損耗和開關(guān)損耗。

相比之下,國內(nèi)在碳化硅溝槽器件的研究上仍處于起步階段。盡管近年來我國企業(yè)在6英寸、8英寸碳化硅上發(fā)力,不斷縮小與國際大廠的差距,但在溝槽型碳化硅MOSFET芯片制造技術(shù)上仍面臨諸多挑戰(zhàn)。南京中心的這一突破無疑為我國在這一領(lǐng)域的發(fā)展注入了新的活力,也為后續(xù)的研發(fā)工作奠定了堅實基礎(chǔ)。

六、未來展望

隨著新能源汽車、智能電網(wǎng)、光伏儲能等領(lǐng)域的快速發(fā)展,對高性能半導(dǎo)體器件的需求日益迫切。溝槽型碳化硅MOSFET作為新一代高性能功率器件的代表,其市場前景廣闊。南京中心的成功突破不僅為我國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的高質(zhì)量發(fā)展貢獻了力量,也為后續(xù)的技術(shù)研發(fā)和市場推廣奠定了堅實基礎(chǔ)。

未來,南京中心將繼續(xù)深化在碳化硅溝槽器件領(lǐng)域的研究工作,不斷推動技術(shù)創(chuàng)新和產(chǎn)品升級。同時,加強與國內(nèi)外同行的交流合作,共同推動碳化硅功率器件產(chǎn)業(yè)的發(fā)展壯大。我們有理由相信,在不久的將來,我國將在碳化硅半導(dǎo)體領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)更多突破,為全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展貢獻更多中國智慧和力量。

結(jié)語

國家第三代半導(dǎo)體技術(shù)創(chuàng)新中心(南京)成功突破溝槽型碳化硅MOSFET芯片制造技術(shù),不僅是我國在半導(dǎo)體高端制造領(lǐng)域的一次重大飛躍,也是全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展歷程中的一個重要里程碑。這一突破不僅提升了我國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的國際競爭力,也為新能源汽車、智能電網(wǎng)、光伏儲能等領(lǐng)域的技術(shù)進步與產(chǎn)業(yè)升級提供了新的動力。我們有理由相信,在未來的發(fā)展中,我國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)將繼續(xù)保持強勁的發(fā)展勢頭,為全球科技進步和經(jīng)濟發(fā)展做出更大貢獻。

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