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半導(dǎo)體集成電路封裝流程|劃片工藝詳解

科準(zhǔn)測(cè)控 ? 來(lái)源: 科準(zhǔn)測(cè)控 ? 作者: 科準(zhǔn)測(cè)控 ? 2023-02-02 09:03 ? 次閱讀

半導(dǎo)體制造起始于對(duì)硅的加工,首先是將純度達(dá)到 99.9999%的硅晶柱切割成不同厚度的晶圓,一般來(lái)說(shuō)4in晶圓的厚度為 520um,6in 的為670um,8in 的為 725m,12in的為 775um。在晶圓上按照窗口刻蝕出一個(gè)個(gè)電路芯片,整齊劃一地在晶圓上呈現(xiàn)出小方格陣列,每一個(gè)小方格代表著一個(gè)能實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路芯片。本文__【科準(zhǔn)測(cè)控】__小編就來(lái)介紹一下半導(dǎo)體集成電路封裝流程的劃片方式、劃片工藝步驟、準(zhǔn)備工作以及晶圓切割、芯片拾取等!

在半導(dǎo)體制造過(guò)程中,受到圓形影響,晶圓邊緣一定區(qū)域芯片圖形工藝不完整,大致有三種情況如圖 2-1 所示。考慮邊緣區(qū)域圖形不完整,制作掩模版時(shí)將其去除,每一個(gè)圖形都是工藝、功能完整的晶粒、以便于良率統(tǒng)計(jì)、晶粒分揀、盲封。硅晶柱的尺寸越大,能切割出來(lái)的晶圓面積就越大,能產(chǎn)出功能完整的有效芯片晶粒數(shù)量就越多。所以芯片制造工藝越先進(jìn),晶圓尺寸越大,其中的每一只電路芯片的成本越能攤薄,半導(dǎo)體的生產(chǎn)成本就能下降。

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半導(dǎo)體器件的發(fā)展方向是單個(gè)芯片越來(lái)越小,且單個(gè)芯片集成的晶體管數(shù)量越來(lái)越多。硅晶圓的發(fā)展趨勢(shì)是晶圓尺寸越來(lái)越大,硅晶柱隨著工藝的進(jìn)步能生長(zhǎng)為1in、2in、4in、6in(約150mm)、8in(約200mm),近年來(lái)發(fā)展出12in甚至研發(fā)更大規(guī)格(14in、16in,甚至20in以上)。

in英寸(舊也作時(shí)),lin~2.54cm。

一片晶圓上重復(fù)刻蝕了幾只至幾十萬(wàn)只電路芯片。晶圓上,電路芯片單元之間通過(guò)一定區(qū)域相互隔離開(kāi)來(lái),稱(chēng)作芯片晶粒隔離區(qū)域稱(chēng)作劃片槽,如圖2-2、圖2-3所示。在使用芯片晶粒前需要通過(guò)有效的手段將其分割并單獨(dú)取下。這時(shí),就需要?jiǎng)澠@道工序,將晶圓分割成一個(gè)個(gè)單獨(dú)的芯片晶粒,再對(duì)芯片晶粒進(jìn)行鏡檢、焊接、鍵合、封蓋等工序,從而封裝出能實(shí)現(xiàn)各種功能且不易被環(huán)境損傷的成品集成電路。

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晶圓生產(chǎn)線(xiàn)制造好的一整片晶圓,在經(jīng)過(guò)了探針臺(tái)電測(cè)試后,通過(guò)切割工藝分割成制作集成電路所需的具有電氣性能的獨(dú)立芯片的過(guò)程,稱(chēng)為晶圓切割或劃片。

圖2-4給出了集成電路制造封裝流程及劃片工序位置。晶圓劃片是電子封裝工藝流程的首道工序,主要通過(guò)研磨、灼燒等方式完成分割。期間伴隨著對(duì)晶圓的固定、清洗等工藝步驟,以保證芯片不被劃片過(guò)程中產(chǎn)生的污物污染,保持晶粒的潔凈度。同時(shí),還要保證在劃片過(guò)程中芯片電路功能的完整性和可靠性。

劃片方式

最早的晶圓切割方法是物理切割,通過(guò)劃片刀橫、縱的切割運(yùn)動(dòng),將晶圓分割成方形的芯片晶粒。現(xiàn)在,用金剛石砂輪劃片刀(見(jiàn)圖2-5)進(jìn)行晶圓切割的方法仍然占據(jù)主流地位。機(jī)械劃片的力直接作用在晶圓表面,會(huì)使晶體內(nèi)部產(chǎn)生應(yīng)力損傷,容易造成芯片崩邊及晶圓破損。特別是對(duì)厚度在 100um 以下的晶圓劃片時(shí),極易導(dǎo)致晶圓破碎。機(jī)械劃片速唐一般為810mm/s,劃片速度較慢,且要求劃片槽寬度大于 30um,高可靠電路的劃片槽寬度則應(yīng)更大,甚至達(dá)到 5060um,以確保芯片劃片后的完整性和可靠性。一般芯片的預(yù)留劃片槽寬度與切制用金剛石砂輪劃片刀的推薦值如表 2-1 所示。機(jī)械劃片原理示意如圖 2-6所示。

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激光切割屬于無(wú)接觸式劃片,不對(duì)晶圓產(chǎn)生機(jī)械應(yīng)力,對(duì)晶圓的損傷較小,可以避免芯片破碎、損壞等問(wèn)題 (見(jiàn)圖 2-7)。由于激光在聚焦上可達(dá)到亞微米數(shù)量級(jí)的特點(diǎn),對(duì)晶圓的微處理更具有優(yōu)勢(shì)。同時(shí)激光劃片速度可達(dá) 150mm/s,較機(jī)械劃片速率有很大提高,并可以勝任較薄晶圓的加工任務(wù),也可以用來(lái)切割一些較為復(fù)雜形狀的芯片,如六邊形。但是昂貴的設(shè)備成本是制約激光劃片普及的因素之一。

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劃片工藝步驟

劃片工藝開(kāi)始前,首先要進(jìn)行必要的準(zhǔn)備工作;之后,是將待切割的晶圓片粘貼到藍(lán)膜上,將藍(lán)膜框架放人劃片機(jī)開(kāi)始劃片過(guò)程,并實(shí)時(shí)清除掉劃片產(chǎn)生的硅渣和污物;最后,把分割開(kāi)的芯片拾取、保存,具體步驟如圖 2-8 所示。

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1. 準(zhǔn)備工作

采用乙醇、無(wú)塵布擦拭貼膜機(jī),并用氮?dú)鈽尨祪艄ぷ髋_(tái)面及區(qū)域,必要時(shí),打開(kāi)去離子風(fēng)扇,吹淋工作區(qū)域,去除靜電干擾。檢查待劃片的晶圓(見(jiàn)圖2-9),核對(duì)晶圓數(shù)量、批次信息,確保晶圓完好無(wú)破損。

2、貼裝藍(lán)膜

貼裝藍(lán)膜后的晶圓如圖 2-10 所示。

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  1. 藍(lán)膜

藍(lán)膜用來(lái)把晶圓背面固定在金屬膜框上,起到固定晶圓、束縛晶粒的作用,從而使晶圓被切割分開(kāi)成晶粒后晶粒不會(huì)散落。晶圓一般按照尺寸區(qū)分,這里的尺寸指的是晶圓的直徑,常見(jiàn)的有6in、8in、12in。現(xiàn)在使用的高可靠電路,有一些穩(wěn)定的老品種也使用4in 晶圓。藍(lán)膜也具有相應(yīng)尺寸的不同規(guī)格。

藍(lán)膜的特征參數(shù)是厚度與黏附力。大多數(shù)用于硅晶圓劃片的藍(lán)膜厚度為 80~95um。膜的黏附力必須足夠大,保證劃片過(guò)程中能將已分離的每個(gè)晶粒牢牢地固定在膜上。當(dāng)劃片完成后,又能很容易地從膜上取下晶粒。

最常用的是普通藍(lán)膜和紫外 (UV) 膜。普通藍(lán)膜的成本大約是 UV 膜的 1/3。UV 膜的粘接強(qiáng)度是可變的,經(jīng)紫外線(xiàn)照射之后,由于其粘接劑聚合發(fā)生固化,其黏附力減小90%.更易脫膜、揭膜,且無(wú)殘留物。UV 膜具有極強(qiáng)的黏附力以固定晶圓,即使小晶粒也不會(huì)發(fā)生位移或剝除問(wèn)題。通過(guò)紫外線(xiàn)照射降低黏附力,即使大晶粒也能輕松分揀,應(yīng)力極其微弱,且晶粒背面無(wú)殘留物。

(2) 貼膜框

貼膜框又稱(chēng)為晶圓環(huán)、膜框、金屬框架等,采用金屬材質(zhì),且具有一定的剛性,不會(huì)輕易變形,與貼膜機(jī)配套使用。貼膜框用于繃緊藍(lán)膜,固定晶圓,便于后期的晶圓劃片、晶粒分揀,避免晶圓切割后晶粒間由于藍(lán)膜褶皺相互碰撞擠壓而造成的損傷。

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(3)裝配過(guò)程

圖2-11 給出了晶圓、藍(lán)膜及貼膜框的裝配圖,圖 2-12給出了晶圓、藍(lán)膜及貼膜框的裝配過(guò)程。首先,取出一片晶圓,正面朝下,背面朝上,將其放置在貼膜機(jī)工作盤(pán)上,打開(kāi)真空開(kāi)關(guān),吸住晶圓。然后,將貼膜框放置在貼膜機(jī)工作臺(tái)上,使其中心與晶圓中心對(duì)齊,并將側(cè)邊定位框移動(dòng)至貼膜框外側(cè),將其左右限位。最后,拉出足夠長(zhǎng)度的藍(lán)膜,拉緊后,貼在貼膜機(jī)后部,覆蓋整個(gè)貼膜框區(qū)域,用滾筒壓過(guò)藍(lán)膜,將晶圓、藍(lán)膜及框架裝配到一起。

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3、晶圓切割

按照芯片大小將晶圓分割成單一的晶粒,用于隨后的芯片貼裝、引線(xiàn)鍵合等工序。雖然,機(jī)械劃片存在很多可靠性和成本上的問(wèn)題,如晶圓機(jī)械損傷嚴(yán)重、晶圓劃片線(xiàn)寬較大、劃片速度較慢、需要冷卻水切割、刀具更換維護(hù)成本較高等,但是,機(jī)械切割現(xiàn)在仍然是主要的劃片方式。人們通過(guò)調(diào)整劃片工藝參數(shù)、選擇最佳的刀具類(lèi)型、采用多次劃片等方式,來(lái)解決機(jī)械劃片中芯片崩邊、分層、硅渣污染等問(wèn)題。劃片機(jī)切割晶圓如圖 2-13所示。

4、清洗

晶圓切割過(guò)程中主要是清洗劃片時(shí)產(chǎn)生的各種硅碎屑、粉塵,清潔晶粒,并對(duì)劃片刀起到降溫冷卻作用。

冷卻介質(zhì)根據(jù)劃切材料的質(zhì)量要求,用去離子水或自來(lái)水及其他冷卻介質(zhì)。冷卻流量一般用流量計(jì)調(diào)節(jié)控制流量大小,正常為 0.2~4L/mn。流量大小要根據(jù)刀刃及劃切材料的種類(lèi)和厚度來(lái)調(diào)節(jié),流量大會(huì)沖走劃切中粘接不牢固的芯片,對(duì)特別薄的刀刃,流量大有時(shí)也影響刀刃的剛性:流量小又會(huì)影響刀刃壽命和劃切質(zhì)量。

5、芯片拾取

用UV 光照射后,UV 膜黏性減退,便于拾取分割好的晶粒,如圖 2-14 所示

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表 2-2 給出了劃片工序涉及的主要設(shè)備、部件及耗材和作用。

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以上就是關(guān)于半導(dǎo)體集成電路封裝劃片方式、工藝步驟、準(zhǔn)備工作及晶圓切割、芯片拾取的分享了,希望對(duì)大家能帶來(lái)幫助!如果您對(duì)半導(dǎo)體芯片、集成電路、推拉力測(cè)試機(jī)有任何不清楚的問(wèn)題,歡迎給我們私信或留言,科準(zhǔn)測(cè)控的技術(shù)團(tuán)隊(duì)都會(huì)為大家解答!還想了解更多有關(guān)半導(dǎo)體集成電路的知識(shí),敬請(qǐng)關(guān)注!

審核編輯 黃宇

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