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標(biāo)簽 > IC測(cè)試
IC測(cè)試就是用相關(guān)的電子儀器(如萬用表、示波器、直流電源,ATE 等)將IC所具備的電路功能、電氣性能參數(shù)測(cè)試出來。測(cè)試的項(xiàng)目一般有:直流參數(shù)(電壓、電流)、交流參數(shù)(頻率)、功能測(cè)試等。
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IC測(cè)試機(jī)因?yàn)槭歉叨藴y(cè)量,會(huì)受到內(nèi)部開關(guān),引線,pcb板等影響,所以最小電流量程一般為1UA左右;JUNO機(jī)等一些分立器件專用測(cè)試機(jī),采用低端測(cè)量,加上...
本內(nèi)容講解了IC測(cè)試原理,集成電路測(cè)試的基本原理,還有ic測(cè)試工程師所要考慮的一些事項(xiàng)及IC封裝測(cè)試等
2011-11-03 標(biāo)簽:集成電路IC設(shè)計(jì)IC測(cè)試 8998 1
IC測(cè)試技術(shù)NAND Tree確認(rèn)管腳連接問題
本文將淺談基于NAND Tree的芯片測(cè)試技術(shù),主要是測(cè)試芯片的管腳I/O Pin和芯片的PAD之間的連接問題,將NAND門接入PAD和上級(jí)的NAND門...
IC測(cè)試常見問答提供了IC測(cè)試中最常見到的一些問題并給出了解決方法,希望對(duì)您有所幫助!
2012-02-03 標(biāo)簽:IC測(cè)試 3745 0
關(guān)于芯片量產(chǎn)工程師需要掌握的知識(shí)概覽
前道是指晶圓制造廠的加工過程,在空白的硅片完成電路的加工,出廠產(chǎn)品依然是完整的圓形硅片。 后道是指封裝和測(cè)試的過程,在封測(cè)廠中將圓形的硅片切割成單...
2023-12-12 標(biāo)簽:IC測(cè)試芯片設(shè)計(jì)晶圓制造 3697 0
Mentor推出了其嵌入式壓縮和自動(dòng)測(cè)試向量生成(ATPG)技術(shù),與Mentor公司2009年8月收購(gòu)的LogicVision公司的BIST技術(shù)結(jié)合,組...
2011-03-08 標(biāo)簽:IC測(cè)試 2622 0
IC測(cè)試,即集成電路測(cè)試,是集成電路設(shè)計(jì)和制造過程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。它主要通過對(duì)集成電路的性能、功能和可靠性進(jìn)行測(cè)試,以確保集成電路在實(shí)際應(yīng)用中能夠滿足...
易于實(shí)現(xiàn)且全面的3D堆疊裸片器件測(cè)試方法
當(dāng)裸片尺寸無法繼續(xù)擴(kuò)大時(shí),開發(fā)者開始考慮投入對(duì) 3D 堆疊裸片方法的研究??紤]用于 3D 封裝的高端器件已經(jīng)將當(dāng)前的可測(cè)試性設(shè)計(jì) (DFT) 解決方案推...
集成電路測(cè)試卡位產(chǎn)業(yè)鏈關(guān)鍵節(jié)點(diǎn),貫穿設(shè)計(jì)、制造、封裝以及應(yīng)用的全過程。從整個(gè)制造流程上來看,集成電路測(cè)試具體包括設(shè)計(jì)階段的設(shè)計(jì)驗(yàn)證、晶圓制造階段的過程工...
ic測(cè)試的主要目的是保證器件在惡劣的環(huán)境條件下能完全實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)規(guī)格書所規(guī)定的功能及性能指標(biāo)。用來完成這一功能的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備是由計(jì)算機(jī)控制的。
類別:測(cè)試測(cè)量 2017-10-20 標(biāo)簽:ic測(cè)試ate測(cè)試 1843 0
類別:測(cè)試測(cè)量 2012-12-12 標(biāo)簽:IC測(cè)試 1321 4
利用2602型系統(tǒng)數(shù)字源表構(gòu)建IC測(cè)試系統(tǒng)立即下載
類別:測(cè)試測(cè)量 2012-02-03 標(biāo)簽:IC測(cè)試數(shù)字源表 986 0
IC測(cè)試以及高效電源調(diào)試解決方案立即下載
類別:下載中心 2016-03-11 標(biāo)簽:IC測(cè)試電源調(diào)試 967 0
靜電放電(ESD,electrostatic discharge)是電子工業(yè)最花代價(jià)的損壞原因之一,它會(huì)影響到生產(chǎn)合格率、制造成本、產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性以及...
從IDM到垂直分工,IC產(chǎn)業(yè)專業(yè)化分工催生獨(dú)立測(cè)試廠商出現(xiàn)。集成電路產(chǎn)業(yè)從上世紀(jì)60年代開始逐漸興起,早期企業(yè)都是IDM運(yùn)營(yíng)模式(垂直整合),這種模式涵...
盡管2019年半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)成長(zhǎng)有壓,加上貿(mào)易戰(zhàn)暗潮洶涌讓產(chǎn)業(yè)界上半年景氣能見度猶如霧里看花。不過,5G基礎(chǔ)建設(shè)勢(shì)在必行,搶下基站芯片的前哨戰(zhàn)已經(jīng)開打,美、...
芯片開發(fā)和生產(chǎn)中的IC測(cè)試基本原理
1 引言 本文主要討論芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中的IC測(cè)試基本原理,內(nèi)容覆蓋了基本的測(cè)試原理,影響測(cè)試決策的基本因素以及IC測(cè)試中的常用術(shù)語。 ...
2010-09-02 標(biāo)簽:IC測(cè)試 3855 0
3D IC測(cè)試的兩個(gè)主要目標(biāo)是提高預(yù)封裝測(cè)試質(zhì)量,以及在堆棧芯片之間建立新的測(cè)試。業(yè)界如今已能有效測(cè)試堆棧在邏輯模塊上的內(nèi)存,但logic-on-log...
關(guān)鍵時(shí)刻!臺(tái)企力助華為自建供應(yīng)鏈!
華為因應(yīng)美方禁令封鎖,正加速自建供應(yīng)鏈,并拉攏臺(tái)灣半導(dǎo)體廠商突圍,日月光投控旗下矽品成為華為第一家青睞的臺(tái)資廠商。
Mellanox Technologies 選用 Mentor Graphics Tessent階層化ATPG解決方案
Mentor Graphics 公司(納斯達(dá)克代碼:MENT)今天宣布,Mellanox Technologies 已將全新的 Mentor? Tes...
2015-05-19 標(biāo)簽:IC測(cè)試Mentor GraphicsATPG 1916 0
2016年臺(tái)灣IC產(chǎn)業(yè)表現(xiàn)優(yōu)于預(yù)期
2016年全年度全球半導(dǎo)體市場(chǎng)全年總銷售值達(dá)3,389億美元,較2015年成長(zhǎng)1.1%;2016年總銷售量達(dá)8,241億顆,較2015年成長(zhǎng)4.7%;2...
2017-02-22 標(biāo)簽:IC設(shè)計(jì)IC測(cè)試IC制造 1728 0
對(duì)基于SoC系統(tǒng)設(shè)計(jì)的探查
調(diào)試復(fù)雜電子系統(tǒng)從來都不是一項(xiàng)簡(jiǎn)單的工作,但至少是可以實(shí)現(xiàn)的。您要找到問題所在。采用您最相信的“示波器”,通過模擬電路到數(shù)字轉(zhuǎn)換,您可以追溯到問題的源頭...
2012-07-23 標(biāo)簽:ic測(cè)試soc系統(tǒng)soc供應(yīng)商 1342 0
Advantest將于3月10-11日舉行虛擬展會(huì)以在新冠疫情肆虐之下繼續(xù)提供IC測(cè)試信息
借助網(wǎng)絡(luò)會(huì)議,Advantest的技術(shù)專家將展示最新的半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)和最佳實(shí)踐,并與戰(zhàn)略合作伙伴及現(xiàn)有和潛在客戶進(jìn)行互動(dòng)。
2020-03-04 標(biāo)簽:IC測(cè)試半導(dǎo)體測(cè)試Advantest 1260 0
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