--- 產品參數 ---
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--- 產品詳情 ---
SJ5100長度計量儀器測長機采用進口高精度光柵測量系統、高精密研磨直線導軌、高精度溫度補償系統、雙向恒測力系統、高性能計算機控制系統技術,實現各種長度參數的高精度測量。在半導體制造行業中,可以用來測量芯片線寬和間距等微小尺寸參數。整個測量過程不超過3分鐘,結束后自動生成結果及記錄報表。

SJ5100長度計量儀器測長機既可以檢定螺紋/光面量規、量塊、外徑千分尺、針規、指示表等各種量具又可以測量齒輪、花鍵、校對棒等精密工件。測長機廣泛應用于機械制造業、工具、量具制造業及儀器儀表制造業等企業的計量室和各級計量鑒定部門。
儀器主要功能
1、標配功能:
檢測量塊&塊規:(0.1~300mm);
光滑環規:φ5~φ200mm(壁厚≤50 mm,高度≤50mm)、光滑塞規:φ1~φ220mm;
螺紋環規:M5~M200(螺距0.8~4mm)
螺紋塞規:M1~M220(螺距0.25~5.5mm);
光滑卡規:內卡5~200mm,外卡1~300mm
千分尺校對桿:25~300mm;
塞尺:0.02~1mm
針規:φ0.1~φ10mm
三針:0.118~6.585mm;
兩點內徑千分尺:25~300mm;
2、可選配功能:
小型光滑環規:φ0.8~φ5mm;
螺紋環規:規格M3~M4(螺距0.5~0.7mm);
光滑錐度環規:φ5~φ200mm(厚度≤50mm);
光滑錐度塞規:φ5~φ60mm(長度10~100mm);φ60~φ200mm(長度≤50mm);
螺紋錐度環規:M5~M200mm(厚度≤50mm);
螺紋錐度塞規:M5~M60mm(長度10~100mm);M60~M200mm(長度≤50mm);
鋸齒螺紋、梯形螺紋:M3~M400(螺距0.5~6mm);
花鍵環塞規/花鍵及標準齒輪(跨棒距測量):內φ10~φ200mm,外φ5~φ200mm,模數0.8~6mm;
外徑千分尺示值誤差手動校準:25~300mm;
數顯及游標卡尺示值誤差手動校準:75~300mm;
深度千分尺示值誤差手動校準:0~25、25~50、50~75mm;
三爪內徑千分尺手動校準:φ6~φ200mm;
表類(百分表、千分表、杠桿表手動校準);
數顯半徑規手動校準:R5~R700mm;
軸承內外圈錐度、溝槽底徑內外徑及溝槽寬度、精密零部件的長度尺寸,內外徑尺寸測量;

SJ5100長度計量儀器測長機廣泛應用于機械制造業、工具、量具制造業及儀器儀表制造業等企業的計量室和各級計量鑒定部門。
應用案例如:
機械制造:在機械制造過程中,可以用來測量各種零件的尺寸和形狀,以確保產品的質量和精度。
半導體制造:在半導體制造行業中,可以用來測量芯片線寬和間距等微小尺寸參數。
光學加工:在光學加工領域中,可以用來測量光學元件的表面形貌和厚度等參數。
航空航天:在航空航天領域中,可以用來測量航空器的外形和尺寸,以及檢測零部件之間的配合精度。

主要技術指標
型號 | SJ5100-Prec300(精密測量型) | |
測量范圍 | 外尺寸 | 直接測量:0~340mm |
內尺寸 | 比較測量:5~200mm(配置比較測量環規) | |
外尺寸示值誤差 | ≤±(0.2+L/1000)μm,其中:L為被測長度,單位:mm | |
內尺寸重復性(2S或2δ) | ≤0.1μm | |
內尺寸重復性(2S或2δ) | ≤0.2μm(使用測鉤)≤0.3μm(使用內測裝置) | |
測力 | 內測裝置傳感器測力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N、主測力1~10N手動連續可調 | |
測量直徑 | 環規200mm(標配) 、塞規250mm(標配) | |
儀器尺寸 | 1400*400*450mm | |
儀器重量 | 150kg | |
五軸工作臺 | 型號 | ST-30.1(標配) |
Z軸 | 0~50mm | |
Y軸 | ±25mm | |
X軸浮動 | ±10mm | |
Z軸旋轉 | ±3° | |
Y軸擺動 | ±3° | |
負載 | 50kg | |
臺面尺寸 | 350*25mm |
環境條件
參考校準/使用環境溫濕度:
溫度:20±2℃,波動不超過0.5℃/小時
相對濕度:10~70%。
振動:按照三坐標振動要求標準,振動速度均方根≤5um/s,振動頻率8~100Hz;
校準室內應無影響測量的灰塵、震動、噪音、氣流、腐蝕性氣體和較強磁場。
懇請注意:因市場發展和產品開發的需要,本產品資料中有關內容可能會根據實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。
如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯系中圖儀器咨詢。
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