SEM掃描電子顯微鏡涂層磨損分析
在鉆孔過程中鉆頭會發生磨損，評估和量化磨損的狀況至關重要，因為鉆頭的狀態會直接影響加工孔的質量。如何簡單、快速的獲取鉆頭的磨損狀態？如何精準的定量分析鉆頭的磨損狀態？蔡司三本精密儀器可以通過同時提供數字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。
圖a、b顯示的是無涂層的鉆頭的切削刃口情況，圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況；
圖a、c使用的是蔡司數字顯微鏡Smartzoom5，圖b、d使用是蔡司EVO掃描電子顯微鏡。
除此之外量化切削刃的磨損狀態也至關重要。
上圖a是使用蔡司掃描電子顯微鏡（EVO）觀測無涂層鉆頭切削刃的狀態，圖b是鉆20個孔之后的狀態。
上圖a是DLC涂層的切削刃未使用的狀態，圖b在是鉆2000個孔后的狀態。
SEM掃描電子顯微鏡的五軸電動馬達臺可以方便的移動樣品以便觀察樣品的各個部位，同時獲取高分辨大景深的圖像。
聲明：本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用，如有內容侵權或者其他違規問題，請聯系本站處理。
舉報投訴
-
電子顯微鏡
+關注
關注
1文章
96瀏覽量
9899 -
電鏡
+關注
關注
0文章
92瀏覽量
9439 -
掃描電鏡
+關注
關注
0文章
83瀏覽量
9044 -
透射電鏡
+關注
關注
0文章
30瀏覽量
5777
發布評論請先 登錄
相關推薦
透射電子顯微鏡（TEM）快速入門：原理與操作指南
無法被清晰地觀察。為了解決這一問題，科學家們開始探索使用波長更短的光源來提高顯微鏡的分辨率。1932年，德國科學家恩斯特·魯斯卡（ErnstRuska）成功發明了透射電子顯微鏡（TEM），利用電子
TEM樣本制備：透射電子顯微鏡技術指南
機械研磨和離子濺射技術是硬質材料樣品制備中常用的方法。首先，將樣品通過機械研磨的方式制成極薄的片狀，然后利用離子濺射技術進一步減薄至電子能夠穿透的厚度。這一過程能夠使樣品達到透射電子顯微鏡（TEM
探索掃描電子顯微鏡下的能譜分析技術（EDX）
掃描電子顯微鏡（SEM）以其在納米級別解析樣品的能力而聞名，它通過電子束與樣品的交互來收集信息。除了常見的背散射電子（BSE）和二次
蔡司離子束掃描電子顯微鏡Crossbeam 550 Samplefab
蔡司代理三本精密儀器獲悉。蔡司推出全新雙束電鏡Crossbeam550Samplefab作為一款專為半導體行業TEM樣品制備開發的高端聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM
德國蔡司顯微鏡與FIB技術在電池材料研究中的應用
蔡司作為一家在光學和電子顯微鏡領域具有深厚技術積累的企業，提供聚焦離子束—掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）和飛秒激光（Laser-FIB）技術解決方案，為電池材料研究提供了強大助力。卓
顯微鏡在芯片失效分析中的具體應用場景及前景
的大門，幫助我們精準定位問題、剖析失效原因。? ?? ? 顯微鏡家族在芯片失效分析中的多樣面孔??????? 顯微鏡并非單一的一種工具，在芯片失效分析領域，常見的有光學
聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）技術原理、樣品制備要點及常見問題解答
納米級材料分析的革命性技術在現代科學研究和工程技術中，對材料的微觀結構和性質的深入理解是至關重要的。聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）技術應運而生，它融合了聚焦離子束（FIB）
透射電子顯微鏡（TEM）：基礎知識概覽
透射電子顯微鏡（TEM）概述透射電子顯微鏡（TEM）是材料科學、納米技術等領域中不可或缺的研究工具。對于新接觸TEM的科研人員而言，理解其基礎原理和操作對于高效利用這一設備至關重要。本文將詳細介紹
掃描電子顯微鏡用在半導體封裝領域
三本精密儀器小編介紹在半導體封裝領域，技術的日新月異推動著產品不斷向更小、更快、更高效的方向發展。其中，掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscope,SEM）作為精密觀測
進口SEM掃描電子顯微鏡品牌推薦
說到SEM掃描電子顯微鏡的品牌推薦，蔡司代理三本精密儀器工程師可得好好跟你聊聊!這可是個技術活兒啊，選個好品牌，對于科研工作者來說，簡直就像找到了寶藏一樣!首先得說說那個大家都耳熟能詳的蔡司
蔡司EVO掃描電子顯微鏡進行軸承清潔度檢測
的INNIOGroup總部早在10年前就引入了清潔度檢測標準。為確定有害殘留污染物顆粒的來源，自2015年起INNIOGroup開始使用蔡司EVO掃描電子顯微鏡進行檢測。例如，如
蔡司EVO掃描電子顯微鏡用在五金機械領域
今天蔡司代理三本精密儀器小編給大家介紹EVO掃描電鏡電子顯微鏡在金屬加工領域的應用。鎢燈絲電子顯微鏡EVO系列所提供的圖片質量出色，不僅能幫助客戶清晰地觀察到亞微米甚至納米級別的細微差異，還為客戶
掃描電子顯微鏡SEM電鏡結構及原理
掃描電子顯微鏡（SEM）是一種功能強大、應用廣泛的材料表征工具。其結構復雜且精密，主要包括電子光學系統、信號收集處理系統、圖像顯示和記錄系統、真空系統以及電源和控制系統等。以下是蔡司
首樣免費掃描電鏡SEM-EDS測試分析【博仕檢測】
【設備應用】
SEM是掃描電子顯微鏡，用二次電子成像的原理來觀察某種物質的微觀形貌。EDS是能譜儀，是每種元素對應的電子能不同，來鑒別元素，
發表于 03-01 18:59
工商網監
評論