在半導體芯片清洗中，選擇合適的硫酸類型需綜合考慮純度、工藝需求及技術節點要求。以下是關鍵分析：

1. 電子級高純硫酸（PP級硫酸）

核心優勢：

超高純度：金屬雜質含量極低（如Fe、Cu、Cr等），避免引入二次污染。

適用場景：用于RCA標準清洗（SC1/SC2配方）、去除硅片表面金屬離子和顆粒。

典型應用：

SC1溶液（H?SO?/H?O?）：去除有機物和金屬污染；

SC2溶液（HCl/H?O?）：去除重金屬殘留。

技術限制：

傳統SPM（硫酸+過氧化氫）清洗中，過氧化物濃度難以同時優化金屬和有機物去除選擇性，可能對先進制程的金屬層造成過度腐蝕。

2. 電解硫酸（Electrolyzed Sulfuric Acid）

創新優勢：

更強氧化性：通過電化學氧化生成過硫酸根（S?O?2?），比傳統H?O?更有效去除有機物（如光刻膠殘留），同時減少金屬損失。

選擇性提升：在金屬暴露工藝中（如接觸孔清洗），可精準控制金屬底層腐蝕，避免斷鏈風險。

環保性：無需額外添加H?O?，減少卡羅酸（H?SO?）副產物生成。

應用場景：

替代傳統SPM清洗，用于先進制程（如10nm以下節點）的有機物剝離和金屬殘留處理。

搭配兆聲波清洗（Miracle Clean）增強微小顆粒去除能力

3. 特殊配方硫酸（如過硫酸混合液）

工藝優化：

過硫酸（H?S?O?）：通過電解硫酸生成，氧化性優于H?O?，適用于低金屬去除量但高有機物清潔需求的場景。

混合酸配方：例如與HF、HCl結合，用于去除氧化層（如SC2溶液）或硅片表面native oxide。

選擇建議

傳統制程：優先使用電子級高純硫酸，搭配SC1/SC2完成基礎清洗。

先進制程（≤14nm）：采用電解硫酸替代傳統SPM，提升金屬與有機物去除選擇性，減少基底損傷。

特殊工藝需求：

光刻膠剝離：電解硫酸或過硫酸混合液；

金屬污染控制：低濃度H?O?的SPM或電解硫酸。

半導體清洗用硫酸的核心是高純度與氧化性可控。電子級硫酸是基礎選擇，而電解硫酸因其高選擇性氧化能力成為先進制程的趨勢，尤其在減小金屬損失和提升有機物去除效率方面優勢顯著124。實際選擇需結合具體工藝步驟（如RCA清洗、SPM剝離）和設備兼容性。

審核編輯 黃宇