這款 40 V、1.3 mΩ、5 mm × 6 mm NexFET? 功率 MOSFET 旨在最大限度地降低功率轉換應用中的損耗。
*附件:CSD18512Q5B 40 V N 溝道 NexFET? 功率 MOSFET 數據表 .pdf
特性
- 低 R
DS(開啟) - 低熱阻
- 雪崩評級
- 邏輯電平
- 無鉛端子電鍍
- 符合 RoHS 規范
- 無鹵素
- SON 5 mm × 6 mm 塑料封裝
參數
方框圖
1. 產品概述
- ?型號?:CSD18512Q5B
- ?類型?:40V N溝道 NexFET? 功率MOSFET
- ?封裝?:SON 5mm × 6mm 塑料封裝
- ?特點?:低導通電阻(R_DS(ON))、低熱阻、雪崩額定、邏輯電平、無鉛端子鍍層、RoHS合規、無鹵素
2. 應用領域
3. 產品特性
- ? 典型值(T_A = 25°C) ?:
- 漏源電壓(V_DS):40V
- 柵極總電荷(Q_g):75nC(10V)
- 導通電阻(R_DS(on)):1.3mΩ(V_GS = 10V)
- 閾值電壓(V_GS(th)):1.6V
4. 絕對最大額定值
- 漏源電壓(V_DS):40V
- 柵源電壓(V_GS):±20V
- 連續漏電流(I_D):100A(封裝限制),211A(硅限制,T_C = 25°C)
- 脈沖漏電流(I_DM):400A
- 功率耗散(P_D):3.1W(封裝限制),139W(T_C = 25°C)
- 工作結溫(T_J)、存儲溫度(T_stg):-55°C 至 150°C
- 雪崩能量(E_AS):205mJ(單脈沖,I_D = 64A,L = 0.1mH,R_G = 25Ω)
5. 電氣特性
- ?靜態特性?:
- 漏源泄漏電流(I_DSS):1μA(V_GS = 0V, V_DS = 32V)
- 柵源泄漏電流(I_GSS):100nA(V_DS = 0V, V_GS = 20V)
- 導通電阻(R_DS(on)):1.3mΩ 至 1.6mΩ(V_GS = 10V, I_D = 30A)
- ?動態特性?:
- ?二極管特性?:
- 二極管正向電壓(V_SD):0.75V 至 1.0V(I_SD = 30A, V_GS = 0V)
- 反向恢復電荷(Q_rr):22nC(V_DS = 20V, I_F = 30A, di/dt = 300A/μs)
- 反向恢復時間(t_rr):17ns
6. 熱信息
- ?熱阻?:
- 結到殼熱阻(R_θJC):0.9°C/W
- 結到環境熱阻(R_θJA):50°C/W(安裝在1in2 2oz Cu板上),125°C/W(安裝在最小2oz Cu板上)
7. 封裝與訂購信息
- ?封裝尺寸?:詳細尺寸圖見數據表第8-9頁
- ?訂購信息?:
- CSD18512Q5B:2500片/13英寸卷帶
- CSD18512Q5BT:250片/7英寸卷帶
8. 支持與文檔
- 提供文檔更新通知、社區資源、設計支持、靜電放電(ESD)注意事項等信息。
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