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透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理

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本書系統(tǒng)地介紹了透射電子顯微鏡圖像襯度的形成原理和實(shí)驗(yàn)分析枝術(shù)。第一章簡要論述電子衍射原理和行射譜的分析方法。第二、三章敘述成象的運(yùn)動學(xué)和動力學(xué)理論。以后各章詳細(xì)介紹從電鏡照片來分析各種微觀組織的方法。
2019-03-11 08:00:000

丈量納米世界的慧眼 可溯源計(jì)量型掃描電子顯微鏡

中國科學(xué)院電工研究所聯(lián)合中國計(jì)量科學(xué)研究院、國家納米科學(xué)中心共同構(gòu)建了國內(nèi)首臺可溯源計(jì)量型掃描電子顯微鏡,實(shí)現(xiàn)了微納米器件及標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的納米精度計(jì)量功能以及對樣品納米結(jié)構(gòu)掃描成像的量值溯源,可有效減少電子束掃描成像過程中放大倍率波動和掃描線圈非線性特征在納米尺度測量中產(chǎn)生的誤差。
2019-06-26 16:33:384272

電子顯微鏡下英特爾的14nm+++和臺積電的7nm

和臺積電的制程工藝差多少呢? 一位加拿大博主拿來電子顯微鏡,專門對比了英特爾的14nm+++和臺積電的7nm,對應(yīng)產(chǎn)品為i9-10900K和銳龍9 3950X。結(jié)果比較有意思,雖然兩者命名差距很大,但從電子顯微鏡中看,兩者差別很小。 英特爾14nm+
2020-10-26 14:50:225060

電子顯微鏡下的蘋果A14芯片

半導(dǎo)體逆向工程和IP服務(wù)公司ICmasters已使用透射電子顯微鏡(TEM)對Apple的A14仿生芯片系統(tǒng)(SoC)進(jìn)行了初步檢查。SemiAnalysis撰寫的一份有見地的報(bào)告揭示了蘋果這顆
2020-11-04 14:33:114375

透射電子顯微鏡工作原理及用途

透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu),這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想
2020-12-03 15:37:2536845

透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡的區(qū)別

主要體現(xiàn)在樣品在電子束光路中的位置不同。透射電鏡的樣品在電子束中間,電子源在樣品上方發(fā)射電子,經(jīng)過聚光鏡,然后穿透樣品后,有后續(xù)的電磁透鏡繼續(xù)放大電子光束,最后投影在熒光屏幕上;掃描電鏡的樣品
2020-12-03 15:52:2934702

透射電子顯微鏡中有哪些主要光闌

透射電子顯微鏡中主要有三種光闌:光闌。在雙系統(tǒng)中,該光闌裝在第二下方。作用:限制照明孔徑角。
2020-12-04 13:39:1011557

賽默飛新推出了Talos F200E掃描透射電子顯微鏡

新一代儀器提升數(shù)據(jù)可靠性,控制圖像畸變≤1% 2021年3月17日,上海——科學(xué)服務(wù)領(lǐng)域的世界領(lǐng)導(dǎo)者賽默飛世爾科技(以下簡稱:賽默飛)宣布推出Talos F200E掃描透射電子顯微鏡(以下簡稱
2021-03-18 10:35:093056

透射電子顯微鏡成像原理資料下載

電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供透射電子顯微鏡成像原理資料下載的電子資料下載,更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計(jì)、用戶指南、解決方案等資料,希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-03-31 08:48:5323

賽默飛Helios 5 EXL晶片雙束透射電子顯微鏡通過自動化樣品制備加快產(chǎn)品量產(chǎn)時(shí)間

 隨著半導(dǎo)體制程向著更小、更復(fù)雜的方向發(fā)展,半導(dǎo)體廠商需要更多可復(fù)現(xiàn)的、大批量的透射電子顯微鏡(以下簡稱:TEM)分析結(jié)果。
2021-04-20 14:24:301779

透射電子顯微鏡TEM的原理/參數(shù)/功能/應(yīng)用

TEM(Transmission Electron Microscope, 透射電子顯微鏡) 具有較高的分辨率是半導(dǎo)體失效分析領(lǐng)域最常用的儀器之一,其以高能電子束作為光源,用電磁場作透鏡,將經(jīng)過加速
2021-06-21 09:42:417788

季豐電子提供透射電子顯微分析

隨著材料科技的發(fā)展,需要更細(xì)致地觀察研究材料的微觀物理化學(xué)結(jié)構(gòu)特征,透射電子顯微分析(TEM)作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數(shù)的顯微分析方法,是觀察分析材料的形貌、組織和結(jié)構(gòu)的有效工具
2021-08-06 14:57:341325

透射電子顯微分析是觀察分析材料的形貌、組織的有效工具

隨著材料科技的發(fā)展,需要更細(xì)致地觀察研究材料的微觀物理化學(xué)結(jié)構(gòu)特征,透射電子顯微分析(TEM)作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數(shù)的顯微分析方法,是觀察分析材料的形貌、組織和結(jié)構(gòu)的有效工具
2021-11-26 17:46:001205

透射電子顯微鏡TEM的原理、參數(shù)及應(yīng)用

TEM(Transmission Electron Microscope, 透射電子顯微鏡) 具有較高的分辨率是半導(dǎo)體失效分析領(lǐng)域最常用的儀器之一,其以高能電子束作為光源,用電磁場作透鏡,將經(jīng)過加速
2021-09-18 10:49:167640

透射電子顯微分析(TEM)是觀察分析材料的有效工具

隨著材料科技的發(fā)展,需要更細(xì)致地觀察研究材料的微觀物理化學(xué)結(jié)構(gòu)特征,透射電子顯微分析(TEM)作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數(shù)的顯微分析方法,是觀察分析材料的形貌、組織和結(jié)構(gòu)的有效工具
2022-04-01 22:06:564889

簡述球差校正透射電鏡的原理、優(yōu)勢、應(yīng)用與發(fā)展

透射電子顯微鏡(簡稱透射電鏡)以被高壓加速后的高能電子束為入射光源,利用電子束與物質(zhì)的相互作用,對物質(zhì)的微結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像與分析的一種儀器。
2022-07-27 15:47:1312493

一種簡單的原沸石晶種合成單晶分級ZSM-5沸石

原沸石是非結(jié)晶的,如粉末 X 射線衍射 (XRD) 圖案所示。掃描電子顯微鏡 (SEM) 和透射電子顯微鏡 (TEM) 圖像顯示,原沸石是大小約為5-20nm的不規(guī)則無定形納米顆粒。
2022-08-17 16:14:122116

掃描電子顯微鏡(SEM)在失效分析中的應(yīng)用

。 在失效分析中,SEM有廣泛的應(yīng)用場景,其在確定失效分析模式、查找失效成因方面發(fā)揮著舉足輕重的作用。 No.2 工作原理 掃描電鏡的焦深比透射電子顯微鏡大10倍,比光學(xué)顯微鏡大數(shù)百倍。由于圖像景深大,因此掃描得出的電子像富有立體感,具有三
2022-08-18 08:50:392727

掃描電子顯微鏡(SEM )工作介紹

掃描電子顯微鏡(SEM Scanning Electron Microscope)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段,在光電技術(shù)中起到重要作用。
2022-08-22 11:49:273077

半導(dǎo)體行業(yè)自動化:電子顯微鏡、人工智能和機(jī)器學(xué)習(xí)

為了支持半導(dǎo)體制造商的自動化需求,先進(jìn)的電子顯微鏡正在集成人工智能功能,以提供更快的數(shù)據(jù)生成時(shí)間并提高人力和工具資源的生產(chǎn)效率。
2023-05-05 17:17:25500

【應(yīng)用案例】透射電子顯微鏡TEM

透射電子顯微鏡TEM 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu),這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)
2023-05-31 09:20:40782

喜報(bào)!國儀量子電子顯微鏡單年交付超100臺

場發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進(jìn)的鏡筒設(shè)計(jì),高壓隧道技術(shù)(SuperTunnel)、低像差無漏磁物鏡設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了低電壓高分辨率成像,同時(shí)
2023-04-12 11:38:30573

蔡司熱場掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡

蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實(shí)現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
2023-07-26 10:48:06650

透射電子顯微鏡的用途和特點(diǎn)

透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)是一種用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率顯微鏡。它利用電子束穿透樣品并形成投影圖像,然后通過對該圖像進(jìn)行解釋
2023-08-01 10:02:152347

蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)

蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究,人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)
2023-08-08 15:50:351419

國儀量子高速掃描電子顯微鏡HEM6000

。對于此類場景,常規(guī)掃描電鏡效率嚴(yán)重不足,為解決客戶痛點(diǎn),國儀量子于近日推出一款專為大規(guī)模成像而生的新產(chǎn)品——高速掃描電子顯微鏡HEM6000。”高速掃描電子顯微
2023-08-09 08:29:23453

顯微鏡助力電池多種檢測維度

,為電池研發(fā)提供有價(jià)值的數(shù)據(jù)。然而,受可見光波長的限制,它的觀察范圍有限,而電子顯微鏡很好地解決了這一問題 1931年問世的電子顯微鏡,利用電子束將物體放大300萬倍,達(dá)到奈米分辨率。由于電子顯微鏡的分辨率更高,在電池研發(fā)
2023-08-22 13:41:06323

透射電鏡TEM測試原理及過程

散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān),因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如熒光屏,膠片以及感光耦合組件)上顯示出來的顯微鏡透射電鏡TEM原理 博仕檢測工程師對客戶指定樣品區(qū)域內(nèi)定點(diǎn)制備高質(zhì)量的透射電子顯微鏡(TEM) 樣品 聚焦離子束FI
2023-08-29 14:54:151373

STEM的成像原理 STEM的圖像襯度來源

掃描透射電子顯微鏡(Scanning Transmission Electron Microscope,簡稱STEM),是在TEM成像技術(shù)上發(fā)展起來的一種電子顯微成像技術(shù)
2023-09-19 11:24:512517

一文了解電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡的差異

如今,不僅有能放大幾千倍的光學(xué)顯微鏡,也有能放大幾十萬倍的電子顯微鏡,讓我們對生物體的生命活動規(guī)律有了更深入的了解。普通中學(xué)生物教學(xué)大綱中規(guī)定的實(shí)驗(yàn)絕大部分都是利用顯微鏡來完成的,因此顯微鏡的性能是觀察好實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵。
2023-11-07 15:23:26797

介紹一種飛米級電子顯微鏡的原理

本文介紹了一種飛米級電子顯微鏡的原理,未來這種技術(shù)有望用于探測遠(yuǎn)離穩(wěn)定谷的核。
2023-12-13 15:59:12227

核心技術(shù)突破!國產(chǎn)200kV透射電子顯微鏡進(jìn)入小批量試產(chǎn)

中國近年來向著科技自立自強(qiáng)的方向邁出了堅(jiān)定的步伐,核心技術(shù)不斷突破,高端儀器設(shè)備持續(xù)涌現(xiàn)。近日消息,由蘇州博眾儀器科技有限公司(簡稱博眾儀器)自主研發(fā)的200kV透射電子顯微鏡BZ-F200已經(jīng)進(jìn)入
2023-12-28 11:24:09766

SEM掃描電子顯微鏡涂層磨損分析

數(shù)字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無涂層的鉆頭的切削刃口情況,圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況;圖a、c使用
2024-01-08 15:12:5298

為什么電子顯微鏡需要真空系統(tǒng)?

由于電子在空氣中行進(jìn)的速度很慢,所以必須由真空系統(tǒng)保持電鏡的真空度,否則,空氣中的分子會阻撓電子束的發(fā)射而不能成像。用兩種類型的真空泵串連起來獲得電子顯微鏡鏡筒中的真空,當(dāng)電子顯微鏡啟動時(shí),第一
2024-01-09 11:18:33165

首臺國產(chǎn)商業(yè)場發(fā)射透射電子顯微鏡發(fā)布

1月20日,廣州慧炬科技有限公司成功舉辦“承鴻鵠之志,造大國電鏡”新品發(fā)布會,正式發(fā)布首臺國產(chǎn)商業(yè)場發(fā)射透射電子顯微鏡“太行”TH-F120。標(biāo)志著我國已掌握透射電鏡整機(jī)研制能力以及電子槍、高壓電源
2024-01-26 08:26:00280

掃描電鏡的操作步驟及日常維護(hù)

X射線衍射儀或電子能譜儀相結(jié)合,構(gòu)成電子微探針,用于物質(zhì)成分剖析;發(fā)射式電子顯微鏡用于自發(fā)射電子外表的研討。因電子束穿透樣品后,再用掃描電鏡成像縮小而得名,它的光路與光學(xué)顯微鏡相仿,可以直接取得一個(gè)樣本的投影。
2024-02-01 18:22:15609

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