近年來,隨著科技的不斷進步,半導體技術作為現代信息技術的基石,其發展速度日新月異。在這一領域,碳化硅(SiC)作為第三代半導體材料的代表,因其獨特的物理和化學特性,在電力電子、光電子、射頻電子等領域展現出巨大的應用潛力。近日,國家第三代半導體技術創新中心(南京)宣布成功攻關溝槽型碳化硅MOSFET芯片制造關鍵技術,這不僅標志著我國在半導體高端制造領域取得了重大突破,也為新能源汽車、智能電網、光伏儲能等產業的技術進步與產業升級提供了新的動力。
一、碳化硅材料的優勢與挑戰
碳化硅,作為一種寬禁帶半導體材料,具有高臨界擊穿電場、高電子飽和遷移速率和高導熱率等優良特性。這些特性使得碳化硅器件在高溫、高頻、高功率等極端條件下表現出色,遠優于傳統的硅基器件。特別是在電力電子領域,碳化硅功率器件的應用可以顯著提升能效、減小體積、降低重量,對于新能源汽車、智能電網等行業的節能減排具有重要意義。
然而,盡管碳化硅材料優勢明顯,但其制造工藝的復雜性一直是制約其商業化應用的瓶頸。在碳化硅MOSFET芯片領域,目前業內應用主要以平面型結構為主。平面型碳化硅MOSFET結構工藝簡單,元胞一致性較好,雪崩能量較高,但其缺點也較為明顯:當電流被限制在靠近P體區域的狹窄N區中流過時,會產生JFET效應,增加通態電阻,且寄生電容較大。這些缺點限制了平面型碳化硅MOSFET在高性能應用中的表現。
二、溝槽型碳化硅MOSFET的優勢與難點
溝槽型碳化硅MOSFET作為一種新興的結構,通過將柵極埋入基體中形成垂直溝道,顯著提升了器件的性能。具體而言,溝槽型結構可以增加元胞密度,消除JFET效應,實現最佳的溝道遷移率,從而顯著降低導通電阻。此外,溝槽型結構還能實現更高的晶圓密度,有助于降低芯片使用成本。
然而,溝槽型碳化硅MOSFET的制造工藝遠比平面型復雜。由于碳化硅材料硬度極高,要在其表面精確開槽而不損傷材料性能,對刻蝕工藝的精度、穩定性和表面質量提出了極高的要求。此外,溝槽型結構的元胞一致性較差,雪崩能量較低,也是其需要克服的技術難點。
三、我國首次突破的技術細節
國家第三代半導體技術創新中心(南京)歷經四年自主研發,成功攻克了溝槽型碳化硅MOSFET芯片制造的關鍵技術難題。這一突破不僅打破了平面型碳化硅MOSFET芯片性能的“天花板”,也標志著我國在半導體高端制造領域邁出了堅實的一步。
據該中心技術總監黃潤華介紹,關鍵在于工藝上的創新。碳化硅材料的高硬度要求刻蝕工藝必須達到極高的精度和穩定性,不能出現“坑坑洼洼”的現象。為此,南京中心組織了一支由核心研發團隊和全線配合團隊組成的精英隊伍,不斷嘗試新工藝,最終建立了全新的工藝流程。這一流程成功突破了“挖坑”難、穩、準等難點,實現了溝槽結構的精準制備。
通過新工藝的應用,南京中心成功制造出了溝槽型碳化硅MOSFET芯片,其導通性能較平面型提升了約30%。這一成果不僅顯著提升了器件的性能指標,還大大降低了芯片的使用成本,為溝槽型碳化硅MOSFET芯片的商業化應用奠定了堅實基礎。
四、溝槽型碳化硅MOSFET的應用前景
溝槽型碳化硅MOSFET的成功研發,將為新能源汽車、智能電網、光伏儲能等領域的技術進步與產業升級提供新的動力。以新能源汽車為例,碳化硅功率器件相比傳統硅器件具有顯著的省電優勢,可提升續航能力約5%。而應用溝槽結構后,更是可以實現更低電阻的設計,從而在保持導通性能指標不變的情況下,實現更高密度的芯片布局,進一步降低芯片使用成本。這對于提升新能源汽車的續航能力、減輕車輛重量、降低能耗具有重要意義。
在智能電網領域,溝槽型碳化硅MOSFET的應用可以提升電力電子設備的效率和可靠性,有助于構建更加智能、高效、可靠的電網系統。在光伏儲能領域,碳化硅功率器件的高效轉換能力可以降低光伏發電系統的能量損耗,提高儲能效率,促進可再生能源的廣泛應用。
五、國內外碳化硅溝槽器件研究現狀
從全球市場來看,國外在碳化硅溝槽器件的研究上起步較早,幾家龍頭企業如羅姆、英飛凌、日本電裝、住友電工等已逐步建立起專利壁壘,產品逐步導入市場。例如,羅姆自2018年推出先進的車規級溝槽型碳化硅MOSFET以來,不斷迭代升級,2020年更是開發出了第四代溝槽結構MOSFFT,進一步降低了導通電阻。英飛凌則直接選擇了溝槽結構作為其主要產品方向,其第三代碳化硅MOSFET采用先進的溝槽結構,具有更低的導通損耗和開關損耗。
相比之下,國內在碳化硅溝槽器件的研究上仍處于起步階段。盡管近年來我國企業在6英寸、8英寸碳化硅上發力,不斷縮小與國際大廠的差距,但在溝槽型碳化硅MOSFET芯片制造技術上仍面臨諸多挑戰。南京中心的這一突破無疑為我國在這一領域的發展注入了新的活力,也為后續的研發工作奠定了堅實基礎。
六、未來展望
隨著新能源汽車、智能電網、光伏儲能等領域的快速發展,對高性能半導體器件的需求日益迫切。溝槽型碳化硅MOSFET作為新一代高性能功率器件的代表,其市場前景廣闊。南京中心的成功突破不僅為我國半導體產業的高質量發展貢獻了力量,也為后續的技術研發和市場推廣奠定了堅實基礎。
未來,南京中心將繼續深化在碳化硅溝槽器件領域的研究工作,不斷推動技術創新和產品升級。同時,加強與國內外同行的交流合作,共同推動碳化硅功率器件產業的發展壯大。我們有理由相信,在不久的將來,我國將在碳化硅半導體領域實現更多突破,為全球半導體產業的發展貢獻更多中國智慧和力量。
結語
國家第三代半導體技術創新中心(南京)成功突破溝槽型碳化硅MOSFET芯片制造技術,不僅是我國在半導體高端制造領域的一次重大飛躍,也是全球半導體產業發展歷程中的一個重要里程碑。這一突破不僅提升了我國半導體產業的國際競爭力,也為新能源汽車、智能電網、光伏儲能等領域的技術進步與產業升級提供了新的動力。我們有理由相信,在未來的發展中,我國半導體產業將繼續保持強勁的發展勢頭,為全球科技進步和經濟發展做出更大貢獻。
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