--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 注釋 如有疑問或需要更多詳細(xì)信息,請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。
--- 產(chǎn)品詳情 ---
產(chǎn)品簡介
SJ5700DUAL雙向掃描型輪廓儀是大量程、高精度的主動掃描式綜合輪廓測量儀。該儀器X軸、Z軸采用獨立運動系統(tǒng),使用兩軸聯(lián)動運動控制算法,可實現(xiàn)X、Z雙軸聯(lián)動掃描,測量時測針在工件表面做仿形運動掃描(主動掃描),既保持了恒測力,又保證了大的陡坡通過能力,工件調(diào)平操作簡單,同時避免了崩針、掛針等問題。
![8008002.jpg](https://file1.elecfans.com/web2/M00/C0/B6/wKgZomXYD5aAahEPAAFAlnHBb9k467.jpg)
SJ5700DUAL輪廓儀可以全量程大范圍連續(xù)掃描,擁有長達(dá)數(shù)百毫米的持續(xù)爬坡能力,非常適合大范圍陡坡表面測量,大工件無需翻轉(zhuǎn)、傾斜調(diào)整,就可實現(xiàn)輕松測量。
測量軟件
螺紋模塊
1.全自動檢測圓柱螺紋工件、圓錐螺紋工件、工件內(nèi)外孔徑等各種內(nèi)、外尺寸工件的綜合參數(shù),如作用中徑、單一中徑、基本中徑、大徑、小徑、螺距、牙型角、牙型半角、牙側(cè)直線度、螺紋升角、錐度等參數(shù)。自動生成被測螺紋的曲線圖、相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)和分析圖表。也可以自定義螺紋標(biāo)準(zhǔn)尺寸公差。
2.可檢測單頭、多頭螺紋的綜合參數(shù)。
3.可檢測梯形螺紋工件。
4.檢測各種類國標(biāo)及國際標(biāo)準(zhǔn)工件,支持客戶定制用戶標(biāo)準(zhǔn),可根據(jù)客戶需求選配標(biāo)準(zhǔn)。
5.將所有測量記錄進(jìn)行集中式管理。
6.按工件型號、工件名稱、檢測日期等進(jìn)行檢測信息查詢。
7.可設(shè)置報表模板、批量導(dǎo)出Word、PDF、Excel報表和打印報告,批量統(tǒng)計。
![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/C1/A3/wKgaomXYD5aAfi02AAEVVx0STDk942.jpg)
![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/C0/B6/wKgZomXYD5aAPb3hAAMSw_OXVnE000.jpg)
輪廓模塊
1.創(chuàng)建坐標(biāo):點線、兩點 X、兩線等工件坐標(biāo)系。
2.量測工具:矩形框選提取最高點、矩形框選提取矩形框選提取中心點、自動矩形取多點提取線、自動點捕捉取多點提取線、自動矩形提取螺紋中徑線、扇形框選提取弧/圓等。
3.構(gòu)建特征:交點、中心點、角平分線、切線、兩線內(nèi)切圓、二次取樣、垂線、平行線、特征偏移、兩圓弧內(nèi)切圓、直線旋轉(zhuǎn)等。
4.可測幾何量:點、線、圓(圓心坐標(biāo)、半徑、直徑)、圓弧、中心、角度、垂線、線到線的距離、線到圓的距離、X/Z坐標(biāo)夾角、坐標(biāo)差、兩點之間總過程距離、面積等。
5.形位公差:直線度、圓度、平行度、垂直度、同軸度、位置度、輪廓度等形位公差評定。
6.快速工具:坐標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)、兩線交點、兩線夾角、螺牙框選取交點標(biāo)注、臺階高、滾珠絲桿、框選Pt、溝槽寬度、偏移點與輪廓相交直線、偏移直線與輪廓相交點、基邊/基點標(biāo)準(zhǔn)等特殊工具快速測量。
7.具備自動找拐點功能,能按照程序設(shè)置進(jìn)行X軸自動找拐點。
8.支持公差設(shè)置、合格判定。
9.支持、cnc .xml 共2種格式的輪廓對比,如標(biāo)準(zhǔn)輪廓中有標(biāo)注,可自動計算出對應(yīng)標(biāo)注結(jié)果。
10.支持輪廓掃描數(shù)據(jù)的修改,包括刪除異常點來進(jìn)行分析。
11.支持多條記錄按照統(tǒng)一基準(zhǔn)進(jìn)行拼接分析功能。
12.支持輪廓特征、標(biāo)注特征、形位公差的顏色自定義管理。
13.將所有測量記錄進(jìn)行集中式管理。
14.按工件型號、工件名稱、檢測日期等進(jìn)行檢測信息查詢。
15.可設(shè)置報表模板、批量導(dǎo)出Word、PDF、Excel報表和打印報告,批量統(tǒng)計。
16.可輸出Word、PDF、Excel報表和TXT 、prf、dxf 文件。
17.支持CNC實時輸出至excel 模版,可定制模版。
18.輸出SPC分析報告,可輸出統(tǒng)計值(如CA、PPK、CPK、PP等)及控制圖(如均值與極差圖、均值與標(biāo)準(zhǔn)差圖、中位數(shù)與極差圖、單值與移動極差圖)。
19.可以輸出客戶定義格式的Q-DAS文件。
產(chǎn)品應(yīng)用
SJ5700DUAL雙向掃描型輪廓儀可用于長軸類、筒類、曲面零件、絲杠、螺紋等高精度部件的內(nèi)外徑尺寸、內(nèi)外輪廓形貌參數(shù)測量,非常適合航空、船舶、高鐵、新能源汽車等行業(yè)。該產(chǎn)品支持量程定制,適用于各行業(yè)領(lǐng)域的實驗室或工作現(xiàn)場使用。
![應(yīng)用.jpg](https://file1.elecfans.com/web2/M00/C1/A3/wKgaomXYD5eAHUaDAAHAnkLEY5A240.jpg)
產(chǎn)品優(yōu)勢
螺紋和輪廓一體化測量
1.雙向螺紋流程化操作,配合螺紋夾具自動找到拐點,簡單方便。
2.螺紋全自動識別測針、夾具,避免操作失誤引起撞針等問題。
3.儀器在各個運動軸都有進(jìn)行保護(hù),能有效的保護(hù)儀器,降低人員操作失誤帶來的損傷。
4.智能恒測力接觸,雙向電子測力10-150mN任意可調(diào),降低了測力變化引起的測量誤差,適合測量各類軟、硬性工件。
5.組合調(diào)節(jié)控制手柄,可快速完成載物臺平移、X軸和Z軸定位和測桿上下角度擺動及速度分多級調(diào)節(jié)功能。
6.軟件支持的單側(cè)、雙側(cè)、內(nèi)外4側(cè)輪廓的掃描及輪廓分析。
百毫米超大量程爬坡測量
1.大量程200/300/400mm行程可選,持續(xù)長達(dá)數(shù)百毫米爬坡下坡能力,爬坡可達(dá)78°,87°智能下坡,非常適合大范圍陡坡表面測量,大工件無需翻轉(zhuǎn)、傾斜,可以避免測針磕碰損傷。
2.Z軸運動設(shè)計,X、Z雙軸聯(lián)動掃描,具有恒測力和大陡坡通過能力。
3.采用高精度導(dǎo)軌系統(tǒng),導(dǎo)軌直線度高,導(dǎo)軌材料耐磨性好、保證系統(tǒng)穩(wěn)定可靠工作。
4.高性能伺服電機驅(qū)動系統(tǒng),保證測量穩(wěn)定性高、重復(fù)性好。
5.通過簡單的標(biāo)定操作,能對儀器參數(shù)和測針磨損進(jìn)行補償修正,使其滿足高精度測量。
自動、批量、快速測量
1.對于簡單的工件只需要設(shè)置測量長度即可一鍵測量。
對于復(fù)雜的工件,可以工件的任意位置進(jìn)行分段測量,并做成輪廓模板便于批量測量。
2、CNC固定坐標(biāo)系模式下,可快速精確地進(jìn)行輪廓批量測量,自動分析處理數(shù)據(jù)。
3.自動保存測量結(jié)果,測量完成后可輸出測量報告,形式多樣。
![800800.jpg](https://file1.elecfans.com/web2/M00/C1/A3/wKgaomXYD5eAMhh9AAF-vPtUIYs659.jpg)
部分技術(shù)指標(biāo)
型號 | SJ5700DUAL | ||
參數(shù) | 測量范圍 | X軸 | 0~235mm(全程光柵) |
Z軸 | 0~235mm(全程光柵) | ||
掃描速度 | 0.1~2mm/s | ||
爬坡能力 | 上坡78o,下坡87 o | ||
Y向工作臺 | 移動范圍25mm,工作臺整體高度85mm(可選自動臺) | ||
螺紋測量 | 螺紋測量范圍 | 內(nèi)螺紋:M3~M200,外螺紋:M3~M200(根據(jù)配置選擇范圍) | |
輪廓測量 | 直徑測量范圍 | 內(nèi):Φ3~Φ200,外:Φ3~Φ200(根據(jù)配置選擇范圍) | |
表面質(zhì)量測量 |
粗糙度測量參數(shù) | R粗糙度: Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ; 核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo; P輪廓參數(shù): Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax; W波紋度輪廓參數(shù): Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc; Motif參數(shù):R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte; 符合標(biāo)準(zhǔn): GB/T 3505-2009,ISO 4287:1997,ISO13565-2:1996,ASME B46.1-2002, DIN EN ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994, JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002。 | |
Ra測量范圍 | Ra0.012μm~Ra12.5μm(可選更大范圍) | ||
儀器尺寸 | 1200×500×980mm | ||
儀器重量 | 100kg |
懇請注意:因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會根據(jù)實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。
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