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電子發燒友網>今日頭條>SEM&EDS分析在PCB失效分析中的應用

SEM&EDS分析在PCB失效分析中的應用

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2021-11-26 16:33:04749

陶瓷電容耐壓不良失效分析

水平降低。 關鍵詞: 陶瓷電容 電容 耐壓不良 電容失效 電容失效分析 耐壓失效分析 ? ? 1. 案例背景 陶瓷電容器客戶端耐壓不良。 2.分析方法簡述 (1)通過對NG樣品、OK樣品進行了外觀光學檢查、金相切片分析SEM/EDS分析及模擬試驗后,發現NG樣品
2021-12-11 17:05:171923

掃描電鏡應用之SEM-EDS金屬材料研究及失效分析

材料的性能與組織的關系 正確的金相分析失效分析的基礎。首先是對各種光學顯微鏡不能分辨的基本顯微組織的分析,如隱針馬氏體、屈氏體等;其次是對顯微組織精細結構的分析,如上貝氏體中鐵索體和滲碳體兩個
2021-12-22 17:03:563341

PCB可靠性問題失效分析思路

PCB在實際可靠性問題失效分析中,同一種失效模式,其失效機理可能是復雜多樣的,因此就如同查案一樣,需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段,方能找到真正的失效原因。在此過程中,任何
2022-02-11 15:19:0126

PCB熔錫不良失效分析

整平(噴錫)。 2.EDS分析 說明:失效焊點PAD上無明顯錫膏(Sn)附著,未發現異常元素, C元素約占30%(助焊劑主要成分之一)。 3.斷面金相分析 說明:斷面分析顯示,未潤濕位置具有表面合金化的典型特征,即IMC層裸露。 4.斷面SEM分析 說明:PCB的鍍層分析Sn的厚度,
2022-08-10 14:25:251803

掃描電子顯微鏡(SEM)在失效分析中的應用

。 在失效分析中,SEM有廣泛的應用場景,其在確定失效分析模式、查找失效成因方面發揮著舉足輕重的作用。 No.2 工作原理 掃描電鏡的焦深比透射電子顯微鏡大10倍,比光學顯微鏡大數百倍。由于圖像景深大,因此掃描得出的電子像富有立體感,具有三
2022-08-18 08:50:392724

貼片陶瓷電容失效事件分析--PCB應力應變分析

一起貼片陶瓷電容失效事件,失效模式為短路,電容表面有裂紋,對于這顆電容進行分析失效,經過梳理,造成器件(MLCC)的失效各種可能性。
2022-09-08 15:17:193985

電感焊端鍍層合金化虛焊失效分析

疑似虛焊的現象。 (二)切片斷面分析 明場光圖示 暗場光圖示 說明:通過切片斷面分析,有錫珠的一側焊點有明顯虛焊,焊錫與電感焊端未潤濕。 (三)SEMEDS分析 SEM分析 說明:據電感斷面的整體SEM圖示,錫在PCB焊盤上有聚集性,電感焊端無明顯的
2022-10-06 15:14:19886

常用的芯片失效分析方法

失效分析是根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析
2022-10-12 11:08:484174

PCB熔錫不良現象背后的失效機理

樣品信息 #1為失效樣品,取#1樣品中的RG11;#2為非同周期PCB板,取#2樣品中的C37。 #1樣品 #2樣品 分析過程 外觀分析 ? 說明:#1樣品RG11失效位置呈現無Sn潤濕狀態或退潤濕
2022-11-21 11:05:12556

芯片底部焊接不良失效分析

No.1 案例背景 當芯片底部出現焊接不良的問題時,我們可以怎么進行失效分析呢? 本篇案例運用X-ray檢測——斷面檢測——焊錫高度檢測——SEM檢測的方法,推斷出芯片底部出現焊接不良的失效原因
2023-02-14 15:57:421158

PCB失效分析技術總結

程中出現了大量的失效問題。 對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術,來使得PCB在制造的時候質量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結了十大失效分析技術,供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749

講一下失效分析中最常用的輔助實驗手段:亮點分析(EMMI)

EMMI:Emission microscopy 。與SEM,FIB,EB等一起作為最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310

實例分析 | 焊點開裂失效原因分析

本文以PCBA掉件缺陷的具體案例為例,通過對掉件區域的外部目檢、制樣鏡檢、SEM&;EDS等手段,尋找出引起器件脫落的具體原因,幫助客戶進行工藝改進,減少不必要的成本耗損。
2022-12-30 14:14:091845

PCB失效分析技術概述

 那么就要用到一些常用的失效分析技術。介于PCB的結構特點與失效的主要模式,其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術,一旦使用了這兩種技術,樣品就破壞了,且無法恢復;另外由于制樣的要求,可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05115

LED燈帶失效分析

1、案例背景 LED燈帶在使用一段時間后出現不良失效,初步判斷失效原因為銅腐蝕。據此情況,對失效樣品進行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段,明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07188

USB脫落失效分析

的焊錫空洞。 2)SEM表面特征分析 #位置3: 測試結果:剝離面有應力斷裂痕跡,PCB鎳層有裂紋。 ? #位置2: 測試結果:焊接面有較大的焊錫空洞,斷裂面有應力斷裂痕跡。 ? 3)EDS成分分析 ? 測試結果:剝離面主要成分為Sn、Ni, 未發現異常元素。 4)切片斷面分析 #PCB側脫落點切片斷面
2023-12-18 09:56:12155

淺談失效分析失效分析流程

▼關注公眾號:工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產業鏈,復雜的產業鏈中任意一環出現問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應用都會面臨各種失效風險,筆者平時也會參與到失效分析中,這一期就對失效
2023-12-20 08:41:04530

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