穿透固體樣品的能力主要取決于加速電壓,樣品厚度以及物質(zhì)的原子序數(shù)。一般來說,加速電壓愈高,原子序數(shù)愈低,電子束可穿透樣品厚度就愈大。因此,通常情況下,在制備TEM樣品時,越薄越好。
季豐電子的透射電鏡是目前主流的Thermo ScienTIfic FEI Talos系列。用于量、高分辨率表征和動態(tài)觀察的TEM和STEM分析,線分辨率≤0.1 nm,STEM分辨率≤0.16nm。搭配高端Helios 5系列FIB系統(tǒng)可以制備、觀察厚度在20nm以下的超薄樣品。4k × 4k Ceta 16M 相機可在 64 位平臺上提供大視場、高靈敏度快速成像。
審核編輯:湯梓紅
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