process 剝離面特征分析(PCB側) 1.外觀分析 PCB側端子脫落后的剝離面外觀特征: 說明:該PCB板為陶瓷板。PCB側端子脫落后的剝離面外觀特征:表面平整、細膩,無應力齒紋痕跡。 2.SEM分析
2022-09-13 11:13:15
1822 失效分析(FA)是根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。
2023-09-06 10:28:05
1331 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/A3/30/wKgaomT35E-ASB0TAAAWPaaBoXE753.png)
及PCBA的失效現象進行失效分析,通過一系列分析驗證,找出失效原因,挖掘失效機理,對提高產品質量,改進生產工藝,仲裁失效事故有重要意義。2、服務對象印制電路板及組件(PCB&PCBA)生產商:確認
2020-02-25 16:04:42
精細結構或表面特征均可放大到幾十萬倍進行觀察與分析。在PCB或焊點的失效分析方面,SEM主要用來作失效機理的分析,具體說來就是用來觀察焊盤表面的形貌結構、焊點金相組織、測量金屬間化物、可焊性鍍層分析以及做錫
2018-11-28 11:34:31
很強大,任何精細結構或表面特征均可放大到幾十萬倍進行觀察與分析。在PCB或焊點的失效分析方面,SEM主要用來作失效機理的分析,具體說來就是用來觀察焊盤表面的形貌結構、焊點金相組織、測量金屬間化物、可焊性
2020-04-03 15:03:39
PCB失效原因與案例分析
2013-08-16 16:11:43
電子顯微鏡(SEM)是進行失效分析的一種最有用的大型電子顯微成像系統,最常用作形貌觀察,現時的掃描電子顯微鏡的功能已經很強大,任何精細結構或表面特征均可放大到幾十萬倍進行觀察與分析。 在PCB或焊點
2018-09-20 10:55:57
的分布。現時的掃描電子顯微鏡的功能已經很強大,任何精細結構或表面特征均可放大到幾十萬倍進行觀察與分析。 在PCB或焊點的失效分析方面,SEM主要用來作失效機理的分析,具體說來就是用來觀察焊盤表面的形貌
2019-10-23 08:00:00
的功能已經很強大,任何精細結構或表面特征均可放大到幾十萬倍進行觀察與分析。 在PCB或焊點的失效分析方面,SEM主要用來作失效機理的分析,具體說來就是用來觀察焊盤表面的形貌結構、焊點金相組織、測量
2018-09-12 15:26:29
/透射電鏡,EDS能譜等分析手段對可靠性試驗后不良失效線路板樣品進行分析。PCB常見不良失效現象:鍍層開路、鍍層裂紋、鍍層空洞、柱狀結晶、孔壁分離等失效分析,金鑒實驗室面向PCB板廠,藥水廠商等客戶,可提供
2021-08-05 11:52:41
`北京汐源科技有限公司隨著電子產品、半導體產品不斷的更新換代,在國家對高科技產業的大力支持下,汐源科技同時也為電子、半導體行業提供良好的保障。汐源科技是一家以電子產品失效分析技術服務以及電子材料銷售
2016-04-24 20:01:15
-9.[4]唐明,張素娟.先進成像技術在失效分析中的應用.半導體技術,2001,26(1):50-53. 愿景:讓任何人、任何企業通過開放飛秒檢測技術,更快、更好的創造新產品,造福社會 飛秒測試中心:何工:***聯系地址:浙江省杭州市西湖區西溪路525號浙大科技園`
2017-12-01 09:17:03
`1. 芯片開封:去除IC封膠,同時保持芯片功能的完整無損,保持 die,bondpads,bond wires乃至lead-frame不受損傷,為下一步芯片失效分析實驗做準備。2. SEM
2019-11-22 14:27:45
`北京汐源科技有限公司隨著電子產品、半導體產品不斷的更新換代,在國家對高科技產業的大力支持下,汐源科技同時也為電子、半導體行業提供良好的保障。汐源科技是一家以電子產品失效分析技術服務以及電子材料銷售
2016-04-24 19:58:56
(2)完全失效 (3)輕度失效 (4)危險性(嚴重)失效 (5)災難性(致命)失效 失效分析的分類 失效分析的分類一般按分析的目的不同可分為: (1) 狹義的失效分析 主要目
2011-11-29 16:46:42
失效分析是芯片測試重要環節,無論對于量產樣品還是設計環節亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX
2019-12-16 10:16:21
分析委托方發現失效元器件,會對失效樣品進行初步電測判斷,再次會使用良品替換確認故障。如有可能要與發現失效的人員進行交流,詳細了解原始數據,這是開展失效分析工作關鍵一步。確認其失效機理,失效機理是指失效
2020-08-07 15:34:07
失效分析方法---PCB失效分析該方法主要分為三個部分,將三個部分的方法融匯貫通,不僅能幫助我們在實際案例分析過程中能夠快速地解決失效問題,定位根因;還能根據我們建立的框架對新進工程師進行培訓,方便
2020-03-10 10:42:44
內容包含失效分析方法,失效分析步驟,失效分析案例,失效分析實驗室
2020-04-02 15:08:20
X-Ray 檢測IC封裝中的各種缺陷如層剝離、爆裂、空洞以及打線的完整性,PCB制程中可能存在的缺陷如對齊不良或橋接,開路、短路或不正常連接的缺陷,封裝中的錫球完整性。(這幾種是芯片發生失效后首
2020-03-28 12:15:30
失效分析案例案例1:大電流導致器件金屬融化 某產品在用戶現場頻頻出現損壞,經過對返修單板進行分析,發現大部分返修單板均是某接口器件失效,對器件進行解剖后,在金相顯微鏡下觀察,發現器件是由于EOS導致
2009-12-01 16:31:42
`一般來說,集成電路在研制、生產和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數
2016-05-04 15:39:25
`v失效:產品失去規定的功能。v失效分析:為確定和分析失效器件的失效模式,失效機理,失效原因和失效性質而對產品所做的分析和檢查。v失效模式:失效的表現形式。v失效機理:導致器件失效的物理,化學變化
2011-11-29 17:13:46
結論:在封裝膠生產 過程中嚴格去除氯離子等具有侵蝕性的離子,避免 對電極的腐蝕至關重要[4] SEM+EDS是研究失效機理的失效分析手段,杭州柘大飛秒檢測技術有限公司的科研人員通常在同一臺儀器上進行電鏡
2017-12-07 09:17:32
經過封裝后才能使用,當處于異常惡劣的外環境中時,一般的封裝體也無法對芯片形成有效的保護。金鑒實驗室的芯片失效分析會充分評估光源的使用環境,針對外環境引起的芯片失效,金鑒會模擬外環境進行失效現象重現,同時
2020-10-22 09:40:09
經過封裝后才能使用,當處于異常惡劣的外環境中時,一般的封裝體也無法對芯片形成有效的保護。金鑒實驗室的芯片失效分析會充分評估光源的使用環境,針對外環境引起的芯片失效,金鑒會模擬外環境進行失效現象重現,同時
2020-10-22 15:06:06
MLCC樣品失效分析方法匯總MLCC失效原因在產品正常使用情況下,失效的根本原因是MLCC 外部或內部存在如開裂、孔洞、分層等各種微觀缺陷。這些缺陷直接影響到MLCC產品的電性能、可靠性,給產品質量
2020-03-19 14:00:37
  FA電子封裝失效分析培訓主辦單位:上海耀谷管理咨詢有限公司聯系方式:lucy@yaogu.org    總機
2009-02-19 09:54:39
。因為自有實驗室的分析人員對自家的產品十分了解,失效信息的全面性直接保證了分析的效率與結果的準確性。誠然,一般自有實驗室在設備種類,人員素質等方面與第三方實驗室還有不小的差距,但夠用才是硬道理。根據
2016-07-18 22:29:06
;nbsp;    電鏡與能譜SEM/EDS、俄歇AES、XPS5、FEA有限元失效分析應用案例6、IPFA2009論文征集發布會Call
2008-10-31 10:48:05
;nbsp;    電鏡與能譜SEM/EDS、俄歇AES、XPS5、FEA有限元失效分析應用案例6、IPFA2009論文征集發布會Call
2008-11-05 11:31:32
;nbsp;    電鏡與能譜SEM/EDS、俄歇AES、XPS5、FEA有限元失效分析應用案例6、IPFA2009論文征集發布會Call
2008-11-05 11:41:54
工作地點:深圳薪酬:15萬/年左右簡歷投遞至icy.wu@careerco.cn 失效分析工程師職位描述:1、負責產品在驗證、生產和客戶應用過程中的失效分析,判定失效模型和機理,并提供解決和改進方案
2013-07-24 19:01:18
的對應,定位缺陷位置。該方法常用于LED芯片內部高阻抗及低阻抗分析,芯片漏電路徑分析。金鑒實驗室LED芯片漏電失效點分析(Obirch+FIB+SEM)檢測報告數據!
2021-02-26 15:09:51
。 實驗室依托中測院在電學計量測試領域的傳統優勢,建立了先進的電子元器件電學參數檢測、無損檢測、顯微形貌、失效點定位、表面元素分析等失效分析能力,與從多家事芯片設計的科研院所及電子元器件制造企業建立
2017-06-01 10:42:29
是人們認識事物本質和發展規律的逆向思維和探索,是變失效為安全的基本環節和關鍵,是人們深化對客觀事物的認識源頭和途徑。 原理 在失效分析中,通常將失效分類。從技術角度可按失效機制、失效零件類型、引起失效
2011-11-29 16:39:42
` 本帖最后由 Sanny33 于 2017-2-13 11:08 編輯
PCB是信息電子產業最基本的構件,屬于電子元器件行業中的電子元件產業。是組裝電子零件用的基板,是在通用基材上按預定
2016-12-15 17:47:53
。功能失效和電參數失效的根源時常可歸結于連接性失效。在缺乏復雜功能測試設備和測試程序的情況下,有可能用簡單的連接性測試和參數測試方法進行電測,結合物理失效分析技術的應用仍然可獲得令人滿意的失效分析結果
2016-12-09 16:07:04
的失效。功能失效和電參數失效的根源時常可歸結于連接性失效。在缺乏復雜功能測試設備和測試程序的情況下,有可能用簡單的連接性測試和參數測試方法進行電測,結合物理失效分析技術的應用仍然可獲得令人滿意的失效
2016-10-26 16:26:27
`失效分析(FA)是一門發展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業普及。它一般根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量,技術開發
2020-05-15 10:49:58
失效分析是芯片測試重要環節,無論對于量產樣品還是設計環節亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX
2020-02-11 09:56:01
失效分析是芯片測試重要環節,無論對于量產樣品還是設計環節亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,SAT,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX
2020-09-01 16:19:23
一般來說,集成電路在研制、生產和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數
2011-11-29 11:34:20
一般來說,集成電路在研制、生產和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數
2013-01-07 17:20:41
),可提供高解析之表面結構分析影像,亦可快速進行材料成份之分析。針對各種材料表面微結構觀察SEM量測樣品尺寸,如膜厚等EDS可針對樣品表面,進行微區定性與半定量成份元素分析/ 特定區域之Point、Line
2018-08-31 15:53:31
元器件失效分析的幾個關鍵點
2021-06-08 06:12:14
,本文證明電子束探測技術有助于增強現有失效分析過程的深度。I. 引言和背景 掃描電子顯微鏡掃描電子顯微鏡(SEM)是微電子學中的標準工具,在失效分析中有廣泛的應用。SEM從陰極產生電子,并通過電子槍予以
2018-10-22 16:44:07
(解剖)分析;先調查了解與失效有關的情況(應用條件、失效現象等),后分析失效器件。三、失效分析常用技術在開展失效分析時,一定是和相應的技術手段和設備手段密不可分的。常用技術手段分為以下幾類:1、電氣測試
2019-10-11 09:50:49
膨脹系數和玻璃態轉化溫度。膨脹系數過大的基材的PCB 在焊接組裝后常常會導致金屬化孔的斷裂失效。 1. 3 熱重分析儀 (TGA) 熱重法(Thermogravimetry Analysis)是在程序
2012-07-27 21:05:38
;nbsp;    電鏡與能譜SEM/EDS、俄歇AES、XPS5、FEA有限元失效分析應用案例6、IPFA2009論文征集發布會Call
2008-11-05 11:43:40
=17.1429px]失效分析服務項目[size=17.1429px]◆材料物理缺陷表征(SEM);[size=17.1429px]◆材料元素成分分析(SEM&EDS);[size=17.1429px
2019-07-16 02:03:44
電子封裝失效分析 發布單位:上海耀谷管理咨詢有限公司聯系人:Eva Gu: 021-58550119   eva.gu@yaogu.org
2010-10-19 12:30:10
目前,隨著現代生活中的人們對產品質量和可靠性要求不斷提高,芯片的失效分析、可靠性分析也越來越得到關注和重視,失效分析是通過對現場使用失效樣品、可靠性試驗失效樣品或篩選失效樣品的檢測與解剖分析,得出
2013-06-24 17:04:20
失效分析(FA)是一門發展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業普及。它一般根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量,技術開發
2020-04-07 10:11:36
使用,外接設備可自由搭配,如示波器,電源等,同時探針臺提供樣品細節可視化功能,協助芯片設計人員對失效芯片進行分析在顯微鏡的輔助下,使用探針接觸芯片管腳,給芯片加電,觀察芯片加電后的功耗表現
2020-02-13 12:28:35
標題:芯片失效分析方法及步驟目錄:失效分析方法失效分析步驟失效分析案例失效分析實驗室介紹
2020-04-14 15:08:52
種不損壞內部電路和引線,開封后可以進行電動態分析。方法三是自自動法用硫酸噴射達到局部去除的效果。2.缺陷定位,定位具體失效位置在集成電路失效分析中,是一個重要而困難的項目,缺陷定位后才能發現失效機理
2020-05-18 14:25:44
失效分析就是要分析損壞的產品從而為改進設計或明確責任提供素材的工作。但是從行業來看,目前很多公司特別是中小型公司的失效分析做的并不好。 中國有句俗話叫:“吃一塹,長一智”,《論語》中也有“不貳過
2011-12-01 10:10:25
失效分析屬于芯片反向工程開發范疇。芯片失效分析主要提供封裝去除、層次去除、芯片染色、芯片拍照、大圖彩印、電路修改等技術服務項目 失效分析流程: 1、外觀檢查,識別crack,burnt
2012-09-20 17:39:49
`一般來說,集成電路在研制、生產和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數
2020-04-24 15:26:46
本帖最后由 testest 于 2020-5-17 20:51 編輯
芯片IC可靠性測試、靜電測試、失效分析芯片可靠性驗證 ( RA)芯片級預處理(PC)& MSL試驗
2020-05-17 20:50:12
芯片IC可靠性測試、靜電測試、失效分析芯片可靠性驗證 ( RA)芯片級預處理(PC) & MSL試驗 、J-STD-020 & JESD22-A113 ;高溫存儲試驗(HTSL
2020-04-26 17:03:32
PCB線路板銅層截面拋光PCBA無鉛焊點可靠性測試:外觀檢察紅外顯微鏡分析聲學掃描分析金相切片X-ray透視檢查SEM檢查SEM/EDS計算機層析分析染色試驗PCB/PCBA的失效模式:常見的PCB
2019-10-30 16:11:47
電子顯微鏡(SEM)是進行失效分析的一種最有用的大型電子顯微成像系統,最常用作形貌觀察,現時的掃描電子顯微鏡的功能已經很強大,任何精細結構或表面特征均可放大到幾十萬倍進行觀察與分析。 在PCB或焊點
2018-09-20 10:59:15
射線,表征材料元素方面的信息,可定性、半定量Be-U的元素 ;
定位測試點,如在失效分析中可以用來定位失效點,在異物分析中可以用來定位異物點。
博****仕檢測測試案例:
1.觀察材料的表面形貌
2024-03-01 18:59:58
熱分析技術在PCB失效分析的應用介紹
2017-04-13 08:38:04
1 程中出現了大量的失效問題。 對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術,來使得PCB在制造的時候質量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結了十大失效分析技術,供參考借鑒。 1.外觀檢查 外觀檢查就是目測或利用一些簡單儀
2017-09-21 15:45:26
4 隨著電子信息產品的小型化以及無鉛無鹵化的環保要求,PCB也向高密度高Tg以及環保的方向發展。但是由于成本以及技術的原因,PCB在生產和應用過程中出現了大量的失效問題,并因此引發了許多的質量糾紛。為了弄清楚失效的原因以便找到解決問題的辦法和分清責任,必須對所發生的失效案例進行失效分析。
2018-02-03 09:24:51
3557 ![](https://file.elecfans.com/web1/M00/45/B9/o4YBAFp1EOCAWCQJAAAZJYU-CCg571.jpg)
,說明過爐一次焊盤后,純錫層厚度約為0.3μm;未過爐焊盤的表層在0.8μm左右深度出現Cu元素,說明未過爐焊盤的純錫層厚度約為0.8μm。鑒于EDS測試精度較低,誤差相對較大,接下來采用AES對焊盤表面成分進行進一步分析。
2018-04-17 10:33:34
14832 的分布。現時的掃描電子顯微鏡的功能已經很強大,任何精細結構或表面特征均可放大到幾十萬倍進行觀察與分析。 在PCB或焊點的失效分析方面,SEM主要用來作失效機理的分析,具體說來就是用來觀察焊盤表面
2018-08-31 09:28:05
6176 本視頻主要詳細介紹了sem數據分析方法,分別有趨勢分析法、比重分析法、TOPN分析法、四象限分析法。
2019-02-28 15:23:09
4676 對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術,來使得PCB在制造的時候質量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結了十大失效分析技術,供參考借鑒。
2019-05-16 16:24:54
6374 光學顯微鏡主要用于PCB的外觀檢查,尋找失效的部位和相關的物證,初步判斷PCB的失效模式。外觀檢查主要檢查PCB的污染、腐蝕、爆板的位置、電路布線以及失效的規律性、如是批次的或是個別,是不是總是集中在某個區域等等。
2019-06-04 17:11:32
3026 其目的是對問題點位置進行表面分析,檢測鍍層表面是否存在異常,是否存在金面污染,(具體元素污染項對應),從SEM&ED分析結果來看,斷裂面上元素有C、O、Ni、P、Au,不難看出,上錫后板面檢測出含有Au元素,正常的情況下上錫后Au會被融掉,此樣品還存在板面有Au殘留的現象,此為異常情況。
2021-09-10 12:06:19
2435 SEM&EDS對焊錫不良的PCB板做微觀以及表面的元素分析,可以很好的為焊錫不良原因分析,提供可靠的數據支持,SEM和EDS必將發展為最常見的分析手段。
2021-10-15 16:27:19
4493 ![](https://file.elecfans.com//web2/M00/18/09/poYBAGFpLb2AFobUAAFwIUARw6s034.jpg)
PCB的失效分析服務介紹
2021-10-18 17:13:17
850 ![](https://file.elecfans.com//web2/M00/18/57/poYBAGFtNYGAQ_tsAAMd_zf9S3U508.jpg)
C: 開裂50% / Type D: 未開裂 / Type E: 無焊點 / ? 三、 金相及SEM分析 ? ? ? 失效PCBA焊盤富磷層EDS分析 ? 失效PCBA焊盤正常部位Ni層EDS分
2021-10-20 14:42:15
1808 ![](https://file.elecfans.com//web2/M00/18/A7/pYYBAGFvuH-AIrf-AABRrSrfsxQ703.jpg)
的分析儀器。其應用范圍也已經從半導體行業拓展至材料科學、生命科學和地質學等眾多領域。為方便客戶對材料進行深入的失效分析及研究,金鑒實驗室現推出Dual Beam FIB-SEM業務,并介紹Dual Beam
2022-03-15 09:23:41
1162 深入的失效分析及研究,金鑒實驗室現推出Dual Beam FIB-SEM業務,并介紹Dual Beam FIB-SEM在
2021-11-06 09:43:13
2784 ![](https://file.elecfans.com//web2/M00/1A/71/poYBAGF7obSAQ0BiAAA1eZ-Kujk486.png)
,越來越多的PCB出現了潤濕不良、爆板、分層、CAF等等各種失效問題。PCB失效機理與原因的獲得將有利于將來對PCB的質量控制,從而避免類似問題的再度發生。 ? 金鑒LED品質實驗室專門提供PCB失效分析服務,致力于改善LED品質,服務LED產業鏈中各
2021-11-01 10:58:30
1177 圖1 LED焊球良品(掃描電鏡SEM) ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 圖2 LED焊球不良品(掃描電鏡SEM) 圖3 LED焊球(掃描電鏡SEM
2021-11-26 16:33:04
749 ![](https://file.elecfans.com//web2/M00/20/F2/poYBAGGgZvCABHc_AAA3C-N_SDA107.jpg)
水平降低。 關鍵詞: 陶瓷電容 電容 耐壓不良 電容失效 電容失效分析 耐壓失效分析 ? ? 1. 案例背景 陶瓷電容器客戶端耐壓不良。 2.分析方法簡述 (1)通過對NG樣品、OK樣品進行了外觀光學檢查、金相切片分析、SEM/EDS分析及模擬試驗后,發現NG樣品
2021-12-11 17:05:17
1923 ![](https://file.elecfans.com//web2/M00/24/F7/poYBAGG0GVOAYPvKAABXZMnIWdM258.jpg)
材料的性能與組織的關系 正確的金相分析是失效分析的基礎。首先是對各種光學顯微鏡不能分辨的基本顯微組織的分析,如隱針馬氏體、屈氏體等;其次是對顯微組織精細結構的分析,如上貝氏體中鐵索體和滲碳體兩個
2021-12-22 17:03:56
3341 ![](https://file.elecfans.com//web2/M00/27/DE/poYBAGHC20qAEDGKAAB8xQ4KfUo858.jpg)
PCB在實際可靠性問題失效分析中,同一種失效模式,其失效機理可能是復雜多樣的,因此就如同查案一樣,需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段,方能找到真正的失效原因。在此過程中,任何
2022-02-11 15:19:01
26 整平(噴錫)。 2.EDS分析 說明:失效焊點PAD上無明顯錫膏(Sn)附著,未發現異常元素, C元素約占30%(助焊劑主要成分之一)。 3.斷面金相分析 說明:斷面分析顯示,未潤濕位置具有表面合金化的典型特征,即IMC層裸露。 4.斷面SEM分析 說明:PCB的鍍層分析Sn的厚度,
2022-08-10 14:25:25
1803 。 在失效分析中,SEM有廣泛的應用場景,其在確定失效分析模式、查找失效成因方面發揮著舉足輕重的作用。 No.2 工作原理 掃描電鏡的焦深比透射電子顯微鏡大10倍,比光學顯微鏡大數百倍。由于圖像景深大,因此掃描得出的電子像富有立體感,具有三
2022-08-18 08:50:39
2724 一起貼片陶瓷電容失效事件,失效模式為短路,電容表面有裂紋,對于這顆電容進行分析失效,經過梳理,造成器件(MLCC)的失效各種可能性。
2022-09-08 15:17:19
3985 ![](https://file.elecfans.com//web2/M00/68/4B/pYYBAGMZlvqAIU44AAC1XdY-3g4585.jpg)
疑似虛焊的現象。 (二)切片斷面分析 明場光圖示 暗場光圖示 說明:通過切片斷面分析,有錫珠的一側焊點有明顯虛焊,焊錫與電感焊端未潤濕。 (三)SEM及EDS分析 SEM分析 說明:據電感斷面的整體SEM圖示,錫在PCB焊盤上有聚集性,電感焊端無明顯的
2022-10-06 15:14:19
886 失效分析是根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析
2022-10-12 11:08:48
4174 樣品信息 #1為失效樣品,取#1樣品中的RG11;#2為非同周期PCB板,取#2樣品中的C37。 #1樣品 #2樣品 分析過程 外觀分析 ? 說明:#1樣品RG11失效位置呈現無Sn潤濕狀態或退潤濕
2022-11-21 11:05:12
556 No.1 案例背景 當芯片底部出現焊接不良的問題時,我們可以怎么進行失效分析呢? 本篇案例運用X-ray檢測——斷面檢測——焊錫高度檢測——SEM檢測的方法,推斷出芯片底部出現焊接不良的失效原因
2023-02-14 15:57:42
1158 程中出現了大量的失效問題。 對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術,來使得PCB在制造的時候質量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結了十大失效分析技術,供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22
749 EMMI:Emission microscopy 。與SEM,FIB,EB等一起作為最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:18
2310 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/89/8A/wKgZomSG8YaAVjliAABmquj3Sws946.jpg)
本文以PCBA掉件缺陷的具體案例為例,通過對掉件區域的外部目檢、制樣鏡檢、SEM&EDS等手段,尋找出引起器件脫落的具體原因,幫助客戶進行工藝改進,減少不必要的成本耗損。
2022-12-30 14:14:09
1845 ![](https://file.elecfans.com/web2/M00/87/F3/pYYBAGOuSJWAQ-v6AADlWjlx6cw264.png)
那么就要用到一些常用的失效分析技術。介于PCB的結構特點與失效的主要模式,其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術,一旦使用了這兩種技術,樣品就破壞了,且無法恢復;另外由于制樣的要求,可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05
115 1、案例背景 LED燈帶在使用一段時間后出現不良失效,初步判斷失效原因為銅腐蝕。據此情況,對失效樣品進行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段,明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07
188 ![](https://file1.elecfans.com//web2/M00/B3/E9/wKgaomV2byeASBReAAA2ZMIGnEU407.jpg)
的焊錫空洞。 2)SEM表面特征分析 #位置3: 測試結果:剝離面有應力斷裂痕跡,PCB鎳層有裂紋。 ? #位置2: 測試結果:焊接面有較大的焊錫空洞,斷裂面有應力斷裂痕跡。 ? 3)EDS成分分析 ? 測試結果:剝離面主要成分為Sn、Ni, 未發現異常元素。 4)切片斷面分析 #PCB側脫落點切片斷面
2023-12-18 09:56:12
155 ![](https://file1.elecfans.com//web2/M00/B7/CF/wKgZomV_pq2AOZ0SAABlMjZISHI476.jpg)
▼關注公眾號:工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產業鏈,復雜的產業鏈中任意一環出現問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應用都會面臨各種失效風險,筆者平時也會參與到失效分析中,這一期就對失效
2023-12-20 08:41:04
530 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/B6/E9/wKgaomWCXyeAVl8ZAAAcKcnr-AQ498.jpg)
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