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標(biāo)簽 > 晶圓
晶圓是指硅半導(dǎo)體集成電路制作所用的硅晶片,由于其形狀為圓形,故稱為晶圓;在硅晶片上可加工制作成各種電路元件結(jié)構(gòu),而成為有特定電性功能之IC產(chǎn)品。
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TPS22914 5.5V、2A、37mΩ 負(fù)載開關(guān)數(shù)據(jù)手冊(cè)
TPS22914/15 是一個(gè)小而低的 R ~上~ ,具有受控轉(zhuǎn)換速率的單通道負(fù)載開關(guān)。該器件包含一個(gè) N 溝道 MOSFET,可在 1.05 V 至 ...
在半導(dǎo)體制造流程中,晶圓在前端工藝階段需保持一定厚度,以確保其在流片過程中的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性,避免彎曲變形,并為芯片制造工藝提供操作便利。不同規(guī)格晶圓的原始厚...
首先我們需要了解芯片制造環(huán)節(jié)做?款芯片最基本的環(huán)節(jié)是設(shè)計(jì)->流片->封裝->測試,芯片成本構(gòu)成?般為人力成本20%,流片40%,封裝3...
2025-05-09 標(biāo)簽:測試晶圓半導(dǎo)體芯片 1331 0
晶圓制備是材料科學(xué)、熱力學(xué)與精密控制的綜合體現(xiàn),每一環(huán)節(jié)均凝聚著工程技術(shù)的極致追求。而晶圓清洗本質(zhì)是半導(dǎo)體工業(yè)與污染物持續(xù)博弈的縮影,每一次工藝革新都在...
在半導(dǎo)體存儲(chǔ)器測試中,測試圖形(Test Pattern)是檢測故障、驗(yàn)證可靠性的核心工具。根據(jù)測試序列長度與存儲(chǔ)單元數(shù)N的關(guān)系,測試圖形可分為N型、N...
在半導(dǎo)體制造流程中,晶圓揀選測試(Wafer Sort)堪稱芯片從“原材料”到“成品”的關(guān)鍵質(zhì)控節(jié)點(diǎn)。作為集成電路制造中承上啟下的核心環(huán)節(jié),其通過精密的...
Chiller在半導(dǎo)體制程工藝中的應(yīng)用場景以及操作選購指南
半導(dǎo)體行業(yè)用Chiller(冷熱循環(huán)系統(tǒng))通過溫控保障半導(dǎo)體制造工藝的穩(wěn)定性,其應(yīng)用覆蓋晶圓制造流程中的環(huán)節(jié),以下是對(duì)Chiller在半導(dǎo)體工藝中的應(yīng)用...
2025-04-21 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體制程Chiller 345 0
從開槽到分層切割:劃片機(jī)階梯式進(jìn)刀技術(shù)對(duì)刀具磨損的影響分析
劃片機(jī)分層劃切工藝介紹?一、?定義與核心原理?分層劃切工藝是一種針對(duì)硬脆材料(如硅晶圓、陶瓷)的精密切割技術(shù),通過分階段控制切割深度和進(jìn)給速度,減少材料...
深視智能SCI系列光譜共焦位移傳感器以亞微米精度測量晶圓平整度
項(xiàng)目背景晶圓作為半導(dǎo)體芯片的核心載體,其表面平整度直接影響芯片性能、封裝良率及產(chǎn)品可靠性。傳統(tǒng)接觸式測量容易導(dǎo)致晶圓劃傷或污染,而常規(guī)光學(xué)傳感器受鏡面反...
基于混合集成二極管激光器實(shí)現(xiàn)光束操控系統(tǒng)
基于量子點(diǎn)RSOAs的1.3 μm芯片級(jí)可調(diào)諧窄線寬混合集成二極管激光器通過端面耦合到硅氮化物光子集成電路得以實(shí)現(xiàn)。混合激光器的線寬約為85 kHz,調(diào)...
激光劃片作為新興材料加工技術(shù),近年來憑借非接觸式加工特性實(shí)現(xiàn)快速發(fā)展。其工作機(jī)制是將高峰值功率激光束經(jīng)擴(kuò)束、整形后,精準(zhǔn)聚焦于藍(lán)寶石基片、硅片、碳化硅(...
在半導(dǎo)體制造工藝中,為了形成精細(xì)的圖案和結(jié)構(gòu),通常要求更高。高分辨率工業(yè)鏡頭的作用也是為了實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)成像。通過高品質(zhì)的光學(xué)元件和優(yōu)秀設(shè)計(jì),來實(shí)現(xiàn)工業(yè)鏡頭的...
2025-04-18 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體制造遠(yuǎn)心鏡頭 245 0
多芯片堆疊技術(shù)的出現(xiàn),順應(yīng)了器件朝著小型化、集成化方向發(fā)展的趨勢。該技術(shù)與先進(jìn)封裝領(lǐng)域中的系統(tǒng)級(jí)封裝(SIP)存在一定差異。
可靠性測試結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)概述
深入理解設(shè)計(jì)規(guī)則,設(shè)計(jì)者可在可靠性測試結(jié)構(gòu)優(yōu)化中兼顧性能、成本與質(zhì)量,推動(dòng)半導(dǎo)體技術(shù)的持續(xù)創(chuàng)新。
半導(dǎo)體是一種介于導(dǎo)體和絕緣體之間的導(dǎo)電性,半導(dǎo)體通過參雜可以使得能夠精確地控制電流的流動(dòng)。通過基于晶圓的光刻、刻蝕和沉積工藝,我們可以構(gòu)建出各種元件,如...
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