光學薄膜的損傷是許多因素共同作用的結果，具有較大的隨機性，很難準確測量得到損傷閾值，因此在損傷測試的過程中通常使用多點測試的方法來解決這個問題。

S-on-1、R-on-1、N-on-1 和1-on-1 這四種損傷測試方式是薄膜損傷閾值測定的主要方法。

(1) S-on-1測試方法

S-on-1測試法又被叫做多脈沖測試法，使用能量密度固定的激光對薄膜樣品表面進行輻照，對每個點以極短的時間間隔輻照S次且實時監控損傷情況，如果輻照不到S次就產生了損傷則立刻停止并轉而輻照下一個測試點。輻照次數S取決于不同薄膜材料的特性。由于薄膜損傷是通過累積獲得的,因此不能準確判斷損傷來自于哪一次的脈沖。

(2) R-on-1測試方法

與S-on-1方法相比，不同點在于R-on-1測試方法在測量過程中不斷改變激光能量密度(不斷增大)，激光輻照到測試點并實時探測薄膜損傷情況。薄膜造成損傷時對應的激光能量密度，即為對應檢測點的單點損傷閾值，將多個單點損傷閾值求均值即為樣品的薄膜損傷閾值。此方法可以獲得多組數據，并通過比較損傷閾值幅值分析樣品表面的均勻性，并可以以此為依據改良鍍膜技術。缺點是由于樣品表面的雜質等因素，激光多次輻照后容易產生熱效應的累積和預處理效應，導致損傷閾值與實際情況存在差異。

(3) N-on-1測試方法 N-on-1測試方法的基本步驟與R-on-1相同，但N-on-1測試方法提高了激光能量密度的增幅，加大了脈沖時間的間隔。其優點是提升了測試效率。 (4) 1-on-1測試方式 1-on-1測試方法又叫做單脈沖測試法，使用固定能量密度的激光照射樣品上的單個點，至少選取10 個測試點且每個點只輻照一次，輻照完成后計算樣品點的損傷幾率，然后增加能量密度,通過相同方法進行下一功率的輻照。后續繼續增加能量密度，直到薄膜損傷率達到100%。整個過程得到的結果必須包含損傷幾率為0%以及損傷幾率為100%的數據，然后擬合數據從而得出損傷閾值。該方法可以完成多種材料的損傷閾值的測量，且測量所得結果是準確的、普適的。

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審核編輯：黃飛

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